(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910134609.0
(22)申请日 2019.02.23
(71)申请人 浙江大学
地址 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘
路866号
(72)发明人 赵毅 高世凡 陈冰
(74)专利代理机构 杭州求是专利事务所有限公
司 33200
代理人 刘静 邱启旺
(51)Int.Cl.
G11C 13/00(2006.01)
G11C 29/42(2006.01)
(54)发明名称
(57)摘要
本发明公开了一种阻式存储器的误码率测
试方法。存储器的商业化应用需要保证极低的误
码率，这一测试需要重复大量的擦写过程并进行
分析，从而需要大量的时间，因此对此过程进行
加速是有意义的。本发明利用任意波形发生器调
在示波器内点积后能够生成一个只包含读取信
息的特定波形。这一特定波形允许在调节示波器
采样率后滤去读取信息以外的波形，将信息的冗
余度降到理论最低值，从而增大了误码率测试的
通量。权利要求书1页 说明书3页 附图1页CN 109859788 A 2019.06.07
C N 109859788
A
权 利 要 求 书1/1页CN 109859788 A
1.一种阻式存储器的误码率测试方法，其特征在于，所述方法包括：
在测试系统中；
所述测试系统的任意波形发生器输出为两个信号，分别为存写信号及选取信号；
所述测试系统的示波器输入为两个信号，分别为所述存写信号经过阻式存储器的激发电流及所述选取信号；
所述示波器的数学通道的数据为所述激发电流和所述选取信号的点积结果；
在计算机中，接收点积结果，并进行误码率分析给出误码率。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试系统是基于探针台、晶圆和无源探针的，并且不使用独立的有源放大器或无源放大器。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存写信号的存写序列单元分为初始化阶段、写入阶段、等待阶段以及读取阶段； 所述误码率的对象是所述写入阶段的，所述写入阶段的电压幅值可以是擦写电压幅值，或者读取电压幅值，也可以是任意的波形。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述读取阶段的时间长度接近所述存写序列长度的一半。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述选取信号的选取序列单元分为高电平阶段和低电平阶段。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述高电平阶段的时间位置是所述读取阶段的时间位置的子集。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获得所述点积结果的计算操作是在所述示波器内部的高速数学运算单元内完成的。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述示波器的采样率不大于50倍如下数值，即所述存写信号的所述读取阶段的两倍的倒数；且如果本次采样位于所述读取阶段的时间位置，则下一次采样不能进入下一所述存写序列单元的读取阶段的时间位置。
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算机中的误码率分析使用并行计算架构。
10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述误码率分析使用分类器算法。
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