一种PCIE链路设计用等概率DOE极限仿真方法、程序及介质[发明专利]

专利名称:一种PCIE链路设计用等概率DOE极限仿真方法、程序及介质
专利类型:发明专利
发明人:李楠
申请号:CN202010846099.2
申请日:20200820
公开号:CN112069751A
公开日:
20201211
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明公开一种PCIE链路设计用等概率DOE极限仿真方法、程序及介质。PCIE链路设计用等概率DOE极限仿真方法包括创建PCIE仿真链路;利用因素组合寻最优的TXLE因子;将长度因素作为常量,非长度因素作为变量生成第一DOEcase;将所述长度因素作为变量导入任一所述第一DOEcase生成第二DOEcase;所述PCIE仿真链路配置最优的所述TXLE因子,所述PCIE仿真链路仿真所有的所述第二DOEcase;统计同一长度因素参数对应的失败的所述第二DOEcase的数量;根据失败的所述第二DOEcase的数量判断该长度是否为极限长度。PCIE链路设计用等概率DOE极限仿真程序实现所述方法。本发明能够有效的保证形成的仿真结果是等概率的,根据仿真结果统计的同一长度因素参数对应的失败的所述第二DOEcase的数量有意义。
申请人:苏州浪潮智能科技有限公司
地址:215100 江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
国籍:CN
代理机构:济南诚智商标专利事务所有限公司
代理人:朱晓熹

本文发布于:2024-09-20 12:09:12,感谢您对本站的认可!

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标签:长度   因素   链路
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