守正创新
一,设备简介
PAUT系统可实现环焊缝和纵焊缝的检测,能够同时实现A扫描、TOFD灰度图像B扫描和相控阵S扫描成像。使用PA检测方法弥补了TOFD检测时产生的上下表面盲区的不足,直观的反应出表面及内部的埋藏缺陷的形态。 相控阵检测的优势:
1. 成像直观
2. 检测效率高
3. 可以存储检测记录
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4. 可检测大壁厚零件覆盖上下表面盲区
C扫描成像,并可快速知道缺陷步进方向的位置
检测除焊缝以外的其他复杂形状零件,对气孔类缺陷检出率较高,同时对焊帽里面的缺陷也可以检出
该系统实现TOFD和PA相结合的扫查检测,该系统能够实现A/B/C/S扫查图像,检测可以实时保存,便于后续查验审核。
二,检测设备
检测的设备:
奥林巴斯的相控阵探伤仪OmniScan MX2
扫查器:IT-SCS05小径管扫查器
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奥林巴斯5Mhz16晶片相控阵探头一对
奥林巴斯10Mhz6mm探头直径TOFD探头一对
检测的原理:
通过扫查器的连接,使TOFD探头和PA探头位于焊缝的两侧,如图:
TOFD和相控阵探头距离需要根据公式的计算和模拟软件的模拟,使角度声速覆盖整个焊缝。
北京和颐酒店女生遇袭检测的界面数据为TOFD和PA图像:
三,人员资质要求
所有进行数据评判和分析人员,应具有超声波二级资质。四,管件表面要求
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被检表面应无油污,灰尘,疏松氧化皮,焊接飞溅和任何妨碍探头正常移动或削弱超声波传播的外来物。被检表面无起伏情况,确保耦合情况良好。
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相控阵探头的校准,相控阵探头的校准分为灵敏度校准、声速校准、楔块延迟校准和TCG校准。
参考试块反射体位置及尺寸
校准时使用标准试块,以基本缺陷尺寸作为灵敏度的判定。校准试块采用TB7567通孔试块,如图:
TB7567
1.声速校准
将探头放置试块不同深度横通孔处进行校准。选择两个不同深度的横通孔,进行声速校准。使每个深度的反射信号穿出闸门,进行选定,过程截图如下:
2.楔块延迟校准
选择一个标准深度的横通孔,进行楔块延迟校准,控制闸门使每个角度对反射体的回波穿出闸门,采集信号,过程截图如下: