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放射性测量领域中用于缩短统计学测量时间的方法[发明专利]

专利名称：放射性测量领域中用于缩短统计学测量时间的方法专利类型：发明专利

发明人：博多·克雷布斯，英戈·克尔恩

申请号：CN01817109.5

申请日：20011004

公开号：CN1468378A

公开日：

20040114

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明涉及在测量放射性时的检测方法，以检测何时超过一预定阈值，包括下列各步：a)为污染测量设备计算总的测量间隔，b)利用上述测量设备进行若干独立测量，其测量间隔短于总的测量间隔，c)在每次独立测量后，在迄今测得值的基础上计算下列事实的概率，即在某一时间间隔内的一或多次独立测量中所有各单独测试的平均值将超过阈值，该时间间隔至少是到达总的测试间隔所剩下的那么长的时间，d)在所计算的概率小于或等于表明在剩余测量间隔内阈值将被超过的预定必然性的情况下，产生一信号，按照该信号阈值未被超过且方法结束，否则继续进行独立测试，直到或者总的测量间隔已达到或超过，或者直到单独测试所计算的概率小于或等于该预定的阈值概率，此时方法结束。

申请人：拉多斯技术有限公司

地址：德国汉堡

国籍：DE

代理机构：中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：李德山

本文发布于:2024-09-20 12:37:01，感谢您对本站的认可！

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