一、 概述
本文着重介绍单节锂电池保护IC注:单颗IC,而非保护板)的测试方法。比较下,测试单颗保护IC的优点是可以准确的测出IC的电气特性,且因外部线路已固定,可以直接判断IC的好坏;它的缺点则是测试速度较慢,另因IC在上板前的抗静电能力较弱,故对测试人员和测试环境的ESD防护要求也较高。
DW01D是富满电子半导体股份有限公司所研发出的单节锂电池保护IC之一,它具有过充保护、 过放保护和过流保护等功能。本文以此为例,介绍单节锂电池保护IC的测试方法。
1. 过充保护及过充释放功能:
在电池电压高于过充保护电压(VOCP),且电池电压高于过充保护电压(VOCR)的持续时 间超过过充保护延迟时间(TOC)时,保护IC会进入过充保护状态,其OC pin相对于CS的电平会由高到低,控制充电的MOSF(M2)管由导通到断开;当电池电压通过自放电 低于过充释放电压(VOCR)时,过充保护模式释放,M2导通。测试时,用标准信号源类 比电池,以数字多用表观察OC pin的电平变化。