β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法

（19）中华人民共和国国家知识产权局

	（12）发明专利申请
		（10）申请公布号 CN102980840A（43）申请公布日 2013.03.20

（21）申请号 CN201210430372.9

（22）申请日 2012.11.02

（71）申请人青岛佳明测控科技股份有限公司

地址 266000 山东省青岛市市北区福州北路169-919

（72）发明人高心岗;郭松明;郝纯青;赵军峰;程丽华

（74）专利代理机构

代理人

（51）Int.CI

权利要求说明书说明书幅图

（54）发明名称

β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法

（57）摘要

一种β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法，利用了化学蚀刻控制膜片的等效质量，工艺要求低，一般等级的化学实验室即可进行标准质量膜片的制作，制作所需药品和材料成本低，获取方便，可在测量需要时随时制作，无须从国外进口，保证了测量工作的工作效率，膜片固定稳固，避免了由于膜片粘接不稳固产生形变，造成测量结果不准确的问题，膜片厚度不为固定值，等效质量可在要求范围内，适用范围广。

法律状态

法律状态公告日	法律状态信息	法律状态
2013-03-20	公开	公开
2013-07-31	实质审查的生效	实质审查的生效
2016-04-20	专利权的视为放弃	专利权的视为放弃