国防科技信息中心
TCD 10： 50B ON 故障检查项目：1.主副MICOM故障检出旗号码。2.检查安全回路，50B主要线圈（—）。3：检查输入缓行器，依照50B ON—OFF 确认主MICOMX50B($11E1)副MICOM X50B ($E85162) 资料运算正常。4.检查输出缓行器。电梯停止确认 50B线圈（—）和GD 之间之电压。5.MPU 和FIO 之间 FA，FB 连接器正常否？6.更 换班FIO 。7.更换班MPU ：更换班FIO 之后，不正常条件。8.ACR P15 N15 电压测试或更换 ACR。
TC D 11：10T ON-OFF 故障检查项目：1.读出Z10TE （13F9）资料。2.MIC
接点及互锁连接条件。3.10T 电磁接触器。4.10T 使用电源. AC100V—C100(MG.BR)—GD; AC100V—32FC16—32FC15(10T ON时)，输入缓衡器电源；DC 48V—RECT—GD;
DC48—32FH114—GD (10T ON时) 5.电梯运转中间宣告低于表示旗号. Z10T (10DE) X10T (11E2) （11E3）检查输入缓衡器。6.更换班 FIO .
TCD 12：15B ON OFF 故障检查项目：1。MIC 连接器接触和互锁条件。连接器—32FH/2 。 21FH/12 。2。15B 接触器和辅助接点。3。50B A 接点。4。15B 线圈电压 DC 100V。5。输入缓行器DC 48V FH/12—GND（15B ON 时）。6。15B OFF 时
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间。15B 10T 同时 OFF， 15B 输出缓行器短路，更换 FIO。7。输出缓行器 V15B （副 E8 58AA）和输出缓行器 X15B（副 E85010—4）中间宣告，有时不正常，更换 FIO。
TCD 15: 共同MICOM 失败检查项目: 1。检查WDT 主.副 MICOM ON. 2。主MICOM 失败 (TCD15 副 MICOM 测检出) ，主MICOM 藉以声明频率监测计数器#66 故障.副 MICOM 藉以旋转频率监测计数器 #5A 故障. 3。副 MICOM 失败 (TCD 15 主 MICOM 测检出). 副MICOM 藉以声明频率监测计数器 #58 故障. 主 MICOM 藉以旋
转频率监测计数器 #65 故障。4。WTD 连接电源 ON OFF。假如 WTD 本身送出主，副MICOM 灯没亮，MICOM 重新检查电源可能 ON OFF。MICOM 不能重新操作，更换
MPU。5。有关噪音电磁和错误工作防范措施。
TCD 16：并联通信故障检查项目：1。通信检出号故障。主县长MICOM：LPERF（13E9）。副 MICOM：LLPERF（E84A7E）TLPDCE（E85A12）。2。主，副 MICOM
指定码。（$4118----$E88010） (4119----E88012) (411A-----E88014) (411B----E88016) (411C----E88018) (411D----E8801A) (411E----E8801C) (411F----E8801E) 主MICOM资
料位址4118—F，副MICOM资料位址 8010—F 相同否3。确认检查资料：副MICOM LPMTB （6）（
7）每—资料增加和减少。4。碓认所有清除否。5。确认主，副MICOM 失败。确认主，副MICOM失败藉以故监测。TCD 17：车厢SDA 通信不正常。检查项目：1。故障检出旗号：主 MICOM LSDAIE（123B）检出资料 80。2。使用 SDA 通信 LED。SDA 共同接收同时发生信号SYCD1 LED 灯亮，碓认厢上 SDC—PCB和控制 MPU—PCB LED 不亮或闪烁不定。3。
连接本身通信电缆：检查电缆分开和接触不良 MIC。4。Y2—1 ：DC 12V 是否正常。
Y2—2
MPU 3-----------------1 SDC
4-----------------2
2-----------------3
1-----------------4
Y2---5
（1）检查主电脑 123A 第一位数是否加一累进闪烁（如果不是，更换 MPU或 EPROM）。（2）检查主电脑 138A 第二位数是否为加一累进闪烁（如果不是可能为 MPU 或 SDC 不
良）。5。SDA 通信不正常。主 MICOM LSDAC（123A）是 01 电源接通之后和 LSDARX （10） 7—4 不是 01 MPU SYCD1 LED 闪烁不定，SDC PCB 更换，因为厢上 SDC 错误。时域和频域
TCD 20：双重输入缓行器故障。检查项目：1。主，副 MICOM 故障检出旗号。主副 MICOM 故障检出旗号 ON。主，副 MICOM 故障检出，因为在这时检查命令资料，输入缓行器失败。只检出两个 MICOM 其中之一，它是必须确认这是并联通信埠不
正常，共同 MICOM 失败。2。确认双重输入资料不同信号。双重输入资料是跟随确认信
号相同否。LPMTB （0）----XCVCH XFML X40D X50BC X10T X50B X50B
LPMTB （0）
LPMTB （1）SPARE X40G XSDS1D XSDS2D XDLS XSDSIU XSDS2U XULS
LPMTB （1）3。双重输入缓行器。主，副 MICOM 两者操作，有关双重输入缓行器
在控制回路图。4。带形电缆插入连接器，确认分开，接触不良。5。更换 FIO PCB。6。更换 MPU PCB。
TCD 21：过电流检出检查项目：1。检查连接器装置。 ACR---FB，FC，FA，（使用在主回路控制连接 BDC 和连接电缆） WPU---FF BDC----FA 。2。电压： ACR PCB P5V 。3。变频器接线：U，V，W。X，Y，Z。正确。4。HCTA：执行检查 HALL CT 目的， HCTA 或 HCTU。V 位置互换的可能。5。检疫查电源晶体。
♁\Analogue taester Digital tester
B C ∞39KΩ
C B 14Ω∞
B E 55Ω100Ω
E B 30Ω100Ω
C E 10Ω∞
E C ∞39KΩ
6．检查 VR1 设定值（VR1：使用可变电阻对电流检出）用数字电表测量 ACR PCB FF2---GND 之间的电压。
福建闽江学院Motor Rated Output （马达输出值）Set Value –DC (V)
（设定值）
3.7 /
4.5 KV 6.51
4.5 /
5.5 KV 7.76
5.5 / 7.5 KV 9.12 7.5 / 9.5 KV 5.92 9.5 / 11 KV
6.74 13 / 15 KV 9.05 15 / 18 KV 6.44 18 / 22 KV 6.44
TCD 22：过电压检查项目：1检查连接器装置 BDC—MJ， FA， MH（再生晶体管连接 MIC）。 ACR—FA， FC。MPU—FF。2检查电压。测量 BDC PCB CH1
—CHG之间电压，（设定值：DC 7.8V 调整VR1，微调电阻，测量时调速机S/WOFF）。3再生晶体管：接线分开检查测试，
♁\Analogue taester Digital tester
B C ∞195KΩ
C B 14Ω∞
B E 65Ω95Ω
E B 55Ω96Ω
C E 10Ω∞
中国图学学会
E C
4重新操作：完全没有滴答声作响，就是正常。5假如不能确定发生现象及原因，更换ACR，BDC PCB。
TCD 26：SPEC表（RAM）总数故障，检查项目：1， SPEC表不正
常频繁。藉以计数器 #26 资料故障监测。2，检查 SPEC 表 RAM。电源 OFF 之前，VHSUM （副脑：E85990）资料记录和电源 ON 之後资料有时不正常， RAM 不良之原因 MPU 更换。
TCD 27：重复故障检查项目：1。了解故障发生状况。在故障监测器读出资料直接出失败原因。2。确认TCD 27 原因。确认以发生模式资料值 T59CW（E85A20）和 T99EC （E85A24）。3。确认 T99EC ≥6，必须确认安全装置时常发生，因为乘客自行自处理4。T59CW > 12：检查原因失败。TC 31 100R故障。检查项目：1。100R继电器。（1）检查100R操作条件；（2）常闭（A）
接点弯田曲；2。MIC连接器接触和互锁。FIO—FC，FH；3。连续测电缆，100R A 接
点连接 FIO板 FH/2 4。FIO PCB （1）外部图；（2）1000R继电器强制 ON故障“31”
检出。假如没有再次重复失败和不能出原因更换 FIO PCB板。
TCD 32 抑制回路不正常检查项目：1。检查连接器装置。MPU—FF
ACR—FC 2。连续测试扁刑电缆。MPU FF11—ACR FC11， MPU FF15—ACR FC15 3。ACR P5V。4。ACR PCB。自外部观察点比较流电 IC 不正常？依照图面 PCB 粗
模式不良。5。更换 ACR。
TCD 33 ACR 电路电源不正常，检查项目：1连接器和 MIC装置条件；MPU—FF ，ACR—FC ，MC—MIC ，2。连续测试电缆；MPU板FF15—ACR板FC15；MPU板FF11—ACR板FC11。3检查P15V
电压。 P15—GNG之间 DC15V； N15—GND 之间 DC –15V；假如 DC15V不正常，检查如下：MC MIC之间#1—3大约AC38V ，MC MIC
#1—4之间大约 AC38V； TR2 变压器主要电压每相约 210V；4。更换 ACR PCB。
TCD 34 再生口晶体 ON故障，检查项目：1。连接器和 MIC 装置条件。MPU—FF ACR—FA， FC； BDC—FA， MH （MIC）2。每—电缆之连接，再生晶体—BDC MH3 BDC FA15—ACR FA15 ACR FC17—MPU FF17；3电源电压，3ø
R。S。T。之间电压，转换器输出电压；4。RST电阻测试；5。再生晶体测试：♁—\Analogue taester Digital tester
BÆC ∞49．5 KΩ
CÆB 14Ω∞
BÆE 65Ω95Ω
EÆB 55Ω96Ω
CÆE 10Ω∞
EÆC ∞48．8 KΩ
6．主晶体测试；7。更换 BDC PCB。
TCD 35 40D， 40G，ON 故障，检查项目：1检查故障检出旗号，
FFB ON 之情况-----Z40ER（13F7）， FFB OFF 之情况----计数器6C MODE 2，确认 0 BIT ON—X40G 不好，1 BIT ON—X40D 不好；2。GS ， DS，接触良否；3。40D 继
电器接点；4。通信示码机确认 X40G， X40D。确认水平 OPEN， CLOSE 交换旗号 X40G （主 11EE）和 X40D（主 11E4 副 E85010—4 BIT）
TCD 36 运转命令输入缓行器 ON 故障，检查项目：1。故障检出旗
号，主 MICOM ZUDBER（13F6） -----0 BIT ON 厢上低速模式，门回路短路， MSB UP DN B/T ON， -----1 BIT ON 厢上低速模式，车厢按钮顶楼和底楼 ON ，-----2
BIT ON 机房低速模式，压下 UP， DN，按钮或门回路短路 KEY ，ON；2。按钮和 KEY S/W。主 MICOM ZX43X（118B）：（1）0 BIT ON ，MSK UP 。DN 按钮失败；门回路短路 KEY ON 没有交换（2）1 BIT ON MSB UP。DN 厢内顶楼
>高辛烷值
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