椭偏仪实验报告电子版

椭偏仪实验报告
04级11系  姓名:徐文松  学号:PB04210414  日期:2006.05.19
CONTENTS OF THIS REPORT
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实验名称
实验目的
实验原理
实验步骤
实验数据
实验讨论
思考题
实验名称 return
椭偏仪测量薄膜厚度和折射率
实验目的 return
1. 了解椭偏仪测量薄膜参数的原理;
2. 初步掌握反射型椭偏仪的使用方法
实验原理 return
    多光束干涉的复振幅为
    反射系数比
=·
    G是变量n1n2n3d崩解剂的函数(用表示 ) ,即, , 称为椭偏参数,上述复数方程表示两个等式方程:
[]的实数部分=[]的实数部分
[]的虚数部分=[]的虚数部分
    若能从实验测出的话,原则上可以解出n2d (n1人民的期盼n3已知),根据公式(4)~(9),推导出r1pr1sr2pr2s、和δ的关系:
]1/2  (10)
官场礼仪(11)
由上式经计算机运算即可求得d,n.sy-118 这就是椭偏仪测量薄膜的基本原理。
实际检测方法:
①等幅椭圆偏振光的获得(实验光路如图1)
  a.平面偏振光通过四分之一波片,使得具有±π/4相位差.
  b.使入射光的振动平面和四分之一波片的主截面成450.
②.反射光的检测
                                       
图1
 
将四分之一波片置于其快轴方向fx方向的夹角α为的方位,E0为通过起偏器后的电矢量,PE0x方向间的夹角.,通过四分之一波片后, E0沿快轴的分量与沿慢轴的分量比较,相位上超前.
         
xip3轴、y轴上的分量为:
 
   
盘形弹簧
  由于x轴在入射面内,而y轴与入射面垂直,故Ex就是Eip,Ey就是Eis.
     
  由此可见,当时,入射光的两分量的振幅均为,它们之间的相位差为  ,改变P的数值可得到相位差连续可变的等幅椭圆偏振光.这一结果写成:
        ,
  同理, 当时,入射光的两分量的振幅也为,相位差为.
这样一来就可以通过测定起偏器的角度来确定,而只与反射线偏振光的电矢量振动方向有关,可通过检偏器的方位角来测定
再通过计算机计算即可求出薄膜厚度d和折射率n。
实验步骤 return
根据老师所讲整理:
1. 打开激光,调整光路平行;
2. 放上反光镜,转动画66度后调整检偏器使消光;
3. 转回水平方向,调整起偏器使消光;
4. 装上波片,调整波片角度使仍然消光;
5. 将样品放在载物台中央,旋转载物台使达到预定的入射角70度,即望远镜转过40度,通过目镜观察样品反射光
6. 转动波片45度同时调整检偏器和起偏器角度使消光,记录两组数据(一组同时<90度,一组同时>90度);
7. 转动波片-45度再次同时调整检偏器和起偏器角度使消光,再次记录两组数据(一组同时<90度,一组同时>90度);
8.将记录数据输入计算机处理得到薄膜厚度d和折射率n。
实验数据 return
检偏器角度和起偏器角度数据
A1
95.9 o
P1
101.4 o
A2
83.2 o
P2
10.7 o
A3
94.8 o
P3
171.4 o
A4
80.8 o
P4
81.0 o
经计算机计算得
薄膜厚度d=106.52nm
折射率n=2.1379
由于仪器本身的精度的限制,可将d的误差控制在1埃左右,n的误差控制在0.01左右。
因此实验最终结果为:
d=106.5nm
n=2.14
实验讨论 return
本次实验中,消光调整得比较好,各消光点都几乎完全消光,仅有很微弱暗光点,因此实验误差比较小。实验中第一个消光点到得比较顺利,而后按照公式
计算出另外三组数据的理论值,在到理论值附近进行微调整使其消光,很容易就得到了另外三组值。
总体来说本次实验还是比较成功的。
思考题 return
1.波片的作用是什么?
答:波片使得入射的线偏振光出射后为等幅的椭圆偏振光,即圆偏振光。
2.椭偏光法测量薄膜厚度的基本原理是什么?
答:椭偏光法测量薄膜厚度的基本原理是:让一束圆偏振光以一定的入射角射到薄膜系统的表面,使反射光成为线偏振光,此时就可以通过测定起偏器的角度来确定,而只与反射线偏振光的电矢量振动方向有关,可通过检偏器的方位角来测定。再通过计算机计算即可求出薄膜厚度d和折射率n。

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标签:实验   薄膜   调整   偏振光   厚度   消光   偏器
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