IEC 61439-2011与GB7251.1（IEC60439-1999）标准差异一、增加的项目
•但不是所有的都能通过上述方式验证的（见附录D）
序号待验证的特性
可用的验证选项
试验验证比较验证评估
耐腐蚀性(金属外壳)
热稳定性(绝缘材料壳体，干热试验)耐受非正常发热和着火(灼热丝)
耐紫外线辐射(户外使用)
提升
机械撞击
标志是
是
是
是
是
是
是
否
否
郑松岩
否
否
否
否
否
否
否
是
是
否
否
否
2外壳防护等级是否是3电气间隙和爬电距离是否否
4保护电路的连续性
保护电路的短路强度是
是
否
是
否
否
5开关器件和元件的组合否否是6内部电路和连接否否是7外接导体端子否否是
8介电性能：工频耐受电压介电性能：冲击耐受电压是
是
否
否
否
是
9温升是是是10短路耐受能力是是否11电磁兼容性（EMC）是否是12机械操作是否否•2.材料和部件的强度（10.2）
•如果使用符合IEC62208（GB/T20641）的空外壳，且没有对其进行过降低外壳性能的更改，则不需按10.2规定重复进行外壳的试验。•（1）耐腐蚀试验（10.2.2） •成套设备含铁的金属外壳及内部和外部含铁金属部件的代表性样品应进行耐腐蚀性验证。试验应执行在： •—外壳或代表性样品外壳，且正常使用时，具有代表性的内部部件且门关闭，或
•—单独的代表性外壳部件和内部部件
•在所有情况下，铰链、锁和紧固件也应进行试验，除非它们原先已进行过等效试验并且使用中没有损害其耐腐蚀性。外壳应按照初始制造商说明书中正常使用的要求安装进行试验。
•试验程序
试验A：
•--户内用成套设备金属外壳、外部部件和内部部件
•--6天湿热试验(40±3℃, 95%)+2天盐雾试验(35±2℃)
试验B：
•--户外用成套设备金属外壳、外部部件
•--2个12天：5天湿热试验(40±3℃, 95%)+7天盐雾试验(35±2℃)
•试验结束后，应开启水龙头对外壳或样品用水冲洗5min，用蒸馏水或软化水漂净，再甩动或用吹风机除去水珠，然后将试验样品存放在正常使用条件下2h。应：
•1：无明显锈痕、破裂和锈迹；
•2: 机械完整性没有损坏；
•3: 密封无损坏；
•4: 门、铰链、锁和紧固件工作没有异常。•（2）绝缘材料性能（10.2.3）
人体气化
外壳热稳定性验证（10.2.3.1）
由绝缘材料制造的外壳的热稳定性应用干热试验验证：
试验依据GB/T 2423.2试验Bb进行，温度70℃，自然通风，持续168h，恢复96h。试验后样品无变形、破裂或发粘现象（试验方法：在食指裹一块干粗布，以5N力按压样品，样品上应没有布的痕迹并且外壳或样品的材料没有粘到布上）。
绝缘材料着火危险试验（10.2.3.2）
--支持载载流部件的部件：(960±15)℃；
•--用于嵌入墙内的壳体：(850±15)℃；
•--其它部件，包括支持保护导体的部件：(650±10 )℃。
•试验应在最薄的材料上进行。
•（3）抗紫外线辐射验证（10.2.4）
•--适用于用绝缘材料制作的或用金属制作但完全用合成材料包覆的，且用于户外安装的成套设备的外壳和外装部件。
•（4）提升试验（10.2.5）
•制造厂需要说明允许同时提升的最多数量的柜架单元以及提升的方式，同时提升几个部位？
•--试验重量: 1.25x可以同时提升的框架单元的重量
•--试验顺序：
•1-提升样品≥1米高，然后放下，重复3次；
•2-提升至≥1m，保持30分钟，放下；
•3-提升样品≥1米高，匀速移动(10±0.5)米，放下，重复3次，每次都应在1分钟内完成•试验后，样品应无足以影响其性能的破裂、变形现象，比如造成防护等级不符合，电气间隙和爬电距离不符合，抽屉柜的无法操作等等。
•该试验一般是在整个试验的最后进行，因为该试验可能需要把样品的每个柜体拆开后才能进行，所以制造厂在提供试验样品时，要考虑如何把样品拆开，否则就要另外专门准备一个样柜。
•（5）机械撞击试验(10.2.6)
•特定的成套设备标准要求的机械碰撞试验应依据GB/T 20138进行。
（6）标识
•非模压、冲压、刻字或类似方法制作的标志，要进行擦拭试验(15s水和15s汽油)来验证其易识别性和耐久性
•试验后，经正常视力或没有附加放大设备的校正视力目测标志，仍容易辨认。
二、与GB7251.1不同之处
•1. 保护电路有效性
主接地排两端用10A的电流进行测试，短路
试验之前和之后要分别进行测试。
•2.介电强度（10.9）
（1）工频耐受电压（10.9.2）
•IEC61439
•GB7251.1•（2）冲击耐受电压（10.9.3）
•IEC61439
•
•GB7251.1
•3.温升试验（10.10）
•
规定了3种温升试验方法：
•
方法1：分散系数为1，对整个成套设备的各个功能单元、主母排及分支母排同时进行测试；
•
方法2: 方法1（分散系数小于1）＋分别在每个功能单元上的测试(分散系数为1)；
•
方法3: 方法2＋母排上的单独测试(功能单元内的部件需要拆除)。
•示例：
4000A
B1: 600A B2: 400A
B3: 800A C1: 1000A C2: 800A
D1: 400A D2: 200A
D3: 200A
柜A 柜B 柜C 柜D 1800A
1800A
kxk
800A
＋
＋
13vlib
＝
4400A
出线单元电流和
•方法1：分散系数为1，对整个成套设备的各个功能单元、主母排及分支母排同时进行测试；
柜A 柜B 柜C 柜D
试验(1):4000A B1+B2+B3=1800A C1+C2=1800A D1=400A 或D2+D3=400A 试验(2):
4000A
B1+B3=1400A
C1+C2=1800A
D1+D2+D3=800A
1: 每个功能单元所在的柜体通以额定电流；
2: 使相邻柜体的影响处于最不利的条件下(通以额定电流)。
不是最终测试结果
•方法2: 方法1（分散系数小于1）＋分别在每个功能单元上的测试(分散系数为1)；
4000A
B1: 600A B2: 400A
B3: 800A
C1: 1000A C2: 800A
D1: 400A D2: 200A
D3: 200A
柜A
柜B
柜C
柜D
水平母排溢出端
垂直母排溢出端
•方法2：方法1（分散系数小于1）＋分别在每个功能单元上的测试(分散系数为1)；•假设分散系数为0,8
•试验1: 所有功能单元额定电流总和为4400A ，乘以分散系数0,8，那么所有功能单元测试电流总和是3520A
•还有多余的4000A-3520A=480A ，该电流从水平母排的末端溢出。
柜A
柜B
柜C
柜D
溢出
试验(1):
4000A
(B1+B2+B3)x0.8=1440A (C1+C2)x0.8=1440A (D1+D2+D3) x0.8=640A 水平母排末端480A
•方法2: 方法1（分散系数小于1）＋分别在每个功能单元上的测试(分散系数为1)；
柜A柜B柜C柜D溢出
试验(2):4000A B1(600A)+
垂直母排溢出
(1200A)=1800A 00水平母排末端
2200A
试验(3):4000A B2(400A)+
垂直母排溢出
(1400A)=1800A 00水平母排末端
2200A
试验(4):4000A B3(800A)+
垂直母排溢出
(1000A)=1800A 00水平母排末端
2200A
试验(5):4000A0C1(1000A)+
垂直母排溢出
(800A)=1800A 0水平母排末端
2200A
试验(6):4000A0C2(800A)+
垂直母排溢出
(1000A)=1800A 0水平母排末端
2200A
试验(7～9):4000A003次试验水平母排末端
3200A
•方法3: 方法2＋母排上的单独测试(功能单元内的
部件需要拆除)。
4000A
授益行为B1: 600A
B2: 400A
B3: 800A
C1: 1000A
C2: 800A
D1: 400A
四甲基胍
D2: 200A
D3: 200A
柜A柜B柜C柜D
垂直母排溢出端
水平母排溢出端
•方法3：方法2＋母排上的单独测试(功能单元内的部件需要拆除)。
柜A柜B柜C柜D溢出
试验(10):4000A000水平母排末端
4000A
试验(11):4000A垂直母排=1800A00水平母排末端
2200A
试验(12):4000A0垂直母排=1800A0水平母排末端
2200A
试验(13):4000A00垂直母排=800A水平母排末端
3200A
•温升测试时，试验导体的尺寸
•GB7251.1中试验导体的选择是根据试验电流来确定，而
IEC61439-2011中是按照额定电流来确定相对应的导体尺
寸，而不是根据试验电流。
•额定电流为100A，分散系数为0.8，那么在用方法2测试
时，其中一次的测试电流为80A，其连接的导线截面积根据
GB7251.1表8中来选择的话应该是25mm2，而根据IEC 61439-
1表11来选择的话应该为35mm2，而不是25mm2。
•
•类似方案的推导（10.10.3）
•10.10.3.1 对于额定电流小于等于800A的电路，50Hz时的
温升适用于60Hz的情况。电流大于800A时，60Hz时的额
定电流应减小到50Hz时的95%，也可采用当50Hz时最大温
升没超过允许值的90%时，在60Hz情况下不需要降低额定
值。执行在特定频率上的试验，适用于电流定额相同情况
下的更低频率，包括直流。
•10.10.3.3 在相同截面尺寸和结构时，铝母线确定的额定
电流对铜母线也是有效的。然而，铜母线确定的额定电流
不能同于确定铝母线的额定电流。
•计算（10.10.4）
•1、额定电流不超过630A，额定频率不超过60Hz的单隔室成套设备（10.10.4.2）
•这是一种简单的温升验证方法，要求确认成套设备内的元件和导体的总功率损耗不超过已知的壳体的功率消耗能力。但是此方法的范围很有限，为了使发热点处没有问题，所有元件必须降低额定电流到它们自然通风时的额定值的80%。
•2、额定电流不超过1600A，额定频率不超过60Hz的多隔室成套设备（10.10.4.3）
•依据带附加余量的IEC60890通过计算进行温升验证，本方法的范围限制在1600A以下，元件降低额定到它们自然通风时的80%或更小，并且所有水平隔板必须至少有50%的开口面积。•温升极限
•1、目的
•确保温度稳定在一个值上，并且不会导致：•（a）成套设备的严重磨损或老化。
•（b）过多的热量传输到外部导体，则其连接的外部导体和任意设备的使用能力可能会受损害，
•（c）成套设备附近的人员，操作人员或动物在正常工作环境中被灼伤。
•2、准则
•（a）安装在成套设备内的每种电路都可以承载其额定电流，这要考虑电路的连接和装在成套设备内的方式，但排除可能由邻近电路过载导致的任何热效应。
•（b）成套设备作为一个整体在进线电路承载其额定电流不应过热，在承载进线电路最大电流时，出线电路的任意组合可以同时并持续承载其额定电流乘以成套设备额定分散系数。•4、机械操作（10.13）
•根据GB7251.1中8.2.6规定对于需要验证的部件只要求进行50次循环操作。
•而根据61439-2011中10.1规定对于需要验证的部件要求进行200次循环操作。
•1次操作包括：功能单元的插入-闭合开关-断开开关-功能单元的拔出
谢谢！
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