专利名称：基于扩展局部二值模式的纺织丝饼成型不良缺陷检测方法 专利类型：发明专利
发明人：屈磊，尚宏伟，刘伟，吴军，苗永春，邹恒东，丁鹏，苏晨
申请号：CN202210080786.7
申请日：20220124
公开号：CN114511527A
公开日：
20220517
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明涉及一种基于扩展局部二值模式的纺织丝饼成型不良缺陷检测方法，包括：获取丝饼图像，图像降采样；图像分割和图像裁剪；仿射变换；获取数据集；通过扩展的LBP算法计算出训练集中各个图像的纹理特征向量；生成XML文件；计算出测试集中各个图像的纹理特征向量，SVM支持向量机对测试集正样本、负样本中每张图像的标签进行预测，并计算出预测准确率；对待检测的丝饼图像进行滑块预测；根据滑块预测的标签输出判断结果。本发明通过图像分割将最终的背景干扰去除，使得处理后的图像不再含有大量的干扰，解决了从停留在实验室的研究与验证阶段到能够直接使用到工业生产线中，本发明对纺织丝饼成型不良缺陷检测准确率高、耗时短。 申请人：安徽大学
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国籍：CN
豫公网安备41160202000603
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