Agilent 7500系列ICP-MS
更简单、更快速、更准确
ICP-MS 提升到一个新水准
电控可调衰减器 evoa多功能性和灵活性
2
首选技术。当今的常规实验室要求比
ICP-OES更为灵敏，比石墨炉原子吸收
(GFAAS)更为快速的分析技术。ICP-MS
可满足上述两方面的需求，它具有更宽
的工作范围，并可同时测定能生成氢化
物的元素及痕量Hg，同时还具备半定量
及同位素比分析能力。ICP-MS又可作为
唐晓鹰
一种极为理想的多功能的检测器，与
谱和激光技术联用。
安捷伦新的7500系列具有完全自动化的
易于使用、灵活性、可靠性以及优秀的
设计，它提供了最高水平的分析性能。
池(ORS)技术，提供多种选择的进样附件、
最好的应用与维修服务支持，它正在引
领实验室进入ICP-MS时代。
安捷伦新的7500系列包括两种不同的型
号，可满足不同的应用需求和经费预算。
无论您的应用需求有什么变化，安捷伦
都将确保仪器的扩展功能与现场升级能
力，使您的投资得到报偿。
Agilent 7500cx
碰撞池ICP-MS能满足所有常规分析要
求的应用
安捷伦独特的ORS碰撞池技术可使用氦碰
活、功能更强大的ICP-MS。对最难分析
级定量分析的明智选择。
通用的氦碰撞模式能可靠地且可预见地
•易于设置－步骤简单，无需复杂的优化
过程
•提高了分析效率－分析期间无需气体
模式切换
•改善了未知基体的样品的分析数据可
靠性－与反应气体不同，无新的干扰
物形成，不损失分析物和内标
•无需数学校正公式
专为分析高基体样品而设计
•真正的9个数量级的线性动态范围－在
所有ICP-MS中其线性动态范围最大
•具有耐受复杂样品基体的样品引入系
统和接口，可以轻松分析如废水、土
壤、食物、生物医学样品、石化以及
地质样品等难分析的样品
无干扰的半定量分析－快速！
•氦碰撞模式可以实现未知样品的全扫
描半定量分析－无干扰现象，且一次
采集即可完成分析
可选配的反应池气路－反应气模式－特殊
应用
•可选配的氢气反应模式－使硒的检测
限达几个ppt
•可选配的Xe反应模式－可测定亚ppb
级的硫
安捷伦引领实验室进入ICP-MS时代
www.agilent/chem/icpms
许多公司的无机元素分析实验室已
采用安捷伦的7500 ICP-MS取代其
它各种分析技术以提高分析速度和
工作效率。该趋势随着Agilent ORS
技术的发展更为显著。安捷伦的
ORS ICP-MS因其最宽的动态范围和
无基体干扰特点，正在世界范围内
取代ICP-OES、GFAA以及其它元素
电麻机
技术。
Agilent 7500cx
Agilent 7500cs
浆纱机无可比拟的半导体超痕量分析仪器
八极杆反应池(ORS)技术拓展了ICP-MS 在半导体中的应用范围。•超高灵敏度提供了最卓越的检出能力，采用ORS 技术可消除各种最难测定的半导体样品中的基体干扰
•ORS 具有极强的抗干扰能力，甚至可有效消除硫酸中的S 产生的多原子干扰，实现了极易受S 干扰的Ti 和Zn 的直接测定•利用H 2反应模式消除氩基干扰粒子，比如ArO 或Ar 2
•采用安捷伦的屏蔽炬的冷等离子体技术，性能无可匹敌，能获得最低的背景等效浓度(BECs)，完全适应各种分析需求•可选配的第三种反应池气路用于NH 3反应模式－用于高纯盐酸中超痕量钒的测定
•所有包装、运输和排气管道等特殊设计是专为超净室中应用而专门提供
•新选件：安捷伦设计的PFA 惰性进样系统
7500系列包括两种型号-7500cx ，7500cs-满足当今
繁忙的痕量元素分析实验室的多种动态应用需求
配置I-AS 自动进样器的
Agilent 7500cs
3
4
安捷伦的八极杆反应池系统(ORS)将有效
去除干扰的能力引入常规试验室，使碰
撞/反应池ICP-MS发生了革命性的变。
ORS技术易于操作并应用于各种未知复
杂的样品基体中常规痕量元素的同时分
析。熟悉传统ICP-MS(无反应池)的分析
工作者将会发现ORS的操作简单得多。
独特的是，ORS消除干扰的能力不局限
于某一待测元素（在相同的反应池条件
下，可除去干扰物对多个待测元素的干
扰）。其能力也不局限于某一种样品基体
（在相同的反应条件下，可除去多种干
扰物对某个分析元素的干扰）。这意味
着无需针对特定的基体或特定的分析元
素进行最佳化，亦无需任何干扰校正公
式，可对未知样品进行分析。安捷伦的
ORS与其它反应池技术的不同之处在于：
它无需设置反应池扫描电压或最佳化。
碰撞/反应池技术实现常规应用
7500cx和7500cs型的ORS示意图。样品引入系统，
接口和离子透镜有所不同，但其模块可互换。离轴
的离子透镜模块可以在不停止抽真空的条件下拆卸清
洗。反应池与四极杆安装在同轴向上以增加其离子传
输能力
ORS是7500cx和7500cs的标准配置。不
带反应池的较早型号，如7500a、7500i
都可以现场升级加装ORS。7500cx和
7500cs所采用的ORS技术是相同的，但
进样系统、接口以及离子透镜系统不同。
其设计上的差别是因为应用上的分析需
求不同，7500cs应用于高纯样品如半导
体实验室的高纯样品基体中的超痕量元
素分析，而7500cx应用于各种复杂多变
的样品基体中的常量到痕量元素的分析。
进样系统、接口以及离子透镜根据应用要求最佳化
高传输效率的八极杆
www.agilent/chem/icpms
无干扰分析
5
对于各种复杂的高基体样品，ORS 一般采用He(碰撞)模式。它优于使用活泼气体或混合反应气体：He 为惰性气体，在反应池中不会形成新的干扰物，待测元素也不因副反应而损失。反应池内未形成新的反应产物离子，就不需要一种动态的或扫描池。因此方法设置简便，而且可在同一操作条件下进行多个元素和多种不同的样品基体的分析。而若反应池采用高度活泼的分子气体分析高基体复杂样品，其特有的化学性质将导致许多新的干扰物形成。干扰物生成程度取决于样品中其它待测元素以及基体组成的含量，从而不可避免地造成结果的误差。
任何待测元素，任何基体
利用氦模式对变化的复杂基体的干扰降低的一致性。比较曲线显示了标准模式（Std ，无反应池气体，红）和氦气模式（蓝）对不同基体（1%的HCl ，H 2SO 4和丁醇）中加入5ppb 的Cr 的加标回收数据。52Cr 可能受ArC ，ClOH 与SO 干扰。尽管基体组成不同，在同一分析条件下，采用He 模式消除了上述所有干扰，实现了Cr 在其主同位素上进行准确定量分析
H 2反应模式下Se 的标准加入法校准曲线。即使在5ppt 水平，Se 的线性仍然良好。背景(BEC)为1.9ppt 。He 碰撞模式也可应用于痕量Se 的测定，但H 2模式的分析性能更为理想
用He 碰撞模式筛选(半定量分析)未知样品在He 碰撞模式下，因其消除干扰的能力并不局限于某种特定的基体或干扰，使得He 模式成为一种极为有力的筛选工具，可用于对高基体未知样品进行无干扰的半定量分析。无基体干扰意味着即使分析未知基体，半定量数据也要准确得多，不需干扰校正。也就是说，方法的设置更为简便，无需耗时进行日常检查和校正公式的调整。
高效反应模式
ORS 除了具有对复杂高基体样品与多元素分析具有极宽的适用性的He 模式之外，对于个别受到极强的己知的等离子体Ar 基体形成的分子离子干扰的元素，如Ca 的主要同位素(m/z 40，与40Ar 重叠)以及Se 的同位素m/z 78与80(与Ar 2多原子离子重叠)。ORS 还具有更高效的反应除干扰模式。对于此类干扰，氢气是一种理想的反应气，因为它能和氩基干扰粒子的反应快速有效，而与待测分析离子反应极慢甚至不发生反应。因此，可将干扰降至仪器本底噪音水平，使上述难分析元素的检测限达几个ng/L(ppt)，甚至亚ppt 水平。然而，用氦模式也可以测定ppt 级的Ca 和Se ，因此常常可选择一种气体模式测定所有元素以减少分析时间。
Standard Addition
Tune
Mass Element Step
IS
Units
Lv.
Conc.
Count/CPS RSD %
78
Se
1---
新技术ppt
Curve Fit: Y=aX+b+bkg
Enter
r= 0.9980 Conc.= 1.867E+000 ppt Restore
Reject
Y= 2.660E+000*X+4.967E+000+bkg bkg= 0.000E+000Min Conc: ---Next
Prev
OK
Cancel长白山日报电子版
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Count/CPS(Y)count/CPS 46.00
23.00
16.00
Conc.(X) ppt
10.00 5.00P 24.002 5.0017.40P 8.62310.0033.10P 2.11415.0044.10P 5.47•5---------•6---------•7---------•8---------•9---------•10---------•11---------•12---------•13---------•14------
-
--•15---
------
•16------
---•
17---------•18---------•19---------•
20
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unweighted
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