JTAG功能说明以及故障分析
提示：在进行JTAG测试之前，确保每块板卡在上电前已经完成短路测试，并且上电后测量每点电压正常。 1 Infrastucture JTAG链测试
Infrastructure测试主要是由三部分组成的,Capture, Identification,以及Trst功能测试,该测试主要是测试芯片的JTAG的TAP控制器基本功能是否正常,如果该项测试通过,可以认为芯片的供电基本正常,JTAG控制器相关的五个管脚焊接正常，芯片JTAG控制器工作正常。可以支持下一步的JTAG测试.(注释: 上电最好等待1秒以后再进行JTAG测试,等待芯片上电自身初始化结束以后，否则Infrastucture测试可能会出现问题)。 如果该项目的测试出现问题，可以首先关注供电是否正常，确保每个工作点的电压都正常。其次是JTAG的接插件焊接是否正常，焊接的是否平整，然后考虑提供给芯片的几个基本信号是否有，TMS，TCK，TDO，TDI，TRST这些信号是否都有（示波器测量），以前出现过很多上拉电阻短路的情况，这个需要注意。测量的时候注意测量244驱动器的前后是否都 有，驱动器异常的可能性还是很高的。注意，FPGA和EPLD这些可编程逻辑器件不需要TRST信号。在分析问题的时候，可以从Infrastructure的第一项开始考虑，capture测试不需要TDI信号输入给芯片，只需要TMS信号和TCK信号就可以有TDO输出，便于分析和解决问题。最后去考虑芯片的焊接是否正常。对于某些芯片infra不过，还需要考虑是否reset信号常低输入给芯片，导致其工作不正常。
2 Interconnection连接测试
这个测试主要是测试在支持JTAG功能的芯片之间的连接是否正常以及芯片外置的上拉和下拉电阻配置是否正常。各芯片设置在JTAG功能的EXTEST模式。在Infrastructure测试通过的基础上才能进行该项测试。（注意，在测试之前，确保各卡之间的接插件连接到位，而且供电正常）
如果该项目的测试出现问题，很可能是芯片的焊接问题，也可能是串联在电路里面的串联电阻断路，虚焊，现在维修下来的情况，电阻没有焊好的概率比较大。还有一种可能性，
就是上下拉电阻和电源地短路，这个问题也算比较常见的，需要加以注意。可以在分析报告中到是哪个netlist出错，进而进一步定位该netlist是连接哪几个芯片的哪几个管脚，经过那些电阻，然后对这两个芯片进行补焊处理。
3 SDRAM 测试
该项测试仅仅完成在CPU和SDRAM芯片之间连接测试,因为SDRAM本身不支持JTAG协议,我们只能用读写不同地址的不同数据线来完成对SDRAM的扫描工作。该测试仅仅在使用到SDRAM的时候才会用到
问题分析：一般来说，SDRAM芯片的管脚间距较大，焊接问题较少，如果出现问题，将问题定位于CPU的焊接可能性大。如果通过了D40_D42的buffer测试,基本上可以确定数据总线没有问题,如果已经通过前期的interconnection测试,我们认为认为基本上地址总线也是正常的,这个时候可以先去关注SDRAM的时钟,在JTAG测试的时候是否有时钟给SDRAM的管脚上，SDRAM的时钟驱动器是否工作正常。然后再用示波器观察SDRAM的片选，以及其他的几个控制信号。
4 FLASH测试
和SDRAM一样，FLASH自身不支持JTAG协议，但是和SDRAM不同的是，FLASH可以支持特殊的命令字,当我们通过地址和数据线输入RD_ID这个命令字的时候，如果FLASH工作正常，我们就可以从数据线上读到FLASH的identification，如果RD_ID正常，我们认为一般来说该FLASH可以工作正常，后面的读写以及校验操作肯定是正常的。注意，auto_write信号不正常的时候，可能也可以通过rd_id操作，因此要特别测量一下这个信号的质量。
如果通过了D40_D42的buffer测试,基本上可以确定数据总线没有问题,如果已经通过前期的interconnection测试,我们认为认为基本上地址总线也是正常的
当该项出现问题的时候，一般检查FLASH的焊接先，因为FLASH的管脚间距相对较小，然后检查FLASH的控制命令字信号线是否正常，用示波器测量。
4 ID_PROM测试
和FLASH一样，IDPROM自身不支持JTAG协议，但是和FLASH类似，我们通过BUSTEST命令做一个最简单的读写操作，如果该命令通过，我们认为一般来说该IDPROM可以工作正常，后面的读写以及校验操作肯定是正常的。
当该项出现问题的时候，一般检查芯片的焊接，芯片的几个地址位是否正常，基本的供电是否有，然后可以用示波器监控数据和时钟线，IDPROM出现问题的概率相对较小。
5 CLUSTER测试
CLUSTER测试的基本思想就是真值表，自定义在那些管脚输入多少值，然后自定义在其他管脚相同时刻我应该读到什么值。驱动器的测试就是根据这个道理实现的。在MXC20中，我们还可以根据这个原理，实现对告警输入输出的校验（ALARM），点灯（LED）测试等。
当该项测试出现问题的时候，需要对照原理图，查相关电路。所以这类问题，需要比较清楚的知道电路的工作原理，具体问题具体分析，最好就是在跑JTAG测试的时候，一步一步从信号的源头开始向接口侧查问题。点灯测试的时候，发光二极管受损的概率较大，可以检查这个问题，一般来说这类测试出现错误的概率较小。
特别注意，JTAG测试只是针对数字芯片才能实行，所有的测试项也是针对数字信号，对模拟侧则无法测试，特别是时钟信号无法测量，无法保证时钟信号的正常可靠，所以通过JTAG测试无法保证业务一定正常。比如E1，E3，光口，以太网等业务。
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