SUNRISE 九昱電子〈蘇州〉有限公司
1、 准備工作：
在IM41鍵盤上選擇輿Panle相對應的產品型號，按“SIG ON”進入。
2、 正面畫質檢驗：
1. 全黑階：
檢驗項目：Bright Dot、Line Defect、Light Leakage 檢驗方法：(1)應用18點指壓法，檢驗Bright Dot及其它功能性不良。
（只限於CMO機種）
(2)TAB壓接處手指按壓法，檢驗是否因按壓產生其它功能性不良。
（只限於HSD機種）。
2. W & B、B & W、W & B & W：
檢驗項目：Bright Dot、Line Defect、Light Leakage
檢驗方法：利用黑白對比角度
第十六届上海电视节3. 全紅、全綠、全藍：
檢驗項目：Dark Dot、逆向建模Line Defect、Mura腓特烈大帝
檢驗方法：在紅、綠、藍畫面檢查紅黑點、綠黑點、藍黑點的個數及其它不良。
4. 全白畫面：
檢驗項目：Foreign Material、 stain
檢驗方法：用敲擊棒來回敲15次，檢驗是否因敲擊產生異物掉落及其它功能性不良。
異物判定標準: (csv格式依照異物移動方向與速度可分辨異物位置)
(1)Cell內異物:介於CF基板與TFT基板之間的異物不動。
(2)上偏異物:介於上偏光板與CF基板之間的異物反向。
(3)下偏異物:介於下偏光板與TFT基板之間的異物同向(速度較慢)。
(4) Back Light異物：介於下偏光板輿Back Light之間的異物同向(速度較快)。
5. 灰階（中間階調）
檢驗項目：Mura
檢驗方法：用ND Filter遮蓋，根據廠商及客戶的要求采取相對應的ND值。
CMO：首先用ND8％遮蓋，可視再用ND6％遮蓋。
HSD：用ND3％遮蓋。
備注：此畫面看主要Mura，此畫面Mura做規格等級判定。
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6. 50％全紅、綠、藍：
檢驗項目：Mura、功能性不良
7. 垂直/水平階調：
檢驗項目：Gray Scale Defect、Line Defect、Mura
檢驗方法：檢查階調均勻度及顏。
8. 1 Pixel ON/OFF
檢驗項目：Pixel排列均勻度。
9. 2 Pixel ON/OFF
檢驗項目：Pixel排列均勻度。
10. 邊框
檢驗項目：邊框線
檢驗方法：邊框線顏 左紅右藍，上下白。
11. Crosstalk Test
檢驗項目：干擾
檢驗方法：檢查周邊是否有多余的牽引線產生。
12. Flicker test(green)：
檢驗項目：Filker
檢驗方法：畫面如閃爍用調整棒與半可調電阻呈90度，避免來回多次調整。
13. Full Gray(25%)
檢驗項目：Mura、其它功能性不良
檢驗方法：檢查次要Mura，此畫面Mura不做等級判定。
14. Color Bar
檢驗項目：功能性不良
檢驗方法：檢查彩及順序。（黑、藍、紅、玫瑰紅、綠、水藍、黃、白）
3、 外觀檢驗：
1. 正面檢驗：
1-1偏光板檢驗：
檢驗項目：偏光板刮傷、氣泡、污
1-2鐵框：
檢驗項目：刮傷、污、變形、間隙（采用0.5mm的厚薄規）
2. 反面檢驗：
2-1 背側面檢查：
檢驗項目：銅柱、四邊卡榫、螺絲
2-2鋁制反射板：
檢驗項目：刮傷、污
2-3標簽：
檢驗項目：標簽內容、破損、字跡模糊
2-4連接器：
檢驗項目：燈管線破損、連接器破損
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