I C S31-030
L90
中华人民共和国国家标准河北御捷马
G B/T5594.4 2015
代替G B/T5594.4 1985
电子元器件结构陶瓷材料
性能测试方法
正切值测试方法
T e s tm e t h o d s f o r p r o p e r t i e s o f s t r u c t u r e c e r a m i c u s e d i n e l e c t r o n i c
c o m p o n e n t a n d
一周立波秀2011d
e v i c e P a r t4:T e s tm e t h o d
f o r p e r m i t t i v i t y a n d
d i
e l e c t r i c l o s s a n g l e t a n g e n t v a l u e
2015-05-15发布2016-01-01实施
前言
G B/T5594‘电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法“分为以下部分:
气密性测试方法(G B/T5594.1);
杨氏弹性模量泊松比测试方法(G B/T5594.2);
第3部分：平均线膨胀系数测试方法(G B/T5594.3);
第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法(G B/T5594.4);
体积电阻率测试方法(G B/T5594.5);
第6部分：化学稳定性测试方法(G B/T5594.6);
陶瓷基片第7部分：透液性测定方法(G B/T5594.7);
第8部分：显微结构测定方法(G B/T5594.8);
电击穿强度测试方法(G B/T5594.9)㊂
本部分为G B/T5594的第4部分㊂
本部分按照G B/T1.1 2009给出的规则起草㊂
本部分代替G B/T5594.4 1985‘电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介电常数和介质损耗角正切值的测试方法“㊂
本部分与G B/T5594.4 1985相比，主要有下列变化:
标准名称改为: 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法 ;
增加了4.1介电常数测试和计算;
删除了原标准测试夹具类型示意图中:a.尖形电极;b.尖对平板形电极㊂
请注意本文件的某些内容可能涉及专利㊂本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任㊂ 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出㊂
本部分由中国电子技术标准化研究院归口㊂
本部分起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所㊁中国电子技术标准化研究院㊁北京七星飞行电子有限公司㊂
本部分主要起草人：曾桂生㊁李晓英㊁薛晓梅㊂
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
G B/T5594.4 1985㊂
电子元器件结构陶瓷材料
性能测试方法
第4部分：介电常数和介质损耗角
正切值测试方法
1范围
G B/T5594的本部分规定了装置零件㊁真空电子器件㊁电阻基体㊁半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法㊂
拜新同
本部分适用于装置零件㊁真空电子器件㊁电阻基体㊁半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1MH z，温度从室温至500ħ条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试㊂
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的㊂凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件㊂凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件㊂
G B/T5593 2015电子元器件结构陶瓷材料
G B/T9530 1988电子陶瓷名词术语
3术语和定义
G B/T9530 1988界定的以及下列术语和定义适用于本文件㊂
3.1
介电常数p e r m i t t i v i t y
ε
咸宁学院学报反应电介质介电性质的一个主要参数，由电介质构成的电容器的电容量与同样几何尺寸真空电容器电容量的比值称为介电常数ε(无量纲)㊂
3.2
介质损耗角正切值d i e l e c t r i c l o s s a n g l e t a n g e n t v a l u e
t a nδ
电介质在交变电场作用下有功功率与无功功率的比值，是表征介质损耗的一个无量纲物理量㊂
4测试原理
灭蚁灵4.1介质损耗的表示含义
陶瓷材料的介质损耗表示材料上通过交流电场时，产生电能损失的一种性质㊂也可以说材料接受交流电场影响时，因极化或吸收现象的产生过程，所产生的一种电能损失㊂它有两种基本性质，即介电常数ε和介质损耗角正切值t a nδ㊂
豫公网安备41160202000603
站长QQ:729038198
关于我们
投诉建议