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一种采用激光传感器测量同轴度的测量装置和方法[发明专利]

专利名称：一种采用激光传感器测量同轴度的测量装置和方法专利类型：发明专利

发明人：张英杰，许丙超，代愽超，陈波，张宁

申请号：CN201810948384.8

申请日：20180820

公开号：CN108827192A

公开日：

20181116

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明公开了一种采用激光传感器测量同轴度的测量装置和方法，属于机器视觉测量领域，本发明的目的是解决实际生产中测量双孔工件同轴度的问题。其特点是搭建本发明提出的测量装置，首先通过对标准工件测量调整测量装置使激光传感器位于合适的测量位置，然后采集两个内孔表面的点云，通过最小二乘法分别拟合出标准工件两孔的理想轴线，再由标准工件共轴线的特性校准两侧激光传感器测量坐标系的空间位置关系。测量工件时，将采集到的两侧孔有效点云的坐标根据上述坐标系校准关系转至同一坐标系下，然后分别拟合出两孔的理想轴线与公共基准轴线，从而计算出工件的同轴度误差。

申请人：西安交通大学

地址：710049 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号

国籍：CN

代理机构：西安通大专利代理有限责任公司

代理人：高博

本文发布于:2024-09-20 14:50:24，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.17tex.com/xueshu/780101.html

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