概述
SEED-DPS2812M模板的测试包括以下几个方面内容：
可再生能源定额站
测试片外SRAM
测试片外Flash
测试EEPROM
测试RTC
测试LAN
测试UART
测试CAN
测试片外DA
测试片外AD
吾守尔大爷的冰测试数字量输入和数字量输出
测试LCD
测试KEYBOAD
注：测试程序的工程调试环境是以合众达公司的并口仿真器建立的，为了方便起见，推荐用户使用合众达公司并口仿真器进行测试。如果使用其它类型的仿真器，请参考附录C 创建相应的工程调试环境。
SEED-DPS2812M模板的测试程序包括以下几个：
DSP对片外Flash的操作示例；
DSP对EEPROM的操作示例；
DSP对RTC的操作示例；
DSP内外设SCI的操作示例；
DSP对CAN的操作示例
DSP对LAN的操作示例；
DSP对片外A/D的操作示例；
DSP对片外D/A的操作示例；
DSP对DIDO的操作示例；
DSP对LCD的操作示例；
DSP对KEYBOARD的操作示例
本例程采用TI的1.0构架，相关说明见《SPRC097 C281x C/C++ Header Files and Peripheral Examples》。使用本例程需要将目录中的全部文件夹拷贝到本机工程目录下，并去掉全部只读属性。共有3个文件夹：
目录结构：
目录描述
<base>\doc 文档说明，包括版本历史软件说明等
<base>\DSP2812M_headers 全局性的头文件用于定义针对不同外设和使用的寄存器配置
<base>\DSP2812M_examples 所有的操作例程每个目录里只包含针对特定功能的工程、程序代码
和头文件说明
<base>DSP2812M_common 公共文件，针对‘F2812系统的外设初始化寄存器配置等程序代码，
包含了所有的外设和可能使用的寄存器设置。
对于DSP2812M_headers/_common又有进一步目录结构：
子目录描述
DSP2812M_headers\cmd 外设地址和寄存器定位用的CMD文件
DSP2812M_headers\source连接各头文件和分配程序的必要的源程序，全局变量和数据段定义程
序
DSP2812M_headers\include针对每一个片内外设的头文件定义
DSP2812M_common\cmd针对’F2812的内存分配
DSP2812M_common\include公共的系统级头文件
DSP2812M_common\source 针对相应外设的初始化程序并将系统设置为默认状态
采用这种结构可以大幅提高编程和文件组织的效率。_headers/_common在系统设计时就可以确定，以后仅仅是引用，这对于外设的组织和控制系统完成后各部分之间的兼容性是有益的。对于不同的例程差别仅仅是_examples目录下的代码和声明。同时目录结构也相应清晰。
同样在例程中采用了结构体的方式，用户可以直接通过修改结构体某个成员的值来实现不同的操作。当需要不同的初值形式时，用户可以在结构体的定义头文件中通过修改初始化参数来达到目的，这样防止了对源程序的破坏。例程中实现了对相应外设的操作和功能的实现。这些程序在严格检测过程中被证明是完全可用的，用户在实现某些算法或功能时只需对相应源程序和寄存器配置进行扩充和修改即可。
以下个子章节系统的描述针对每个例程的流程、结构定义、操作方式和相关说明。更详细的说明通过源程序中的注释来实现。用户亦可通过下述例程来检测针对某种功能或者外设是否是可用的。
需要指出的是DPS2812M和DPS2812在外设、I/O口线、CPLD的定义是有不同的，这也直接导致了两个平台对应的例程是有所区别的，二者并不通用。
关于CPLD是通过暗含的HVDL硬件程序来实现针对某些外设的时序和信号逻辑。对于LAN、AD、DA的大量寄存器配置包含在其中会在后续的寄存器子章节进行说明。用户自行对CPLD的修改有可能导致程序错误。出现这种情况时用户可根据自行的定义通过修改相应的头文件的设置来实现。 外部SRAM的测试
SEED-DPS2812M模板上的SRAM标准配置为无，最大为512K×16位；
SRAM的测试过程是对外部SRAM的0x0000~0xFFFF空间进行写操作，即连续写入0~SRAM_LENGTH个数据，然后读回，判断是否正确；如果正确，进入good_flag=1的循环；否则，进入good_flag=0的循环。SRAM_LENGTH在Examples_DPS2812M
_EXTRAM.h头文件中定义，默认100，取值0~0xFFFF。
SRAM测试过程
SRAM的测试过程如下：
在CCS中用Project→Open…命令，加载DSP2812M_examples\DPS2812M_ EXTRAM目录下的Example_DPS2812M_EXTRAM.pjt；
在CCS中用File→Load Program…命令，加载DSP2812M_examples\ DPS2812M_EXTRAM\DEBUG目录下的Example_DPS2812M_EXTRAM.out；
在CCS中用Debug→Go Main命令执行程序到C的main()函数处；
按下图设置断点，按F5运行；
在测试过程中，程序进入good_flag=1的循环处。
片外AD的测试
SEED-DPS2812M模板上集成了2片外部AD芯片，有12路A/D信号输入通路，外部信号-10V~+10V信号经过调理后，信号范围变为0V～3V。本程序主要是对外部模拟量输入信号进行A/D转换。
片外AD的测试说明
本程序的实验条件是通过DPS2812M片外DA实现某种波形，然后将这路输出接到试图实现的某路AD上。本程序中包含了几乎全部的DA代码（中断方式处理略有不同），详见后续DA测试。
程序的流程是先通过EVA的通用定时器产生一个定时的中断，在中断中产生DA信号并开启AD转换使能控制信号。AD芯片开始工作通过外部中断来通知DSP采样完成，在外部中断中进行确认，然后返回。中断以外的程序是在不停的查询是否有外部中断的确认信号，一旦采样确认，将数据读入相应的存储空间。 AD采样时的参数配置
AD --- 结构体
| -- ADChannelSel AD 采样通道选择范围0-5本例程为全通道采样，此处保留| -- ADCFlag ADC状态标志 | -- all
-- bit
功放摩机|-- ADCCS0：1 第一片ADC选通信号
休闲农业园区规划设计
|-- ADCCS1：1 第二片ADC选通信号
|-- ADCCSProFlag：1 两片同时工作处理信号，需要时通过此位配合选通信号使
用。本例程不提供，保留
|-- ADCSampleFlag：1 AD外部中断确认信号，采样的标志位
|-- LoopVar 采样计数用于图形显示
|-- ADSampleResult0 选通的AD芯片的通道0的采样值保存数组
|-- ADSampleResult1 选通的AD芯片的通道1的采样值保存数组
|-- ADSampleResult2 选通的AD芯片的通道2的采样值保存数组
|-- ADSampleResult3 选通的AD芯片的通道3的采样值保存数组
|-- ADSampleResult4 选通的AD芯片的通道4的采样值保存数组cat计算机辅助
|-- ADSampleResult5 选通的AD芯片的通道5的采样值保存数组
什邡钼铜事件|-- *ptrADCData 通道指针当使能采样通道时用于指向某一通道
片外AD的测试过程
片外AD的测试过程如下：
在CCS中用Project→Open…命令，加载DSP2812M_examples\DPS2812M_ AD 目录下的Example_DPS2812M_AD.pjt；
在CCS中用File→Load Program…命令，加载DSP2812M_examples\ DPS2812M_ AD \DEBUG目录下的Example_DPS2812M_AD.out；
在CCS中用Debug→Go Main命令执行程序到C的main()函数处；
按下图设置断点，按F5运行程序，可以通过CCS的图形功能看见AD通道采集上来的波形。
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