硅片规格说明书

硅片产品规格说明书
一、目的和用途:
加强对硅片的供方管理和质量管理
马鬃蛇
二、适用范围:
适用于125×125单晶,156×156多晶硅片
三、各项指标:
项目
方法
标准
工具
外包装
SF/03-JY-026
外包装完整,防摔、污、潮的措施完备
广丰县教育局目测
外形尺寸
125×125或156×156见方尺寸
 
允许误差±0.5mm老电工老王和李小燕
 
硅片对角线误差±0.5mm
 
所检每片硅片的平均厚度170μm
MS-203
所检每片硅片的平均厚度值:基本尺寸±20μm
 
所检硅片总体平均值允许误差:±10μm
 
硅片(同一片厚度)TTV≤30μm
MS-203
两个边的垂直度90°±0.3°
 
硅片无目视翘曲(翘曲度≤15μm)
目测、塞尺
倒圆角误差≤0.5mm
模板
外观检验
表面:洁净无残留硅粉,无污染、斑、颜均匀一致,无目视可见破损及针孔
目测
油污:面积小于20%且手套擦拭后变为较淡
目测
线痕深(高)度≤10μm,整个硅片最多一处线痕
千分尺
晶粒(多晶片):在1cm长区域,晶粒个数小于10个。
 
硅片无可视裂纹、无应力
 
无明显缺角、崩边(亮点)
 
不允许有“V”字形缺口
 
导电类型
P型
RT-110
碳浓度
≤5×1016/cm3
 
射干抗病毒注射液
氧浓度
≤1×1018/cm3
 
晶向
(100)±3°
 
位错密度
3×103个/cm2
 
电阻率
0.5~3Ω.cm
四探针测试仪
3~6Ω.cm
少子寿命
单晶:≥15μs
少子寿命仪
多晶:≥10μs
试制检验
重返时间之旅
200μm以上厚度:试制平均效率16.03%,碎片率≤3.0%G档率≤1. 5%,合格率93.5%,300≤批量≤2400
试制检验
180μm厚度:试制平均效率16.03%,碎片率≤4.0%G档率≤1. 5%,合格率92.5%,300≤批量≤2400
多晶
200μm以上厚度:试制平均效率15.1%,碎片率≤3.5%G档率≤1.5%,合格率93%,300≤批量≤2400
180μm厚度:试制平均效率15.1%,碎片率中国图书馆学会≤4.0%G档率≤1. 5%,合格率92.5%,300≤批量≤2400

本文发布于:2024-09-22 11:36:56,感谢您对本站的认可!

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