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一种单比较器的BLDC控制电路的堵转检测方法及系统[发明专利]

专利名称：一种单比较器的BLDC控制电路的堵转检测方法及系统

专利类型：发明专利

发明人：艾纯，谭盼

申请号：CN201811620477.4

申请日：20181228

公开号：CN109856537A

公开日：

20190607

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明公开了一种单比较器的BLDC控制电路的堵转检测方法及系统。所述堵转检测方法，包含以下步骤：S2，检测位置信号；S3，信号值是否发生变化，若信号值变化了，执行步骤S6，反之执行步骤S8；S6，翻转次数是否大于堵转限次，若翻转次数大于堵转限次，确认产生堵转现象；反之执行步骤S8；S8，检测次数是否小于检测限次，若检测次数小于检测限次，则执行步骤S9，反之则确认产生堵转现象；S9，维持次数是否大于滤波次数；若维持次数大于滤波次数，确认换相，反之，执行步骤S2。

申请人：神驰机电股份有限公司

地址：400708 重庆市北碚区童家溪镇同兴北路200号

国籍：CN

代理机构：重庆市前沿专利事务所(普通合伙)

代理人：郭云

本文发布于:2024-09-23 12:24:00，感谢您对本站的认可！

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