一种微光斑椭偏仪中的微透镜偏振效应校准方法[发明专利]

专利名称:一种微光斑椭偏仪中的微透镜偏振效应校准方法专利类型:发明专利
nap积分发明人:江浩,刘佳敏,张松,刘世元,谷洪刚
申请号:CN202010244093.8漳州师范学院学报
爱随身携带申请日:20200331
公开号:CN113466140B
动画片三国演义主题曲公开日:
20220617
专利内容由知识产权出版社提供声纳浮标
摘要:本发明属于椭偏测量相关技术领域,并公开了一种微光斑椭偏仪中的微透镜偏振效应校准方法。该方法包括下列步骤:(a)采用椭偏仪测量样品在有和无微透镜的情况下的穆勒矩阵,以此获得微透镜的测量穆勒矩阵Mm;(b)将微透镜等效为相位延迟器,将来自椭偏仪并透过微透镜的光线离散为多条均匀分布的光线,根据每条光线的穆勒矩阵计算获得微透镜的初始穆勒矩阵;(c)比较微透镜的测量穆勒矩阵与初始穆勒矩阵,调节所述微透镜特征值的初始值,直至初始穆勒矩阵等于测量穆勒矩阵,此时特征值为所需的特征值;(d)构建微透镜的相位延迟量和穆勒矩阵的关系式,计算获得微透镜实际的相位延迟量和穆勒矩阵。通过本发明,校准方法简单,适用范围广。
申请人:华中科技大学
地址:430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号罗家伦
国籍:CN
代理机构:华中科技大学专利中心

本文发布于:2024-09-21 22:44:48,感谢您对本站的认可!

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标签:透镜   矩阵   方法   测量   专利   校准
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