电镜专业词汇-章晓中

电镜词汇
说明:这些词汇按照各章节内容顺序总结,看词汇的同时也在把知识点复习
TEM_ Transmission Electron Microscope
透射电子显微镜
SEM_ Scanning Electron Microscope
扫描电子显微镜
EPMA_ Electron Probe Microanalyzer
电子探针显微分析
STEM_ Scanning Transmission Electron Microscope
扫描透射电子显微镜
EDS_ X-ray energy dispersive spectrometer
X光能谱分析
CBED_ Convergent Beam Electron Diffraction
会聚束电子衍射
EELS_ Electron Energy Loss Spectrometry
电子能量损失能谱
EBSD_ Electron Backscattered Diffraction
电子背散射衍射
SPM_ Scanning Probe Microscope
扫描探针显微镜
STM_ Scanning Tunneling Microscope
扫描隧道显微镜
AFM_ Atomic Force Microscope
原子力显微镜
HREM_ High Resolution Electron Microscope
高分辨电子显微镜
NBD_ Nano-beam Electron diffraction
纳电子衍射
resolution分辨率
diffraction衍射
Rayleigh criterion瑞利判据
accelerating voltage 加速电压
aberration像差
spherical aberration球差
chromatic aberration差
astigmatism像散
distortion畸变
short magnetic lens短磁透镜
magnification放大率
Polepieces极靴
Cs: spherical aberration coefficient球差系数
α: semi-angle半角
tungsten wire钨丝
FEG: Field Emission Gun场发射
condenser lens会聚镜
specimen样品
Objective lens物镜
测井objective aperture物镜光阑
SAD_ selected area diffraction选取衍射
SAD aperture选区光阑
Intermediate lens中间镜
Projector lens投影镜
screen光屏
diaphragm隔片(光阑外的部分)
insert插入
pattern图案,花样
camera chamber照相室
CCD_ Charge-Coupled Devices电荷耦合器件拜金一族
IP_ Imaging plate成像板
vacuum真空
DP_ Diffusion Pump扩散泵
side-entry specimen holder侧入样品杆
grid微栅
Single-tilt holder单倾台
alignment对中
Thin foil薄膜
cross section specimen界面样品
prethinning预减薄
dimpler凹坑减薄仪
Tripod polisher三角抛光器
Twin-jet electropolishing apparatus
双喷电解抛光装置
Ion Milling离子减薄
slice薄片
Ultramicrotomy超薄切片法
Extraction Replication萃取复型
FIB_ Focused Ion Beam聚焦离子束(Ga)
inert惰性
(in)elastic scattering(非)弹性散射
Bragg’s Law布拉格定律
Reciprocal lattice倒易点阵
Ewald Sphere爱瓦德球
Systematic absence系统消光
Relrod倒易杆
camera constant相机常数
Weiss zone law晶带定律
Plot画出
corresponding相关
perpendicular垂直
Eucentric plane真实中心平面
Displacement位移
Index指数;标定
integer ratio relationship整数比关系
radii半径
calculate计算
ASTM(American Society for Testing Material)
card美国试验材料学会
180º ambiguity 180度不确定度
dislocation位错
Calibration校正
symmetry对称
twinned crystals孪晶
twin reflection spots孪生反射点??
High Order Laue Zone高阶劳埃带
edge边缘
superimpose重叠
Tetragonal四方
Orthorhombic正交
Hexagonal六方
Kikuchi Lines菊池线
hyperbolae双曲线
Kikuchi pole菊池极
Superlattice超点阵
Incommensurate structure无公度结构
textured specimen织构样品
Contrast衬度
Kinematical theory运动学理论
Dynamical theory动力学理论
Mass-thickness contrast质厚衬度
Phase contrast image相衬度
Z contrast Z衬度
absorption吸收
Diffraction contrast衍射衬度
BF: bright filed image明场像
DF: dark filed image暗场像
CDF: Centered Dark Field image中心暗场像
complementary互补
column approximation柱体近似
赵总理
extinction distance消光距离
Thickness fringes等厚条纹
Bend Contour弯曲轮廓(等倾条纹)
invisibility criterion of defects
缺陷不可见判据rohm
Stacking fault层错
Screw dislocation螺位错
Edge dislocation刃位错
real dislocation真实位错
Burgers vectors泊氏矢量
Moiré patterns云纹图案
effective extinction distance有效消光距离
Characteristic X-ray特征X光
SE: secondary electron慢二次电子
topographic contrast形貌对比
Auger Electron俄歇电子
CL: cathodoluminescence阴极荧光
Transmitted electrons透射电子(EELS)
Scan coils扫描线圈
specimen chamber样品室
Cathode Ray Tube阴极射线管
Secondary electron yield δ二次电子产率
trajectory轨迹
BSE: Backscattered electron背散射电子
Channelling contrast通道衬度
orientation取向
spatial distribution of composition
成分空间分布
Absorption electron image吸收电子像
触指S/N: signal noise ratio信噪比
charging充电现象
a large depth of focus很大景深
Fracture surfacetcp协议断口表面
EBSP:Electron Backscatter Diffraction Pattern
电子背散射衍射图案
Crystal Orientation Mapping晶体取向成像
Variable -Pressure SEM可变气压扫描电镜
ESEMTM: Environmental SEM环境扫描电镜
GSED: gaseous secondary electron detector
气体二次电子探测器
Si(Li) detector 锂漂移硅探测器
WDS: Wavelength Dispersive X-ray
Spectrometer X射线波谱仪
MCA: multichannel analyzer多通道分析仪
overlapped peak重叠峰
spot analysis点分析
Line scan线扫描
Element mapping元素分布图
volume exited激发体积
Quantitative analysis定量分析
weak-phase-object approximation
弱相位物体近似
scherzer defocus Scherzer欠焦
specimen thickness样品厚度
NED: nano-area electron diffraction
微衍射
disc
chemical bonding化学键
Energy Filtered Image能量过滤像
HAADF:High-angle annular dark field images
高角环形暗场像
atomic number contrast原子序数衬度
Electron holography电子全息
Electron tomography电子断层扫描
Cs-corrected TEM球差校正透射电镜
In-situ TEM原位透射电镜
E-beam Lithography电子束曝光

本文发布于:2024-09-21 16:45:29,感谢您对本站的认可!

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