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直拉单晶炉双CCD测量光学系统[实用新型专利]

专利名称：直拉单晶炉双CCD测量光学系统专利类型：实用新型专利

发明人：曹建伟，李林，张俊，顾临怡

申请号：CN200720111369.5

申请日：20070627

公开号：CN201081707Y

公开日：

20080702

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本实用新型涉及一种测量装置，旨在提供一种直拉单晶炉双CCD测量光学系统。该系统包括依次连接的光路转换系统、CCD摄像头、图像处理卡和微型计算机；光路转换系统用于将图像保持同视角同视场区域同时分解到两个CCD摄像头上；CCD摄像头用于接收光路转换系统传送来的图像并转换成图像信息传送给图像处理卡；图像处理卡用于将CCD摄像头传送来的图像信息进行初步处理并传送给微型计算机；微型计算机用于处理图像处理卡传送来的信息并进行计算分析获得测量结果。本实用新型满足测量直径相差很大的物体和很高的测量速度的要求，使得采用低像素的模拟CCD摄像头在引晶与等径工艺段都能满足控制需要的测量分辨率。

申请人：杭州慧翔电液技术开发有限公司

地址：310013 浙江省杭州市西湖区玉古路149号310室

国籍：CN

代理机构：杭州中成专利事务所有限公司

代理人：唐银益

本文发布于:2024-09-22 22:30:39，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.17tex.com/tex/4/442077.html

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