专利类型：发明专利
发明人：T·韦尔梅朗,T·博斯东,L·P·范比耶桑,F·卢阿热,P·J·M·博埃特斯
申请号：CN03150199.0
申请日：20030721
公开号：CN1482469A
公开日：
20040317
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：用于分析反射测量信息的分析系统(IS)具有用来进行分析的模块(M1，M2)，其中每个模块包括生成模块部分(G1，G2)、测试模块部分(T1，T2)和调试模块部分(D1，D2)，第一模块(M1)作为下一模块(M2)的生成系统部分，下一模块(M2)作为第一模块(M1)的测试系统部分和调试系统部分，以引入更高的智能(例如，人工智能)。这样的分析系统(IS)具有双层生成－测试－调试结构或者GTD结构，在模块级别有两个这样的结构，在系统级别有一个。可以通过引入第三模块(M3)，使得在模块级别有三个GTD结构，在系统级别有两个GTD结构，从而使这个提高的智能获得(进一步)提高。初步分析、中间分析以及精确分析分别是基于脉冲、能量和仿真，来增加提高的智能的效率。 申请人：阿尔卡特公司
地址：法国巴黎
国籍：FR
代理机构：北京市中咨律师事务所
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