伽玛照相机、单光子发射断层成像设备(SPECT)质量控制检测规范1 范围 本标准规定了伽玛照相机、单光子发射断层成像设备（SPECT）质量控制检测要求、检测项目和方法。
本标准适用于基于NaI晶体的伽玛相机旋转型SPECT的质量控制检测。
本标准除断层空间分辨力指标及全身成像系统空间分辨力外，其他指标适用于伽玛照相机的质量控制检测。 2 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
2.1
能窗 energy window
可接受和处理的γ射线和X射线的能量范围。窗口可以用一个能量范围（如130keV～151keV）或能峰值的百分比（如140keV的15%）来表示。以百分比表示时，应给出能峰值，且窗口是以能峰值为中心对称的，如140keV的20%能窗与126keV～154keV是等同的。
2.2
半高宽 full width at half maximum （FWHM）
在一钟形曲线上，纵坐标高度为最大值一半处，平行于横坐标的两点之间的距离。
2.3
空间分辨力 spatial resolution
精确分辨开空间两个放射性点源的能力。用点源或线源扩展函数的半高宽（FWHM）表示。
静电场2.4
固有空间分辨力 instrinsic spatial resolution
不带准直器时测得的空间分辨力称为固有空间分辨力；声带小节
2.5
系统空间分辨力 system spatial resolution
带准直器时测得的空间分辨力称为系统空间分辨力。
2.6
断层空间分辨力 tomorgraphic spatial resolution
断层成像系统的空间分辨力。
2.7
全身成像系统空间分辨力 whole body system spatial resolution
全身扫描成像系统的空间分辨力。
2.8
固有积分均匀性 instrinsic integral uniformity
不带准直器时，均匀入射的γ射线在整个探头视野内给定的大面积上计数密度的最大变化。
2.9
固有微分均匀性 instrinsic differential uniformity
不带准直器时，均匀入射的γ射线在整个探头视野内微小区间内计数密度的最大变化。
2.10
固有空间微分线性 instrinsic spatial differential linearity
不带准直器时，线源图像位置和线源实际位置间偏移的变异程度。
2.11
固有空间绝对线性 instrinsic spatial absolute linearity
不带准直器时，视野中线源实际位置和图像位置在X方向和Y方向的最大偏移。
2.12
系统平面灵敏度 system planar sensitivity
对特定准直器，探头观察到的平面源计数率与活度之比。
注：单位为每秒每兆贝克。
2.13
有效视野 useful field of view（UFOV）
探头用于γ射线及X射线成像的范围，该范围的尺寸由制造厂给出。
lan club2.14
中心视野 central field of view（CFOV）
有效视野每边向中心方向收缩12.5%的区域。
3 质量控制检测要求
3.1 伽玛照相机、SPECT使用单位应制定包括质量控制检测计划的质量保证方案并保证其正确实施，按照质量控制检测计划与本标准要求进行检测。
3.2 新安装或大修后的伽玛照相机、SPECT 在投入使用前，应由具备检测资质的技术服务机构对其进行验收检测，应对检测指标的合格与否根据出厂标准给予判定，等于或优于出厂标准的指标判定为合
格，确认检测指标全部合格后方可启用。验收检测的项目及技术要求应符合附录A 及3.4的规定。
3.3 使用中的伽玛照相机、SPECT 及其配套设备应定期维护并校准。状态检测周期为一年，由具备检测资质的技术服务机构对其进行检测。稳定性检测由使用单位自身或委托有检测能力的机构进行。应对检测指标的合格与否给予判定，等于或优于规定值的指标判定为合格。状态检测与稳定性检测的项目、周期及技术要求见附录A 的规定。
3.4 验收检测中，使用单位与供货方定有不同于3.2的协议时，也可按协议要求执行，但协议中的检测项目不应少于表A.1规定的项目，且各项目的要求不应低于表A.1的要求。
3.5 检测用计量仪表应根据有关规定进行检定或校准，检测用模体应符合有关要求。
3.6 设备手册、使用说明书等有关技术资料和检测记录应妥善保存。
3.7 检测报告的基本内容应包括：被检单位基本信息和设备信息，并按本标准的要求给出有关的检测指标和检测方法、必要的检测条件、检测结果及其相应标准要求。
3.8 质量控制检测之前，应进行下列参数设置或确认：
a) 除非厂家有特殊说明，能峰一般设置为140 keV ，能窗设置为20%；
b) 检测前，应在带准直器情况下，检查本底计数率和能峰是否符合要求。除非厂家有特殊说明，
本底计数率应不大于2.0³103 min -1，能峰偏差（使用99Tc m 核素）不大于±3 keV 。
4 质量控制检测项目与方法
4.1 固有均匀性
4.1.1 检测条件
意见领袖检测所使用源为99Tc m
溶液，盛入试管或小安瓶中，源在各方向的尺寸不大于5 mm ，活度约为20 MBq ，
使计数率不大于2.0³104s -1。放射源应置于距离探头表面中心5倍于视野最大线径的位置上。
4.1.2 数据采集
泛源图像数据采集。卸下准直器，设置的采集总计数和图像矩阵应保证采集的成像的中心像素计数 至少为1.0³104。
4.1.3 数据处理
在进行均匀性计算之前，包含的像素应按下述方法确定：
a) UFOV 边沿的像素，像素面积的50%不在UFOV 内，应不包括在均匀性计算内；
b) UFOV 周边的像素，如果像素计数小于CFOV 内平均值的75%，应将其值设置为0；
c) 视野中的像素，若像素在其正四周方向相邻的像素值有一个为0，则该像素值置为0；
d) 经过以上 a)～c ）处理过的剩余非0值像素将参与UFOV 的分析，并进行9点平滑，9点平滑
毛利率法滤波矩阵如下； 121242121⎛⎫ ⎪ ⎪ ⎪⎝⎭
e) 以上处理 a)～d ）只操作一次。CFOV 的数据处理可参照UFOV 进行。
固有积分均匀性：
在处理后的泛源图像内，分别在UFOV和CFOV内，像素值的最大值和最小值，分别计算二者之间的差值及和值，按式（1）计算积分均匀性：
IU=[(C max-C min)/(C max+C min)]³100％ (1)
式中：
IU——固有积分均匀性；欧锦赛2013
C max ——像素最大值；
C min ——像素最小值。
固有微分均匀性：
在处理后的泛源图像内，分别在UFOV和CFOV内计算微分均匀性。分别从像素行和列的起始端开始，逐个像素向前推移，每相邻5个像素为一组，最大像素值和最小像素值，分别计算二者之间的差值及和值，按式（2）计算百分值。在X方向和Y方向的最大百分值，为微分均匀性。
DU= （C m ax-C m in）/(C m ax+C m in)³100％ (2)
式中：
DU——固有微分均匀性；
C max ——计数最大值；
C min ——计数最小值。
4.2 固有空间分辨力
4.2.1 狭缝铅栅方法
4.2.1.1 检测条件
检测所使用源为99Tc m溶液，盛入试管或小安瓶中，活度约为200 MBq～400 MBq，使计数率不大于2³104s-1，放射源距离探头表面中心1.5m以上位置。
4.2.1.2 数据采集
卸下准直器，使用狭缝铅栅模体进行图像采集。狭缝铅栅模体为1 mm宽相距30 mm狭缝构成，铅的厚度不小于3 mm，1个铅栅模型为X方向，另一个铅栅模型为Y方向（参见图1）。从探头上卸下准直器，置狭缝铅栅模体于探头表面，使铅栅模体的栅缝分别平行于探头的X轴和Y轴，以检测Y和X两个方向的空间分辨力。采集矩阵512³512（或能达到的最大矩阵）。采集的总计数应保证使后期数据处理时的线扩展函数的中心峰值不小于1³103计数。
测量Y方向分辨力铅栅测量X方向分辨力铅栅
所有的铅缝都为1mm宽
铅栅细节图
注1：铅栅的面积应大于探头的视野。
注2：缝宽1.0 mm。
注3：缝之间的距离为30mm，铅厚度不小于3 mm。
图1 狭缝铅栅模体
4.2.1.3 数据处理
数据处理过程按下述方法进行：
a)为保证线扩展函数的精度，垂直每条狭缝方向的取样应等于或小于0.2FWHM，平行狭缝方向的
取样等于或小于30mm。
b)计算线扩展函数时，如果获取的数据为二维矩阵，应将平行于狭缝方向不大于30mm内的数据
叠加形成一维线扩展函数。对每条线扩展函数以像素为单位求出对应的峰位、峰值和半高宽（FWHM）。
c)将像素单位转换为距离单位mm。应用视野内线扩展函数峰位差的平均值（像素单位）和模体
狭缝间的已知距离（30mm）即可求出像素距离的转换系数。
d)分别计算UFOV及 CFOV X 和 Y 两个方向半高宽的平均值，报告为探头的空间分辨力，单位为
mm，数值精确到0.1mm。
4.2.2 四象限铅栅方法
4.2.2.1 检测条件
同4.2.1.1。
4.2.2.2 数据采集
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