电子设备抗强射频干扰门限确定方法研究

TESTING & MEASUREMENT

48SAFETY & EMC No.4 2020乌鞘岭隧道

引言

随着武器装备信息化技术的不断发展，现代战场的电磁环境变得愈来愈复杂，也越来越恶劣[1-4]。为了考核装备的电磁环境适应性，美、俄、英等国制定了高规格的EMC 考核标准，如美军标MIL-STD-464C《系统电磁环境效应要求》对装备面临的电磁环境进行了详细的定义。我军借鉴MIL-STD-464A，制定了GJB 1389A- 2005《系统电磁兼容性要求》，但由于欧美等国家对相关频段大功率放大器的禁运，对于标准中规定的某些高场强电磁环境（标准表2中规定舰船电磁环境平均值最大达2 620 V/m（2.7~3.6 GHz），峰值场强最大值为 27 460 V/m（2.7~3.6 GHz））[5]，实验室几乎无法模拟，从而无法直接考核电子装备在此电磁环境下的抗干扰性能和电磁安全裕度。由此可见，采用直接模拟规定的强电磁环境的方法进行电子设备抗干扰测试已经很难满足要求，基于现有的实验室条件，探索电子设备抗强射频干扰门限确定方法具有重要的现实意义。

领跑网吧本文从电磁环境影响电子设备的性能为出发点，通过建立低场强环境下电子设备性能与电磁环境的关系

式，再根据电子设备的性能要求门限反推计算出电子设备的抗电磁干扰门限，从而实现对高场强环境下电子设备EMC 性能的评估。

1 抗干扰限值确定方法

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电子设备的抗干扰门限和电磁敏感度门限实际上是相同的，两者只是描述方法不同。但由于电磁敏感性很难直接量化，测试人员往往根据试验现象去定性地描述。由于测试人员经验差异性，不同的测试人员可能做出不同的试验结果，得出不同的试验结论。如果设备的性能可以量化，并且该性能指标与电磁干扰（EMI）有一定的定量关系，就可根据设备的性能要求反向确定设备对该EMI 的门限。本文基于上述思路，提出了一种基于电子设备性能的抗干扰门限确定与量化方法。

假设电子设备性能指标的某个物理量为F ，如误比特率（BER）、信噪比（SNR）、响应电压或电流等，而该电子设备有n 个不同的电磁干扰路径，每个电磁干扰路径对物理量F 的影响因子为F n （E ，f ，t ）（E 为场强，f 为频率，t 为时间），且该影响因子F n （E ，f ，t ）可以

电子设备抗强射频干扰门限确定方法研究

Determination Method of Immunity Limit of Electronic Device to High RF Interference

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提出了一种电子设备抗强射频干扰门限的确定方法，并设计了电磁干扰路径中前/后门耦合的验证实验，建立了设备性能参量与电磁环境的关系式，进而由设备性能要求门限确定强射频电磁环境中电子设备的抗干扰门限，证明了该方法的有效性和正确性。降低了试验室电磁环境模拟的要求，可为 GJB 1389A-2005中电子设备敏感机理以及环境限值意义等的研究提供借鉴。关键词

抗干扰门限；强射频电磁环境；敏感性；电子设备Abstract

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This paper presents a method to determine the limit of electronic equipment against strong radio frequency interference, and designs the verification experiment of front / back coupling in EMI path, and then develop the relationship between the electromagnetic environment（EME） and certain physical quantity for performance of device. Thus we can obtain the anti-interference threshold of electronic equipment in strong RF EME by use of the performance limit of the device, which proves the effectiveness and correctness of the method. The requirements of electromagnetic environment simulation in laboratory are reduced, which can provide reference for the research of electronic equipment sensitive mechanism and environmental limit value in GJB 1389A-2005.

Keywords

anti-interference threshold; high intensity RF EME; sensitivity; electronic device

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