(完整版)TP环境测试

※ ※ 目录 Index ※ ※

序号 Item	内容 Contents	页 Page
1	目的	2
2	适用范围	2
3	参考文件	2
4	测试设备	2
5	部门职责	2
6	抽检方法及计划	2-3
7	测试要求	3-5

※ ※ 修改记录 REVISION RECORD ※ ※

版次/修改号Rev.

修改内容 REVISION CONTENTS

修改人INITIATED

日期Date

A/0

A/1

可比非受控价格法

拟定 INITIATED

审核 CHECKED

批准 APPROVED

文件生效日期Inure Date：

DATE

1 目的

规范对TP厂生产的TP产品，执行必要的可靠性试验，监控工艺和品质的稳定性，及时发现品质缺陷重点改善，以满足客户和设计对产品品质的要求。

2 适用范围

3 参考文件

3.1 国际电工委员会IEC60068-2环境试验及中华人民共和国国家标准GB/T2423《电工电子产品环境试验》系列标准；

3.2 本公司产品设计规范及客户对产品的规格要求等相关文件；

3.3 客户有特殊试验或测试要求时，先选用客户测试标准，但如客户标准严酷等级低于此标准，则依此标准执行。

4 测试设备

试验设备：高温试验箱、低温试验箱、冷热冲击箱、恒温恒湿箱、跌落试验机、振动试验机、表面静压试验机、打点机、划线机、铅笔硬度计等。

6 抽检方法及计划

6.1 抽检对象:TP生产车间生产计划内，以工艺生产或出货的TP产品。

6.2 抽检计划:

6.1.1 样品阶段：

6.1.1.1 每款型号必须进行7.1必行试验项目的测试（不包括包装震动试验项目）以及7.2选行项目中的高温保存(240H)、低温保存(240H)、高温高湿保存(240H)试验；

6.1.1.2 每款每次抽样数量：44PCS（不包括相关工程师特殊要求的测试项目数量）；

6.1.2 试产阶段：

6.1.2.1 每款型号必须进行7.1必行试验项目的测试（不包括包装震动试验项目）以及7.2选行项目中的高温保存(240H)、低温保存(240H)、高温高湿保存(240H)试验；

6.1.2.2 每款抽样数量：44PCS（不包括相关工程师特殊要求的测试项目数量）；

6.1.3 量产阶段：

6.1.3.1 每款型号首次量产批次的产品必须进行7.1必行试验项目的测试。测试后，高温保存（120H）、低温保存（120H）、高温高湿保存（120H）的产品若为良品，可继续7.2选行项目中的高温保存(240H)、低温保存(240H)、高温高湿保存(240H)试验；若产品所用材料与其它已测试过的产品相同（不论型号），就不必安排每个产品型号都做7.1必行试验项目中的打点试验、表面硬度试验，只需要每周安排一次即可（需要出货的产品必须进行7.1必行试验项目中的包装震动试验)；

6.1.3.2 持续例行抽检本型号的其它批次的产品只需进行7.1必行试验项目中的高温保存(120H)、低温保存

(120H)、高温高湿保存(120H)、冷热冲击试验。

6.1.3.3 每款型号首次量产批号的抽检数量：29PCS（包括相同材料的产品每周必须抽检的数量）；

6.1.3.4 持续例行抽检本型号的其它批次的数量：20PCS ;

6.1.4 重要客户型号的产品：

6.1.4.1 重要客户的型号产品必须进行7.1必行试验项目以及7.2选行试验项目；

6.1.4.2 每款抽样数量：根据打样情况抽取。

7 测试要求

7.1 必行试验项目

若客户无特殊制定的测试要求，TP厂生产的产品(包括新样品，试产品和量产品)都必须要进行并且全部通过以下试验项目，以下试验项目是TP厂生产产品的可靠性最终评价标准。

序号	测试项目	测试条件	兵动三国抽样数量	判定标准	备注
A-1	高温保存	80+/-3℃ 120H	5pcs	试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	外观不良线性良品
A-2	低温保存vb编程	-40+/-3℃ 120H	5pcs	试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	外观不良线性良品
A-3	高温高湿保存	60+/-3℃ 90+/-3%RH 120H	5pcs	试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	外观不良线性良品
A-4	冷热冲击保存	-40℃ 30min→80℃ 30min 10cycle	5pcs	试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	外观不良线性良品（可与反应时间共用）
A-5	打点试验	R0.8mm 60°的橡皮头；荷重：150g 频率：3次/1秒打点次数：100万次打点区域：TP中心	2pcs	测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	外观不良线性良品（但外观不可有裂纹等）
A-6	划线试验	R0.8mm的POM材质笔头；荷重：150g 速度：60mm/秒划线次数：10万次划线区域：AA区以内，距离AA区边缘3mm	2pcs	测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	外观不良线性良品（但外观不可有裂纹等）每2万次换一次笔头
A-7	表面硬度	铅笔法荷重 500g	5pcs	≥3H	外观、线性不良品
A-8	反应时间	DC 5V	5pcs	≤10ms	外观不良线性良品（可与冷热冲击保存共用）
A-9	包装震动	10-55HZ 0.75mm 1H	1箱	测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	本试验项目只针对量产品

7.2 选行试验项目

对于TP厂生产的产品，可选择进行以下试验项目；除个别客户特殊要求以外，以下试验项目不作为对TP厂生产的TP成品可靠性的最终评价，仅作为TP厂内部试验对产品的评估参考。

序号	测试项目		测试条件	抽样数量	判定标准	备注
B-1	王充论文与道高温保存		80+/-3℃ 240H	5pcs	试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩmoto q8，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	外观不良线性良品
B-2	低温保存		-40+/-3℃ 240H	5pcs	试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	外观不良线性良品
B-3	高温高湿保存		60+/-3℃ 90+/-3%RH 240H	5pcs	试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	外观不良线性良品
B-4	钢球冲击试验		dia 13mm钢球从50cm处冲击膜面2次	5pcs	试验后产品无破损，变形及开裂等外观不良现象	外观、线性不良品
B-5	表面静压测试		下压速度：10mm/min ； 4边缘支撑 16mm 直径圆压头(r=20mm)；50N 压力 1min 在TP中心	5pcs	试验后产品无破损，变形及开裂等外观不良现象	外观、线性不良品
B-6	包装跌落		76cm 4角,3边,6面各一次坠落地面：大理石	1箱	测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	本试验项目只针对量产品
B-7	ESD	表面	±15KV C:150pF R:150ohms 5点，每点10次	5pcs	测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	外观不良线性良品
		端子	±1KV C:100pF R:1500ohms 4端每个端子3次	5pcs	测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	外观不良线性良品
		端子	±300V C:200pF R:0ohms 4端每个端子5次	5pcs	测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG	外观不良线性良品