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一种基于子空间混合抽样的软件缺陷数目预测方法[发明专利]

专利名称：一种基于子空间混合抽样的软件缺陷数目预测方法专利类型：发明专利

发明人：王诗涵，景驰原，童浩楠

申请号：CN202111553410.5

申请日：20211217

公开号：CN114297054A

公开日：

20220408

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明提供了一种基于子空间混合抽样的软件缺陷数目预测方法。该方法包括：基于历史缺陷数据集通过子空间混合抽样生成缺陷预测模型；对测试样本进行预处理；将预处理后的软件样本输入到所述缺陷预测模型，所述缺陷预测模型输出所述软件样本的缺陷数目。本发明通过构造多个特征子空间，实现了子模型的多样性，进而保证后续集成学习的性能。本发明实施例所提出的子空间混合抽样集成算法既避免了欠抽样方法导致的过多有价值正样本被丢弃的问题，又避免了过抽样方法因引入过多噪声数据而降低模型性能的问题。

申请人：北京交通大学

地址：100044 北京市海淀区西直门外上园村3号

国籍：CN

代理机构：北京市商泰律师事务所

代理人：黄晓军

本文发布于:2024-09-22 03:42:16，感谢您对本站的认可！

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