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常开型继电器触点回弹抑制仿真与试验研究

·研究与分析·电器与能效管理技术（2019No．5

）

周学（1983—），男，副教授，研究方向为智能电器电弧理论。

周雨馨（1996—），

女，硕士研究生，研究方向为电弧电接触仿真。郭振国（1990—），男，工程师，研究方向为接触器、继电器仿真。

常开型继电器触点回弹抑制

仿真与试验研究

周

学，周雨馨，郭振国，梁慧敏，翟国富

（哈尔滨工业大学电器与电子可靠性研究所，黑龙江哈尔滨150001）摘要：电磁继电器作为控制元件被广泛应用于各种电子设备和系统。以某型号

单组常开触点电磁继电器为研究对象，通过试验确认其失效模式为触点熔焊，其失效

机理是由静触点回跳引起的电弧重燃，导致触点熔焊。以此为基础，提出在动、静触点

魏碑体间加挡板的方法，来达到抑制静触点释放回跳，并通过ADAMS 软件分析和继电器试验

闲来笔潭下载验证了该方法的可行性。

关键词：继电器；常开触点；电弧重燃；ADAMS 软件分析；抑制回跳科学研究的艺术

中图分类号：TM 581文献标志码：A 文章编号：2095－8188（2019）05－0023－05

张欧亚

DOI ：10．16628/j．cnki．2095－8188．2019．05．004Simulation and Experimental Study on Spring-back Suppression of

Normally Open Ｒelay Contacts

ZHOU Xue ，ZHOU Yuxin ，GUO Zhenguo ，LIANG Huimin ，ZHAI Guofu

（Ｒeliability Institute for Electric Apparatus and Electronics ，Harbin Institute of

Technology ，Harbin 150001，China ）

Abstract ：Electromagnetic relays as control components are widely used in a variety of electronic equipment and systems．In this paper ，a single group of regular open contact electromagnetic rela

ys as the research object ，through the experiment to confirm that its failure mode is contact welding ，its failure mechanism is the arc rekindling caused by the static contact rebound ，resulting in contact welding．Based on this ，a method of adding baffle between dynamic and static contacts is proposed to suppress the release bounce of static contact ，and the feasibility of this method is verified by ADAMS software analysis and relay test．

Key words ：relay ；normally open contact ；arc rekindling ；ADAMS software analysis ；rebounce suppression

洞察号登陆火星0引言电磁继电器广泛应用于自动控制设备中，随着控制系统的发展，继电器结构变得更紧凑，体积更小，灵敏度更高，工作可靠性要求更高，而触点之间的电弧是影响其寿命与可靠性的重要因素。其影响主要表现为触点电磨损、金属熔化造成触点黏接等故障，因此，触点间电弧是继电器电寿命重点关注的问题。继电器触点种类按接通状态可以分为两种，

常开触点与常闭触点。继电器线圈去激励时，动

触头在反簧与触点反力的作用下开始远离静

，静逐渐恢复到释放位置。动脱离

过程中静会跟随动运动，并以静释

放位置为中心进行抖动，最终静止在释放位置上。

静的这种抖动称为静释放回弹。常开型

电磁继电器（如H 型）内部无静合触点，释放时静

触点及其处于自由振动状态且动触点动能无

法快速消耗，触点需要历经多个周期的大幅度摆

psc动才能静止。当静抖动位置偏向动时，—32—

本文发布于:2024-09-22 20:20:34，感谢您对本站的认可！

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