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芯片烧录测试设备及方法[发明专利]

专利名称：芯片烧录测试设备及方法专利类型：发明专利

发明人：林宗毅

申请号：CN201710036095.6

申请日：20170117

公开号：CN108318799A

公开日：

20180724

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：一种芯片烧录测试设备及方法，芯片烧录测试设备包括基座、载盘、探针板、放置架、驱动机构及主机装置。载盘可叠置在承载芯片的托盘上，并能在叠置后藉由同时翻转托盘与载盘而使多个芯片倒置在载盘之上。探针板安设于基座上，探针板包括多个探针。放置架设置于基座上，放置架用以提供载盘放置后对应探针板。驱动机构设置于基座上，用以移动探针板或载盘，以使倒置在载盘上的多个芯片的接脚接触探针。主机装置是与探针板电性连接，用以在芯片的接脚接触探针板的探针时，对多个芯片进行测试或数据烧录。

申请人：崇碁科技股份有限公司

地址：台北市内湖区堤顶大道2段411号1楼

国籍：TW

代理机构：北京律诚同业知识产权代理有限公司

本文发布于:2024-09-23 15:19:30，感谢您对本站的认可！

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