(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201911273149.6
(22)申请日 2019.12.12
(71)申请人 北京格润海泰科技有限公司
地址 100102 北京市朝阳区利泽东街5号院
1号楼3层A306
(72)发明人 司磊磊 王慧霞
(74)专利代理机构 北京和信华成知识产权代理
事务所(普通合伙) 11390
代理人 席卷
(51)Int.Cl.
G01R 31/00(2006.01)
G01R 1/20(2006.01)
(54)发明名称
(57)摘要
本发明实施例公开了一种射频组件的自动
化测试系统和方法，包括设备集成模块、测试方
案创建模块、测试执行模块和测试结果反馈模
化测试系统，创建标准比对值作为结果判断校
准；设置被测射频组件的工作环境；主控计算机
测试命令；主控计算机从多个标准测试仪器中获
取测试数据并修正数据误差后储存生成测试报
告；控制开关矩阵的通断状态，自动切换下一个
待测射频组件至对应的测试通道；本方案整个测
试过程可以实现无人值守，
待测射频组件、测试仪器和测试逻辑会按预设条件灵活切换，极大提
高测试效率和可靠性。权利要求书2页 说明书6页 附图2页CN 110927502 A 2020.03.27
C N 110927502
A
1.一种射频组件的自动化测试系统，其特征在于，包括：
设备集成模块(1)，包括射频开关矩阵(101)和测试设备管理单元(102)，用于管理多个测试仪器并获取每个所述测试仪器的测试数据流；
测试方案创建模块(2)，用于将多个所述测试仪器的测试逻辑关系有序组成一套测试流程；
测试执行模块(3)，用于将待测射频组件执行自动化测试，并且实时显示正在测试的射频组件的数据信息和曲线信息；
测试结果反馈模块(4)，用于显示测试结果并保存测试过程的采样值和工程值。
2.根据权利要求1所述的一种射频组件的自动化测试系统，其特征在于：所述射频开关矩阵(101)包含若干个相互独立的测试通道，所述射频开关矩阵(101)设置每个所述测试通道的程控状态参数以满足对应的所述待测射频组件的测试条件，根据每个待测射频组件的测试要求指定对应独立的测试通道，建立所述待测射频组件与对应的测试通道的一一对应关系。
3.根据权利要求2所述的一种射频组件的自动化测试系统，其特征在于：所述射频开关矩阵(101)根据每个所述待测射频信号的测试条件自动切换到对应所述测试仪器进行测试，并且所述射频开关矩阵(101)将多个所述测试仪器按序进行自动化的系统测试。
4.根据权利要求1所述的一种射频组件的自动化测试系统，其特征在于：所述测试设备管理单元(102)用于获取不同射频组件的测试数据流，所述测试设备管理单元(102)包括主控计算机(1021)、多个测试仪器(1022)以及多个测量模块(1023)，所述主控计算机(1021)通过LAN或者GPIB设置各个所述测试仪器的测量参数且选择相应的工作状态，选择匹配与每个所述待测射频组件测试相关的多个测试仪器。
5.根据权利要求4所述的一种射频组件的自动化测试系统，其特征在于：所述主控计算机(1021)控制所述待测射频组件产生微波激励信号，所述待测射频组件的电源变化影响所述待测射频组件产生的微波激励信号，所述主控计算机(1021)通过LAN控制程控电源或手动设置电源以产生被测组件所需的不同形式的电源，所述电源按规定时序对被测组件进行加电。
6.根据权利要求4所述的一种射频组件的自动化测试系统，其特征在于，所述主控计算机(1021)通过串口控制所述开关矩阵的通断状态当所述待测射频组件满足测试条件时，所述主控计算机(1021)控制所述射频开关矩阵(101)自动切换不同的测试仪器(1022)对相应的待测射频组件进行测试。
7.一种根据权利要求1-6任一项所述的射频组件的自动化测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤100、将每个待测射频组件的标准数据源导入自动化测试系统，创建标准比对值作为结果判断校准；
步骤200、设置被测射频组件的工作环境，对每个待测射频组件匹配独立不重复的测试通道，同时主控计算机通过LAN或者GPIB设置各个标准测试仪器的测量参数且选择相应的工作状态选定每个待测射频组件对应的测试仪器；
步骤300、主控计算机调制电源生成不同微波激励信号，多种不同微波激励信号按规定时序对被测射频组件进行加电，所述主控计算机通过串口与所述被测射频组件的测量仪器
通信下达测试命令；
步骤400、主控计算机从多个标准测试仪器中获取测试数据并修正数据误差后储存生成测试报告；
步骤500、控制开关矩阵的通断状态，自动切换下一个待测射频组件至对应的测试通道。
8.根据权利要求1所述的一种射频组件的自动化测试方法，其特征在于，在步骤400中，还包括测试软件对采集的测试数据进行处理，并且将检测流数据值与标准值进行一一比对，判断所述待测数据与所述标准数据是否一致指出测试指标信息。
9.根据权利要求1所述的一种射频组件的自动化测试方法，其特征在于，在步骤400中，还包括对同一个待测射频组件多次测试，反馈产品电气性能变化趋势，生成所述待测射频组件的测试报告，并将所述测试数据与标准比对值对应比较，获取对比结果并依此生成用户自定义的测试报告，在报告中会体现待测
样品是否合格以及多次测试的电气性能变化趋势。
10.根据权利要求1所述的一种射频组件的自动化测试方法，其特征在于，在步骤300中，为每个测试仪器编写对应的测试逻辑单元，并按照测试流程将所述测试逻辑单元有序组合成为测试方案，所述待测射频组件在测试过程中会根据测试逻辑单元的组合顺序自动切换对应的测试仪器。
一种射频组件的自动化测试系统和方法
技术领域
[0001]本发明实施例涉及射频组件技术领域，具体涉及一种射频组件的自动化测试系统和方法。
背景技术
[0002]对于某些特殊行业，如国防和航空航天，射频组件测试是一项关键的业务功能，对于确保重要资产的质量和可靠性至关重要。自动化测试系统的优势在于减少时间进度和预算风险，借助基于高性能硬件和高效软件的可定制现成平台，按时、按预算交付测试程序集。减少维护和支持成本，主动管理技术插入和生命周期管理策略，减轻维护传统和过时设备的负担。满足苛刻的技术要求，利用行业领先的测量精度，处理性能、时序和同步功能来满足最先进应用的需求。
[0003]现有的自动测试软件扩展性差，软件的测试逻辑相对固定；硬件依赖性强，测试设备必须与软件配套，增加了整个测试系统的成本开销；开发过程软件工程师与微波工程师必不可少，增加人力成本等弊端。
发明内容
[0004]为此，本发明实施例提供一种射频组件的自动化测试系统和方法，整个测试过程可以实现无人值守，待测射频组件、测试仪器和测试逻辑会按预设条件灵活切换，极大提高测试效率和可靠性，以解决现有技术中人工看守测试运行，增加人力成本的问题。[0005]为了实现上述目的，本发明的实施方式提供如下技术方案：一种射频组件的自动化测试系统，包括：
[0006]设备集成模块，包括射频开关矩阵和测试设备管理单元，用于管理多个测试仪器并获取每个所述测试仪器的测试数据流；
[0007]测试方案创建模块，用于将多个所述测试仪器的测试逻辑关系有序组成一套测试流程；
[0008]测试执行模块，用于将待测射频组件执行自动化测试，并且实时显示正在测试的射频组件的数据信息和曲线信息；
[0009]测试结果反馈模块，用于显示测试结果并保存测试过程的采样值和工程值。[0010]作为本发明的
一种优选方案，所述射频开关矩阵包含若干个相互独立的测试通道，所述射频开关矩阵设置每个所述测试通道的程控状态参数以满足对应的所述待测射频组件的测试条件，根据每个待测射频组件的测试要求指定对应独立的测试通道，建立所述待测射频组件与对应的测试通道的一一对应关系。
[0011]作为本发明的一种优选方案，所述射频开关矩阵根据每个所述待测射频信号的测试条件自动切换到对应所述测试仪器进行测试，并且所述射频开关矩阵将多个所述测试仪器按序进行自动化的系统测试。
[0012]作为本发明的一种优选方案，所述测试设备管理单元用于获取不同射频组件的测
试数据流，所述测试设备管理单元包括主控计算机、多个测试仪器以及多个测量模块，所述主控计算机通过LAN或者GPIB设置各个所述测试仪器的测量参数且选择相应的工作状态，选择匹配与每个所述待测射频组件测试相关的多个测试仪器。
[0013]作为本发明的一种优选方案，所述主控计算机控制所述待测射频组件产生微波激励信号，所述待测射频组件的电源变化影响所述待测射频组件产生的微波激励信号，所述主控计算机通过LAN控制程控电源或手动设置电源以产生被测组件所需的不同形式的电源，所述电源按规定时序对被测组件进行加电。
[0014]作为本发明的一种优选方案，所述主控计算机通过串口控制所述开关矩阵的通断状态当所述待测射频组件满足测试条件时，所述主控计算机控制所述射频开关矩阵自动切换不同的测试仪器对相应的待测射频组件进行测试。
[0015]另外，本发明还提供了一种射频组件的自动化测试方法，包括如下步骤：[0016]步骤100、将每个待测射频组件的标准数据源导入自动化测试系统，创建标准比对值作为结果判断校准；
[0017]步骤200、设置被测射频组件的工作环境，对每个待测射频组件匹配独立不重复的测试通道，同时主控计算机通过LAN或者GPIB设置各个标准测试仪器的测量参数且选择相应的工作状态选定每个待测射频组件对应的测试仪器；
[0018]步骤300、主控计算机调制电源生成不同微波激励信号，多种不同微波激励信号按规定时序对被测射频组件进行加电，所述主控计算机通过串口与所述被测射频组件的测量仪器通信下达测试命令；
[0019]步骤400、主控计算机从多个标准测试仪器中获取测试数据并修正数据误差后储存生成测试报告；
[0020]步骤500、控制开关矩阵的通断状态，自动切换下一个待测射频组件至对应的测试通道。
[0021]作为本发明的一种优选方案，在步骤400中，还包括测试软件对采集的测试数据进行处理，并且将检测流数据值与标准值进行一一比对，判断所述待测数据与所述标准数据是否一致指出测试指标信息。
[0022]作为本发明的一种优选方案，在步骤400中，还包括对同一个待测射频组件多次测试，反馈产品电气性能变化趋势，生成所述待测射频组件的测试报告，并将所述测试数据与标准比对值对应比较，获取对比结果并依此生成用户自定义的测试报告，在报告中会体现待测样品是否合格以及多次测试的电气性能变化趋势。
[0023]作为本发明的一种优选方案，在步骤300中，为每个测试仪器编写对应的测试逻辑单元，并按照测试流程将所述测试逻辑单元有序组合成为测试方案，所述待测射频组件在测试过程中会根据测试逻辑单元的组合顺序自动切换对应的测试仪器。
[0024]本发明的实施方式具有如下优点：
[0025]本发明将每个待测射频组件一一对应匹配各自的测试通道，两个待测射频组件的测试通道不重合，同时将每个到侧射频组件根据自身属性选择相应的测试仪器，从而在选定测试通道后，即可选定与待测射频组件对应的待测射频组件以及测试仪器，整个测试过程可以实现无人值守，待测射频组件、测试仪器和测试逻辑会按预设条件灵活切换，极大提高测试效率和可靠性。
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