AMSE
RT:
PW—51 （第Ⅰ卷）
A—250 (第Ⅰ卷）
1．焦距：
射线照相的几何不清晰度由下式决定:Ug=Fd/D
Ug—几何不清晰度 F—射线源尺寸。 英寸(mm）
d-被透照工件的射线源一侧至胶片的距离. 英寸(mm)
厚度英寸（mm) 南澳大学 | Ugmax英寸(mm） |
〈 2(50） | 0.020(0。51) |
〉2—3（50-75) | 0。030（0。76） |
独享体罚之秘密>3-4（75—100） | 0.040(1.02） |
> 4（100) | 0.070（1。78) |
| |
2。透照技术
2.1单壁单像透照：壳体焊缝、平板焊缝和具备单壁透照条件的焊缝均应采用单壁透照。 2。2 双壁透照
2.2。1双壁单像透照：接管、集箱和φ＞3。5英寸（89mm)的管子焊缝采用双壁透照单壁成像方式。当对环焊缝要求全部覆盖时，至少应互成120°作三次曝光.
2。2.2 φ＜3.5英寸（89mm）的接管或管子焊缝可采用双壁透照双壁焊缝同时成像观察的方式.
3。像质计
A 组 | B 组 | C 组 | D 组 |
线径 in. (mm） | 线号 | 线径 in。 (mm） | 线号 | 线径 in。 （mm) | 线号 | 线径 in. (mm) | 线号 |
0。0032 （0。08) | 1 | 0.010 （0。25) | 6 | 0.032 (0.81） | 11 | 0。100 （2.54) | 16 |
0.0040 （0.10） | 2 | 0。013 (0。33) | 7 | 0。040 （1。02) | 12 | 0。126 （3.20） | 17 |
0。0050 (0。13) | 3 | 0.016 （0。41) | 8 | 0。050 （1.27） | 13 | 0。160 （4.06） | 18 |
0。0063 (0.16） | 4 | 0.020 (0。51） | 9 | 0.063 （1。60) 胎盘提取液 | 14 | 0。200 （5。08) | 19 |
0.0080 (0.20) | 5 | 0.025 (0.64） | 10 | 0.080 （2.03） | 15 | 0.250 (6。35) | 20 |
0.0100 （0.25） | 6 | 0。032 （0.81) | 11 | 0。100 (2。54) | 16 | 0。320 （8.13） | 21 |
| | | | | | | |
单壁材料的标称厚度范围 in。(mm) | 像质计 |
射线源一侧 | 底片一侧 |
孔型像质计 指示器线号 | 线型像质计 指示器线号 | 水泥砂浆孔型像质计指示器线号 | 线型像质计 指示器线号 |
≤0.25（6.4） | 12 | 5 | 10 | 4 |
＞0.25(6.4） ～ 0。375(9.5） | 15 | 6 | 12 | 5 |
＞0.375（9。5) ~ 0.50（12.7) | 17 | 7 | 15 | 6 |
＞0。50(12。7) ～ 0.75(19。0) | 20 | 8 | 17 | 7 |
＞0.75（19.0） ～ 1.00(25。4) | 25 | 9 | 20 | 8 |
＞1.00(25。4） ~ 1。50(38.1） | 30 | 10 | 25 | 9 |
＞1.50(38.1） ～ 2.00（50.8) | 35 | 11 | 30 | 10 |
＞2.00(50.8) ～ 2。50（63.5) | 40 | 12 | 35 | 11 |
＞2。50（63.5） ~ 4.00(101.6) | 50 | 13 | 40 | 12 |
＞4.00（101.6) ~ 6.00（152.4) | 60 | 14 | 50 | 13 |
＞6.00（152.4） ~ 8.00（203。2） | 80 | 16 | 60 | 14 |
＞8.00(203。2) ~ 10.00（254） | 100 | 17 | 80 | 16 |
＞10.00(254） ～ 12.00（304。8) | 120 | 18 | 100 | 17 |
＞12.00（304.8) ~ 16.00（406。4) | 160 | 20 | 120 | 18 |
＞16。00（406.4) ~ 20.00（508。0） | 200 | 21 | 160 | 20 |
| | | | |
4．黑度
射线源 | 增感屏 | 观察方法 | 黑度 |
Χ线 | 铅箔 | 单片 双片 | 最小为1.8 每张最小为1。3 | 最大为4。0 复合观片最大为4.0 |
γ线 | 铅箔 | 单片 双片 | 最小为2。0 每张最小为1。3 | 最大为4。0 复合观片最大为4。0 |
| | | | |
（a） 如果射线照相上被检区任何部位的黑度变化超过孔型像质计本体处或线型像质计编号附近的黑度—15％或+30％以上，但仍处于上表规定的最小和最大容许黑度范围内，则对每个超过的区域应加一个像质计并重新拍片.
(b) 当采用垫片时，只要能显示出所要求的像质计灵敏度，而且不超过（a）所规定的黑度范围，则允许超过上表中规定的+30％黑度限制上限。
5。验收标准：
1。1 射线照相的焊缝部分显示出下列类型缺陷应判为不合格；
1。1.1 任何显示特征如裂纹或未熔合或未焊透;
1.1。2 任何条状夹渣长度大于;
（a） t<3/4英寸(19mm）时，为1/4英寸（6mm）
(b) t〉3/4英寸（19mm)～2.25英寸（57mm）时，为1/3t
(c) t〉2.25英寸（57mm）时，为3/4英寸（19mm)
t为不包括允许的焊缝的加强层厚度,对有不同厚度的对接焊接头，t为二者
厚度较薄者。如果一全焊透焊缝包括－角焊缝，则该角焊缝的腰高应计入t内。
1.1.3 任何一直线上的夹渣，在12t的长度内夹渣的总长度大于t者;但相连二者缺陷间的间距超过6L者除外,此处L为该一内最长缺陷的长度。
1.1。4 圆形显示超过ASME规范第Ⅰ卷附录A—250中的验收标准所规定者.
1。1。5 当底片上显示出有突变的根部内凹。
SA-435/SA-435M-90 钢板超声直射波检验（第Ⅴ卷、第Ⅱ卷铁基部分）： 适用于厚度大于和等于1/2英寸（12.5mm)的板材
1。探头
1.1检验采用的标称频率范围为2。0MHz—5MHz。
1.2 探头的标称直径为1英寸～1-1/8英寸（25～30mm）或最小有效面积为0.7in2 （450mm2）
1.3 可采用其它尺寸的探头来评定和精确地测定缺陷信号。
2。仪器的灵敏度
罗兰巴尔特对纵波探伤，仪器灵敏度调节第1次底波至荧光屏高度的75％左右.
扫查应沿垂直或平行主平面轴进行，以不超过3英寸(75mm）的间距对整块钢板作100％扫查.在扫查表面上板的边缘2in(50mm)内应附加扫查。
3. 验收标准
任何能引起底面反射信号全部消失的缺陷信号,而其范围又不能被直径为3英寸（75mm)或板厚之半（取其中的较大值）所围成的圆所覆盖均为不合格。
金属表面耐磨涂层4。 记录
4.1 记录所有引起底面反射完全消失的缺陷.
4.2 记录底面反射降低50％以上但小于100%的分层性缺陷。
4.3 记录引起游动信号并伴随有底波反射降低的缺陷.
4.4 在钢板草图上标出所有应记录的信号位置。
4.5 按本规程验收的钢板应用硬印或印刷方法加注UT435识别标记。
5. 所有报告应提交授权检验师（AI）复审和认可。
另：
SA20 压力容器用钢板通用要求（第Ⅱ卷铁基部分)其中S8 SA—435
SA578 特殊用途普通钢板与复合钢板超声直射波检验 （第Ⅴ卷、第Ⅱ卷铁基部分）
SA577 钢板斜射波检验
（4730中规定钢板在验收时存在问题或由技术协议规定的情况下，才采用斜射波检验)
SA—388 大型钢锻件超声检测（第Ⅴ卷、第Ⅱ卷铁基部分）
SA—788 锻件通用要求（内含S18 MT、S19 PT、S20 UT)（第Ⅱ卷铁基部分）
SA—745 奥氏体钢锻件超声检验（第Ⅴ卷、第Ⅱ卷铁基部分）
（4730中规定筒形和环形锻件应增加横波检测）
1。 探头
1.1 换能器频率为1~5MHz。
1。2 对直射波扫查应使用Φ3/4英寸（20mm)到Φ1英寸（25mm）的换能器，对斜射波扫查换能器可应用5/16英寸×11/32英寸(8×9mm2)～3/4英寸×7/8英寸（20×22mm2）的换能器,
2。 参考试块
当用直射波接触法检验时,用一个包含平底孔的试块来校准设备和确定记录水平。
3。工件要求
凡圆形锻件，应机械加工出圆柱形的表面,以便作径向检验。锻件端面应加工成与锻件轴线垂直，以便进行轴向检验。
圆盘形锻件和矩形锻件表面应加工平直，而且要相互平行。
4。 扫查方向
4.1 直射波检验
4.1。1为了保证整个锻件体积均能被检验到，要求探头每次移动至少要有15%重叠.【19】
4。1.2用直射波扫查圆形锻件，应至少从一个平面和从圆周上的径向进行.
4.1.3用直射波技术扫查实心锻件,应近似互成直角方向进行.
4.2 斜射波检验
4。2。1 环形锻件及其它空心锻件应在两个（正反)环向用斜角技术检验。除非壁厚或几何结构使斜角检验不能进行。
豫公网安备41160202000603
站长QQ:729038198
关于我们
投诉建议