专利名称：全动态范围NS SAR ADC中的二阶失配误差整形技术 专利类型：发明专利
发明人：吴建辉，张力振，冯金宣，魏晓彤，李红
申请号：CN202010190251.6
申请日：20200318
公开号：CN111371456A
公开日：
20200703
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明公开了一种抑制噪声整形(Noise‑Shaping，NS)逐次逼近寄存器型(Successive Approximation Register，SAR)模数转换器(Analogue‑to‑Digital Converters，ADC)中电容式数模转换器(Capacitive Digital‑to‑Analogue Converter，CDAC)失配误差的二阶整形技术。通过将前两个周期产生的失配误差反馈到当前周期，二阶失配误差整形得以实现。此外，在模拟域中，通过反转最高有效位CDAC来消除最低有效位CDAC反馈的值，从而消除动态范围的损耗。该技术可以直接嵌入到SAR ADC的工作环路中，仅需增加一个比较器的输入对和一个误差采样电容。仿真结果表明，采用该整形技术后，10‑bit NS SAR ADC的信噪失真比(signal to noise and distortion ratio，SNDR)由75.7提高到84.8dB，无杂散动态范围(spurious‑free dynamic range，SFDR)由78.2提高到107.3dB。
申请人：东南大学
地址：210096 江苏省南京市四牌楼2号
国籍：CN
代理机构：南京经纬专利商标代理有限公司
代理人：刘莎
豫公网安备41160202000603
站长QQ:729038198
关于我们
投诉建议