文章编号: 100028608 (2005) 0320313203
唐 祯 安3 ,
丁 海 涛, 黄 正 兴, 许 自 强, 李 新
( 大连理工大学 电子与信息工程学院 微系统中心, 辽宁 大连 116024 )
摘要: 针对纳米量级薄膜比热容测定的困难, 根据实验值建立了 S i O 2 (100) 薄膜物理模型.
选取可靠的势能函数描述了分子间的相互作用, 采用分子动力学模拟了它的比热容变化规
律, 在 100~ 600 K 下给出了厚度在 1~ 5 nm 的薄膜比热容对温度和厚度的依赖关系. 计算 结果表明, S i O 2 薄膜在 300 K 下比热容明显低于相同条件下常规体材料的比热容, 且随薄膜 厚度的增加而增大; 随温度升高, 比热容变大, 这同体材料是一致的. 模拟结果揭示了 S i O 2 薄 膜比热容的微尺度效应, 与理论分析基本吻合, 可为半导体微器件的设计提供资料.
关键词: 薄膜; 分子动力学; 比热容; 微尺度效应 中图分类号: O 448
文献标识码: A
本文采用分子动力学揭示 S i O 2 薄膜比热容的微 尺度效应.
引 言
0 在 微 /纳米尺度范围内, 由于各种尺度效应 的影响, 固体薄膜的热物理性质与常规体材料的
有很大不同 1
, 各种材料热物性参数的适用性需 要重新考查和表征. S i O 2 薄膜是现代硅集成电路 ( IC ) 工艺和微电子机械系统 (M E M S ) 器件中最 常用的介质膜, 准确知道它的热物理性质, 对半导 体器件的热管理和热设计有重要参考价值. 微尺 度热分析中, 比热容是一重要参数, 它直接决定了 器件的响应特性, 然而过去很少有人注意到其尺 寸效应问题 2 , 到目前为止, 绝大部分工作都集中 在研究薄膜的热导率问题上. 通过实验技术准确 测定厚度为纳米量级的薄膜热容对测试系统的时 空 分辨率要求很高, 在短期内还存在一定的困
理论基础
分 子动力学方法模拟的基本原理是: 在准遍 态历经假设下, 任何力学量的系综平均等于该力 学量对时
间的平均. 而力学量对时间的平均可以 从经典运动方程所决定的运动轨迹得到. 具体地 说, 模拟从已知或假设分子的空间坐标出发, 给每 个分子赋以一定的初速度, 解牛顿运动方程:
1
F i ( t ) = m i a i ( t ) = m i d 2 r i ( t ) /d t 2
(1)
原子 i 所受的力可由分子力学势函数的负梯度求
得:
F i = - 5V i ( r 1 , r 2 , , r n ) /5r i
(2) 通过数值求解牛顿方程得到一个时间序列, 即可 得到任一物理量的系综平均:
t
难 3 、4
. 与理论建模、
实验技术相平行的计算机模 拟方法, 在这一尺度范围内显示了其优越性.
分子动力学
(M D ) 方法也称做分子动态法, 是材料微尺度热物理性质计算机模拟中常用的一 种 方法. 在分子动力学模拟中, 往往将分子的动 力学行为看做遵循经典牛顿运动定律, 通过求解 某一给定势场中相互作用粒子的运动方程, 得到 分子随时间演化和详细轨道图景, 并由统计力学 计算系统的物理参量. 在典型分子的德布罗意波 长远小于分子平均间距时, 这种近似能够满足要 求 5 . 目前, 国际上采用分子动力学模拟固体导
热过程和导热性质的研究正迅速开展起来 6
. 1
〈Q 〉= Q ϖ ( t ) = li m Q ( r ( t ′) ) d t ′ (3) t
∫
t →∞ 0
因此, 从计算数学的角度来看,M D 方法是微分方
程的数值解问题.
对于系统温度保持不变的正则系综
(N V T ) , 描述该系统的运动方程如下7 :
(4) (5) (6)
r i = p i /m i
Ν( r i , p i ) p i
p i = f i - i U ( r 1 , r 2 , , r n )
f i = - m i 、r i 、f i 、p i 和U ( r 1 , r 2 , , r n ) 分别是第 i 个粒子
收稿日期: 2004201225; 修回日期: 2005203228.
基金项目: 国家自然科学基金资助项目( 5999555025; 50135040). 作者简介: 唐祯安3 ( 19552) , 男, 博士, 教授, 博士生导师, E 2m a i l: tangza@ d lu t . edu. cn.
工程物理、工程力学
大连理工大学学报第45 卷314
的质量、坐标、所受到的合力、动量和其他粒子对态时能量最低这一原理9 , 用牛顿法和共轭梯度
法优化模型后, 采用周期性边界条件, 在正则系综
(N V T ) 中进行动力学模拟. 选择A nde r s en 热其的作用势. 其中Ν是约束温度不变的参数. 由
于温度不变, 系统动能E k 必须满足E k =
系, 所以参数
0 的关
浴10作为温度恒温器, 根据模型的大小和温度的
高低选取足够长的模拟时间百p s 量级使系统
( ) Ν= ∑(p i f i) ∑p i 2(7)达到动态平衡
. 初始速度由高斯型分布随机数发
i i
在分子动力学模拟中, 关于材料系统内粒子间相生器 3 产生, 服从M axw e ll2Bo ltz m ann 分布,
由
COM PA SS 力场确定分子间作用力, 通过V e r l e t
算法产生分子的运动轨迹, 时间步长为1 f s, 每隔
200 f s对分子速度、坐标以及能量等信息进行提互作用势函数U ( r1, r2, , r n ) 的选取非常重要,
它决定了模拟结果准确与否. 本文采用
COM PA SS (co n den s ed2p h a s e op t i m ized m o lecu 2
l a r po ten t i a ls fo r a t om is t i c s i m u l a t i o n s tud i e s) 力
Eϖ2
场8, 这是第一个出自量子力学从头算的力场, 其比热容11 , 即c
V = E 2 -
( ) /k B T 2 , 其中E 为系函数采用级数展开达三项的形式. 对于共价键模
型:
统的总能量, k B 为玻尔兹曼常数, T 为系统的热力
学温度. 图2 展示了不同厚度的薄膜在不同温度
下比热容的变化.
E c o v = E b + E Η+ E < + E x + E c + E i j + E e =
k4(b -xscale
∑[ k2(b - b0 ) 2 +
b
b0 ) 3 +
k3(b -
芒硝矿b0 ) 4 + ∑[ k2(Η-Η0 ) 2 +Η0 ) 3 +
k 3 (Η-
Η
k4(Η- Η0 ) 4 +∑[ k1(1 -co s <) +
<
- co s 2<) +
k2(1 k 3 (1 - co s 3<) +
∑k2x 2 + ∑k (b -b0 ) (b - b′0) + 图1 厚度为2 nm 的S i O
2
(100) 薄膜的物理
模型
b, b′
x
∑k (b -b0 ) (Η- Η0 ) + ∑(b -
F ig11T h e m o d e l o f S i O2 (100) f i l m
th ick n e s s
w ith 2 nm b, Η
b0 ) (k1co s
b, <
< + k2co s 2< + k 3 co s 3<) +
b′0) (k 1co s <+ k 2co s 2<+
∑(b′-
b′, <
k3co s 3<) + ∑(Η- Η0 ) (k co s <+
Η, <
k c o s 2<+ k c o s 3<) + ∑k (Η′-Η′0 ) (Η-
Η′, Η
Η′0 ) (Η-
∑k (Η′-
Η0 ) + Η0 ) co s <+
Η′, Η, <
r0 90 6
r i j q i q j
∑Εi j∑
ij
2 -
3 +
卢凤娟
r ij
r ij r i j
i, j i, j
其中k 为力常数, b0 为键长, Η0 为键角, < 为二面
角, Εij 为能量参数, r ij 为原子间距, q i为电荷量.
函数形式由两部分组成: 键合项和非键合项. 键
合项包括对角和非对角的交叉耦合项, 分别为伸
缩能E b、键角弯曲能E Η、键扭转能E <、键角面外弯
曲能E x 以及它们之间的相互耦合能E c. 非键合
项包括范德华能E ij 和库仑能E e , 分别用来计算
距离两个或两个以上的原子对、不同分子链上原
子对的相互作用力.
图2 不同温度下S i O2 薄膜的比热容
F ig12 Sp e c i f i c h e a t cap a c i t i e s o f f i l m s a t d i ffe r en t
tem p e r a t u r e
由文献查得T300 K 时S i O2 体材料比热
=
-
1 - 1 12
容为0. 745 J K g , 而由图可以看出S i O2
薄膜比热容明显比体材料的小, 从图3 曲线的大
致趋势可知随薄膜厚度的降低, 微尺度效应越来
越显著, 比热容值与常规体材值的差别也越来越
大. 这一模拟结果与P ra s h e r等的理论分析13 相
符. 大致看来, 薄膜比热容随温度升高有上升趋
势, 但变化率不大, 这一结果跟理论分析吻合得不
够紧密, 主要是该方法所得的结果容易受系综温
度控制方法所影响. T ak e o 等用声子谱法对氧化
锆比热容随温度的变化规律做了系统的模拟和阐模拟计算
本课题的计算是在A cce l ry s公司M a t e r i a ls
S t ud i o软件的支持下完成的. 模拟物理模型为无
缺陷的晶体S i O2 (100) 薄膜, 由实验值取S i—O
键长为0. 160 9 nm , S i—O —S i键角为143.
663°, O —S i—O 键角为109. 396°. 按照物质在稳
定状
2
述14 . 薄膜热容与体材值的差异主要是薄膜界面
态的影响增强造成的. 任一材料的界面态与其内© 1994-2013 China Academic Journal Electronic Publishing House. All rights reserved. wwwki
唐祯安等: 二氧化硅薄膜比热容分子动力学模拟
第3 期315
部状态有很大的不同, 在体材料中, 来自表面声子
的贡献可以忽略不计. 但对于薄膜来说, 由于体表
面积之比很大, 仅考虑体声子的贡献不再合适, 必
须同时计及表面声子的影响.
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图3 室温下不同厚度S i O2 薄膜的比热容8 S U N H.
op t i m ized
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ap p lica t i o n s 2
F ig13 Sp e cif i c h e a t cap a c i t i e s o f f i l m s w ith
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10
同条件下体材料值明显偏小. 给出了厚度为1~
5 nm 的S i O2 薄膜比热容对厚度和温度的依赖关
系, 发现室温下薄膜比热容有随膜厚增加及温度
升高而增大的趋势, 但后者变化率不大. 模拟结
果与相关文献的理论分析结果基本一致, 可为半
正气歌序导体微器件的设计提供资料.
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A b s tra c t: D u e to th e d i ff i cu lt i e s o f m ea s u r em en t fo r th e sp e c i f i c h e a t cap a
c i t i e s o f n a no 2f i l m s, a m o de l o f S i O2 (100) th i n so li d f il m s is co n s t ru c ted ba sed o n exp e r i m en t a l va lue s and a re li ab l e po t en t i a l fun c t i o n to p re s en t th e i n t e r ac t i o n o f a t om s is cho sen. Sp e c i f i c h e a t cap ac i ty is s i m u la t ed u s i ng m o l ecu l a r dyn am i c s. S ize an d tem p e ra tu re dep en den t effec t s o f th e f il m s w ith 125nm a t 1002600 K a r e de s c r i bed. T h e sp ec i f i c h ea t cap ac it i e s o f S i O2 th i n f il m s a re ev i den t ly sm a ll e r th an tho s e o f b u l k m a te r i a ls i n th e sam e co nd it i o n and dec rea se w ith th e reduc t i o n o f th i ck ne ss a t 300 K. M eanw h il e th e y i nc r ea s e a s tem p e ra t u r e becom e s h i gh e r, w h i ch is th e ca s e w ith bu l k m a te r i a ls. T h e m i c ro sca l e effec t
is revea l ed and th e re s u l t s a re i n ag reem en t w ith som e th e o re t i ca l an a l y s is p ropo sed i n o th e r s′lite ra t u r e s, w h i ch o ffe r a refe r ence fo r th e de s i gn o f m i c ro 2dev i ce s.
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