一种射频功放芯片的OIP3测试方法[发明专利]

专利名称:一种射频功放芯片的OIP3测试方法专利类型:发明专利
发明人:胡信伟
申请号:CN201911158620.7
申请日:20191122
公开号:CN110868261A
公开日:
20200306
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明公开了一种射频功放芯片的OIP3测试方法,所述测试方法采用矢量信号源作为测试信号源,输入到射频功放芯片中用于测试OIP3的数值。该方法仅用一个矢量信号源,降低测试成本、减小体积并降低系统复杂度,实测之前先进行校准操作从而可以彻底规避掉由于信号源本身的非线性带来的误差影响,使测量结果更精确。
申请人:南京派格测控科技有限公司
地址:210000 江苏省南京市江北新区研创园团结路99号孵鹰大厦1272室
国籍:CN
代理机构:江苏圣典律师事务所
代理人:贺翔

本文发布于:2024-09-20 13:42:41,感谢您对本站的认可!

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