可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质[发明专利]

(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201911118718.X
(22)申请日 2019.11.15
(71)申请人 中国电子产品可靠性与环境试验研
究所((工业和信息化部电子第五研
究所)(中国赛宝实验室))
地址 510610 广东省广州市天河区东莞庄
路110号
(72)发明人 潘广泽 罗琴 李小兵 黄创绵 
王远航 成克强 杨剑锋 刘文威 
丁小健 董成举 
(74)专利代理机构 广州华进联合专利商标代理
有限公司 44224
代理人 刘羚
(51)Int.Cl.
G06F  17/18(2006.01)
G06F  17/15(2006.01)G06F  30/20(2020.01)G06F  119/02(2020.01)
(54)发明名称可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质(57)摘要本申请涉及一种可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质。涉及工程技术领域。所述方法包括:首先获取目标产品的各个性能特征维度对应的寿命分布函数,得到多个寿命分布函数,该寿命分布函数用于表征该目标产品不同寿命时长的概率;然后对该多个寿命分布函数进行数据点采样,得到多个采样数据点集合,每个该采样数据点集合对应一个随机概率值,每个该采样数据点集合包括该各个性能特征维度在对应的概率值下的寿命时长;最后基于该多个采样数据点集合,得到该目标产品的整合寿命分布函数。采用本方法能够降低对产品可靠性评估的误
差。权利要求书2页  说明书13页  附图4页CN 111104644 A 2020.05.05
C N  111104644
A
1.一种可靠性评估方法,其特征在于,所述方法包括:
获取目标产品的各个性能特征维度对应的寿命分布函数,得到多个寿命分布函数,所述寿命分布函数用于表征所述目标产品不同寿命时长的概率;
对所述多个寿命分布函数进行数据点采样,得到多个采样数据点集合,每个所述采样数据点集合对应一个随机概率值,每个所述采样数据点集合包括所述各个性能特征维度在对应的概率值下的寿命时长;
基于所述多个采样数据点集合,得到所述目标产品的整合寿命分布函数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取目标产品的各个性能特征维度对应的寿命分布函数,包括:
获取所述目标产品在各个性能特征维度下的测试数据,所述测试数据用于表征所述目标产品在各个性能特征维度下的产品性能与工作时长的关系;
对所述测试数据利用维纳过程,得到所述目标产品的各个性能特征维度对应的寿命分布函数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述多个寿命分布函数进行数据点采样,包括:
生成多个随机概率值;
提取所述多个寿命分布函数上与所述随机概率值对应的数据点。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述生成多个随机概率值,包括:
利用蒙特卡洛法生成所述多个随机概率值。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述多个采样数据点集合,得到所述目标产品的整合寿命分布函数,包括:
根据所述多个采样数据点集合得到目标数据点集合,所述目标数据点集合包括多组寿命时长与随机概率值的对应关系;
对所述目标数据点集合中的所述多组寿命时长与随机概率值的对应关系进行拟合,得到所述目标产品的整合寿命分布函数。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个采样数据点集合得到目标数据点集合,包括:
将每个所述采样数据点集合中数值最小的寿命时长存储到所述目标数据点集合中。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述对所述目标数据点集合中的所述多组寿命时长与随机概率值的对应关系进行拟合,包括:
利用指数分布函数、威布尔分布函数、正态分布函数和对数正态分布函数分别对所述目标数据点集合中的所述多组寿命时长与随机概率值的对应关系进行拟合,得到多个初始寿命分布函数。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述得到多个初始寿命分布函数之后,所述方法还包括:
利用柯尔莫哥洛夫-斯米尔诺夫检验方法检验所述多个初始寿命分布函数;
利用残差平方和最小方法筛选所述多个初始寿命分布函数,得到所述目标产品的所述整合寿命分布函数。
9.一种可靠性评估装置,其特征在于,所述装置包括:
获取模块,用于获取目标产品的各个性能特征维度对应的寿命分布函数,得到多个寿命分布函数,所述寿命分布函数用于表征所述目标产品不同寿命时长的概率;
采样模块,用于对所述多个寿命分布函数进行数据点采样,得到多个采样数据点集合,每个所述采样数据点集合对应一个随机概率值,每个所述采样数据点集合包括所述各个性能特征维度在对应的概率值下的寿命时长;
得到模块,用于基于所述多个采样数据点集合,得到所述目标产品的整合寿命分布函数。
10.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至8中任一项所述方法的步骤。
11.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。
可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质
技术领域
[0001]本申请涉及工程技术领域,特别是涉及一种可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
[0002]在工程技术领域,可靠性是衡量产品质量的重要指标。因此,对产品可靠性的评估显得尤为重要。相关的,可以利用维纳过程对产品可靠性进行评估。
[0003]相关的利用维纳过程对产品可靠性进行评估的过程中,需要先利用维纳方法针对产品在某个性能特征维度下的测试数据建模,得到产品的寿命分布函数,利用该寿命分布函数可以推算出产品的可靠寿命时长,该可靠寿命时长可以作为评估产品可靠性的标准。[0004]然而,相关的利用维纳过程对产品进行可靠性评估的方法中,往往只针对具有单一性能特征维度的产品才有较为准确的评估结果。在产品高集成度发展的趋势下,产品的可靠性会体现在多个性能特征维度上。因此,在利用维纳过程评估高集成度产品可靠性时,会存在评估结果误差较大的问题。
发明内容
[0005]基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够降低误差的可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质。
[0006]第一方面,提供一种可靠性评估方法,该方法包括:
[0007]获取目标产品的各个性能特征维度对应的寿命分布函数,得到多个寿命分布函数,该寿命分布函
数用于表征该目标产品不同寿命时长的概率;
[0008]对该多个寿命分布函数进行数据点采样,得到多个采样数据点集合,每个该采样数据点集合对应一个随机概率值,每个该采样数据点集合包括该各个性能特征维度在对应的概率值下的寿命时长;
[0009]基于该多个采样数据点集合,得到该目标产品的整合寿命分布函数。
[0010]在其中一个实施例中,该获取目标产品的各个性能特征维度对应的寿命分布函数,包括:
[0011]获取该目标产品在各个性能特征维度下的测试数据,该测试数据用于表征该目标产品在各个性能特征维度下的产品性能与工作时长的关系;
[0012]对该测试数据利用维纳过程,得到该目标产品的各个性能特征维度对应的寿命分布函数。
[0013]在其中一个实施例中,该对该多个寿命分布函数进行数据点采样,包括:[0014]生成多个随机概率值;
[0015]提取该多个寿命分布函数上与该随机概率值对应的数据点。
[0016]在其中一个实施例中,该生成多个随机概率值,包括:
[0017]利用蒙特卡洛法生成该多个随机概率值。
[0018]在其中一个实施例中,该基于该多个采样数据点集合,得到该目标产品的整合寿命分布函数,包括:
[0019]根据该多个采样数据点集合得到目标数据点集合,该目标数据点集合包括多组寿命时长与随机概率值的对应关系;
[0020]对该目标数据点集合中的该多组寿命时长与随机概率值的对应关系进行拟合,得到该目标产品的整合寿命分布函数。
[0021]在其中一个实施例中,该根据该多个采样数据点集合得到目标数据点集合,包括:[0022]将每个该采样数据点集合中数值最小的寿命时长存储到该目标数据点集合中。[0023]在其中一个实施例中,该对该目标数据点集合中的该多组寿命时长与随机概率值的对应关系进行拟合,包括:
[0024]利用指数分布函数、威布尔分布函数、正态分布函数和对数正态分布函数分别对该目标数据点集合中的该多组寿命时长与随机概率值的对应关系进行拟合,得到多个初始寿命分布函数。
[0025]在其中一个实施例中,该得到多个初始寿命分布函数之后,该方法还包括:[0026]利用柯尔莫哥洛夫-斯米尔诺夫检验方法检验该多个初始寿命分布函数;[0027]利用残差平方和最小方法筛选该多个初
始寿命分布函数,得到该目标产品的该整合寿命分布函数。
[0028]第二方面,提供一种可靠性评估装置,该装置包括:
[0029]获取模块,用于获取目标产品的各个性能特征维度对应的寿命分布函数,得到多个寿命分布函数,该寿命分布函数用于表征该目标产品不同寿命时长的概率;
[0030]采样模块,用于对该多个寿命分布函数进行数据点采样,得到多个采样数据点集合,每个该采样数据点集合对应一个随机概率值,每个该采样数据点集合包括该各个性能特征维度在对应的概率值下的寿命时长;
[0031]得到模块,用于基于该多个采样数据点集合,得到该目标产品的整合寿命分布函数。
[0032]在其中一个实施例中,该获取模块具体用于,获取该目标产品在各个性能特征维度下的测试数据,该测试数据用于表征该目标产品在各个性能特征维度下的产品性能与工作时长的关系;
[0033]对该测试数据利用维纳过程,得到该目标产品的各个性能特征维度对应的寿命分布函数。
[0034]在其中一个实施例中,该采样模块具体用于,生成多个随机概率值;
[0035]提取该多个寿命分布函数上与该随机概率值对应的数据点。
[0036]在其中一个实施例中,该采样模块具体用于,利用蒙特卡洛法生成该多个随机概率值。
[0037]在其中一个实施例中,该得到模块具体用于,根据该多个采样数据点集合得到目标数据点集合,该目标数据点集合包括多组寿命时长与随机概率值的对应关系;[0038]对该目标数据点集合中的该多组寿命时长与随机概率值的对应关系进行拟合,得到该目标产品的整合寿命分布函数。
[0039]在其中一个实施例中,该得到模块具体用于,将每个该采样数据点集合中数值最

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标签:寿命   产品   方法
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