首页 > 学术百科

一种轻烧镁、镁石中MgO、SiO含量的X射线荧光光谱分析法[发明专利]

专利名称：一种轻烧镁、镁石中MgO、SiO含量的X射线荧光光谱分析法

专利类型：发明专利

发明人：叶晓晴，吴子红，赵宁，肖师杰

申请号：CN202010660772.3

申请日：20200710

公开号：CN111855722A

公开日：

20201030

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明公开了一种轻烧镁、镁石中MgO、SiO含量的X射线荧光光谱分析法，具体包括以下步骤：1.建立标准曲线以及制备标准试样；2.确定分析试样粒度；3.将分析试样置于烘箱中干燥；4.称取1g分析试样于马弗炉灼烧；5.将灼烧后分析试样转移至盛有混合熔剂的铂金坩埚中，搅拌均匀，在表面覆盖混合熔剂，滴加脱模剂；6.然后将分析试样放入Claisse M4型熔样炉中进行熔融；本发明节约了分析时间；样品的分析结果满足相关国家化学分析标准中的精密度要求。

申请人：南京钢铁股份有限公司

地址：210035 江苏省南京市六合区卸甲甸

国籍：CN

代理机构：南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：任立

本文发布于:2024-09-20 14:36:51，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.17tex.com/xueshu/753281.html

上一篇：一种2.9微米中红外锁模激光器[发明专利]

下一篇：中药复方红苓肝宝对酒精致小鼠骨丢失的预防作用