tem测试主要测什么（看完这篇你就知道了！）
透射电镜即透射电⼦显微镜（英⽂简称TEM）是使⽤最为⼴泛的⼀类电镜。TEM可以看到在光学显微镜下⽆法看清的⼩于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提⾼显微镜的分辨率。 ⼀、想了解TEM测试主要测什么？那我们先要了解⼀下TEM的⼯作原理。
⼯作原理：利⽤电⼦射线（或称电⼦束也称电⼦波）穿透样品，⽽后经多级电⼦放⼤后成像于荧光屏。 美宏互动简单的说，
拿SEM做对⽐：扫描电镜观察的是样品表⾯的形态。云雨二十四式
TEM：透射电镜观察的是样品内部精细结构形态的。
主要优点：分辨率⾼，可⽤来观察组织和细胞内部的超微结构以及微⽣物和⽣物⼤分⼦的全貌。
根据加速电压的⼤⼩分为以下3种：
1）⼀般TEM。最常⽤的是100KV电镜。这种电镜分辨率⾼（点0.3nm，晶格0.14nm），但穿透本领⼩，观察样品必须很薄，约为30～100nm，如细胞和组织的超薄切⽚、复型膜和负染样品等。相当普及。我校有这样的设备。
2）⾼压TEM。⽬前常⽤的是200KV电镜。这种电镜对样品的穿透本领约为100KV电镜的1.6倍，可以在观察较厚样品时获得很好的分辨本领，从⽽可以对细胞结构进⾏三维观察。
3）超⾼压TEM。⽬前已有500KV、1000KV和3000KV的超⾼压TEM。这类电镜具有穿透本领强、辐射损伤⼩、可以配备环境样品室及进⾏各种动态观察等优点，分辨率也已达到或超过100KV电镜的⽔平。在超⾼压电镜上附加充⽓样品室，使⼈们可以观察活细胞内的超微结构动态变化。
在太空中理家⼆、 TEM测试主要测什么？
铄思百检测TEM可检测的项⽬有：
可测试TEM、磁性TEM+HRTEM、SAED、EDS点扫/微区、EELS点或线或⾯扫、磁性STEM mapping、3D-TEM、STEM(HAADF)
三、在铄思百检测做TEM测试对样品有以下⼏点要求:
(1)粉末、液体样品均可，固体样品太⼤了的需要离⼦减薄、双喷、FIB、切⽚制样 (1)粉末、液体样品均可，固体样品太⼤了的需要离⼦减薄、双喷、FIB、切⽚制样
⑵样品必须很薄，使电⼦束能够穿透，⼀般厚度为100~200nm左右;
⑶样品需置于直径为2~3mm的铜制载⽹上，⽹上附有⽀持膜;
(4)样品应有⾜够的强度和稳定性，在电⼦线照射下不⾄于损坏或发⽣变化;
(5)样品及其周围应⾮常清洁，以免污染。
四、⾼分辨透射电镜（TEM)常见问题解答
① TEM制样⽅法分类？
粉末样品：直接⽤分散剂超声分散滴在载⽹上进⾏观察；或进⾏树脂包埋，超薄切⽚后，转移铜⽹上进⾏制样；
型技术：常⽤复型材料为⾮晶碳膜和各种塑料薄膜，对样品没有损坏；
化学减薄/双喷减薄：对于⼤部分⾦属样品，可以进⾏化学减薄或双喷减薄；
离⼦减薄：对于陶瓷或⾦属合⾦合物，⽆法电解腐蚀，只能⽤离⼦减薄；辟谣百科
聚焦离⼦束FIB：与电解双喷和离⼦减薄相⽐，可通过SEM在线观察下进⾏定点制样，获得更⾼质量的TEM样品；
②碳管如何分散做TEM?
看碳管最好⽤微栅，由于碳膜与碳管反差太弱，⽤碳膜观察会很吃⼒。尤其是单壁管。另外注意不要将碳膜伸进去捞，(这样会两⾯沾上样品，聚不好焦)样品可以滴、涂、抹、沾在有碳膜的⾯上，表⾯张⼒过⼤容易使碳膜撑破。
③透射电镜的⾦属样品怎么做?
包括⾦属切⽚、砂纸打磨、冲圆⽚、凹坑研磨、双喷电解和离⼦减薄、FIB制样(块体样品的制样神器)。北约自主招生试题
④ TEM和STEM图像的差别?
TEM成像：照明平⾏束、成像相⼲性、结果同时性、衬度随样品厚度和⽋焦量发⽣反转。由于所收集到散射界⾯上更多的透过电⼦，像的衬度更好!
STEM成像：照明会聚束、成像⾮相⼲、结果累加性，在完全⾮相⼲接收情况下像的衬度不随样品厚度和⽋焦量反转，可对更厚⼀点的样品成像。
⑤标尺⼤⼩怎么写?
标尺只能⽤1、2、5这⼏个数⽐如1、2、5、10、20、50、100、200、500，没有⽤其他的。马克思主义指导思想
⑥什么是明场和暗场？
通常，我们说的明场和暗场特指TEM模式下的明场像和STEM模式下的HADDF像，这两种像⽤的最多。TEM模式下，取决于物镜光阑使⽤的成像电⼦束是透射束还是衍射束，以及相对于中⼼的位置情况，简单理解⼀下，场是明亮的叫做明场，即样品为⿊背景为⽩。⽽对于STEM模式下的HADDF像是由于接收到⾼⾓度的环形电⼦束成像所致，简单理解是对重原⼦元素敏感的暗场像，样品原⼦序数越⼤越亮，越⼩越⿊，背景为⿊。
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