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无源核子料位计的背景辐射修正测量方法及其系统[发明专利]

专利名称：无源核子料位计的背景辐射修正测量方法及其系统专利类型：发明专利

发明人：胡桂标

申请号：CN201410650282.X

申请日：20141108

公开号：CN104390677A

公开日：

20150304

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明涉及物料料位测量领域，公开了一种无源核子料位计的背景辐射修正测量方法及其系统，在预设时间段T1内，先测得物料的进入与输出过程具备循环周期特性的容器内部的物料辐射与容器内部及外部的背景辐射之和；再提取所述物料辐射和背景辐射之和中的最小值或与该最小值相关的值作为背景辐射特征值；然后根据设定好的数据模型对所述背景辐射特征值进行分析和运算获得背景辐射修正数据；最后根据背景辐射修正数据对无源核子料位计的测量进行修正。与现有技术相比，本发明提升了料位测量的准确性，降低了背景测量的成本。

申请人：胡桂标

地址：215000 江苏省无锡市惠山区堰桥街道长安西街29号

国籍：CN

本文发布于:2024-09-20 12:26:09，感谢您对本站的认可！

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标签：辐射背景物料

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