一种芯片测试用例处理方法及相关装置

(19)中华人民共和国国家知识产权局

	(12)发明专利说明书
		(10)申请公布号 CN 114297961 A (43)申请公布日 2022.04.08

(21)申请号 CN202111445180.0

(22)申请日 2021.11.30

(71)申请人山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司

地址 250001 山东省济南市自由贸易试验区济南片区浪潮路1036号浪潮科技园S01楼35层

(72)发明人丁明阳田利波

(74)专利代理机构 11227 北京集佳知识产权代理有限公司

代理人王晓芬

(51)Int.CI

G06F30/33(20200101)

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

一种芯片测试用例处理方法及相关装置

(57)摘要

本申请公开了一种芯片测试用例处理方法，包括：基于预设格式和接收到的测试用例定义数据进行结构验证计划生成处理，得到结构验证计划文件；基于结构验证计划文件对接收到的测试用例数据执行管理操作，得到仿真数据；基于预设仿真流程和仿真数据执行芯片仿真操作，得到仿真结果。通过接收到的测试用例定义数据生成对应的结构验证计划文件，在此基础上，基于结构验证计划文件对接收到的测试用例数据执行管理操作，得到仿真数据，而不是通过人工的方式对测试用例进行管理，提高了对芯片测试用例进行管理的效率和效果。本申请还公开了一种芯片测试用例处理装置、服务器以及计算机可读存储介质，具有以上有益效果。

法律状态

法律状态公告日	法律状态信息	法律状态
2022-04-08	公开	发明专利申请公布
2022-04-26	实质审查的生效IPC(主分类):G06F30/33专利申请号:2021114451800申请日:20211130	实质审查的生效