一．实验目的
1．掌握可逆直流脉宽调速系统主电路的组成、原理及各主要单元部件的工作原理。 2．熟悉直流PWM专用集成电路SG3525的组成、功能与工作原理。
3．熟悉H型PWM变换器的各种控制方式的原理与特点。
二．实验内容
1．PWM控制器SG3525性能测试。
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2．H型PWM变换器DC/DC主电路性能测试。
三．实验系统的组成和工作原理
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全桥DC/DC变换脉宽调速系统的原理框图如图6—10所示。图中可逆PWM变换器主电路系采用MOSFET所构成的H型结构形式，UPW为脉宽调制器，DLD为逻辑延时环节，GD为MOS管的栅极驱动电路，FA为瞬时动作的过流保护。
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全桥DC/DC变换脉宽调制器控制器UPW采用美国硅通用公司（Silicon General）的第二代产品SG3525，这是一种性能优良，功能全、通用性强的单片集成PWM控制器。由于它简单、可靠及使用方便灵活，大大简化了脉宽调制器的设计及调试，故获得广泛使用。
四．实验设备及仪器
1．教学实验台主控制屏
2．NMCL—31组件
3．NMCL—22组件
4．可调电阻负载
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5．双踪示波器(自备)
五．实验方法
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1．UPW模块的SG3525性能测试
（1）用示波器观察UPW模块的“1”端的电压波形，记录波形的周期。 （2）用示波器观察“2”端的电压波形，调节RP2电位器，使方波的占空比为50%。
（3）用导线将给定模块“G”（15V直流可调电源位于NMCL－31）的“1”和“UPW”的“3”相连，分别调节正负给定，记录“2”端输出波形的最大占空比和最小占空比。
2．控制电路的测试
在上述实验的基础上，分别将正、负给定均调到零，用示波器观察“DLD”的“1”和“2”端的输出波形，并记录延时时间t d=
（2）同一桥臂上下管子驱动信号列区时间测试
分别将“隔离驱动”的G和主回路的G相连，用双踪示波器分别测量V VT1.GS和V VT2.GS
以及V VT3.GS和V VT4.GS的列区时间：
t dVT1.VT2= t dVT3.VT4=
3．DC/DC波形观察
按图6—11a接线。
（1）波形的测试
a．将正、负给定均调到零，交流电压开关合向AC200V，合上主控制屏电源开关。
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b．调节正给定，观察电阻负载上的波形。
c．调节给定值的大小，观察占空比的大小的变化。
七．实验报告
根据实验数据，列出SG3525的各项性能参数、逻辑延时时间、同一桥臂驱动信号死区时间、起动限流继电器吸合时的直流电压值等。
八．思考题
1．为了防止上、下桥臂的直通，有人把上、下桥臂驱动信号死区时间调得很大，这样做行不行，为什么？您认为死区时间长短由哪些参数决定？
2．与采用晶闸管的移相控制直流调速系统相对比，试归纳采用自关断器件的脉宽调速系统的点。
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