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具有差动检测方案的低电压可编程eFuse[发明专利]

专利名称：具有差动检测方案的低电压可编程eFuse 专利类型：发明专利

发明人：M·R·乌埃利特,L·维瑟尔

申请号：CN200580029363.7

申请日：20050901

公开号：CN101010762A

公开日：

20070801

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：公开了用于集成电路的、合并了差动检测方案的低电压可编程电子熔丝结构。编程步骤在大约1.5倍Vdd下进行，而检测操作在Vdd下进行，这限制了由于检测操作引起的电子熔丝(xF(j))的电阻变化。检测所需的电流幅值被减小，两个因素中的另一个是由于基准熔丝(xF)和被编程的熔丝(xF(j))串联耦合，而在编程期间仅被编程熔丝(xF(j))限制编程电流。在检测操作期间，对于完好熔丝的情况，选通晶体管(mNR)模拟熔丝选择晶体管(g(j))两端的电压降。另外，还公开了用于对电子熔丝的电阻进行表征的电路和方法。

申请人：国际商业机器公司

地址：美国纽约

国籍：US

代理机构：北京市中咨律师事务所

本文发布于:2024-09-20 14:20:30，感谢您对本站的认可！

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