性能评估装置及性能评估方法[发明专利]

专利名称:性能评估装置及性能评估方法专利类型:发明专利
发明人:余祖法,金杰
申请号:CN201810156857.0
申请日:20180224
公开号:CN108335719A
公开日:
20180727
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:一种性能评估装置及性能评估方法。所述性能评估方法包括:检测存储器控制器的多个存取命令是否发生页错失,以从存取命令中识别至少一个页错失命令;计算所述至少一个页错失命令与先前冲突命令之间的距离作为冲突命令间距,其中所述先前冲突命令与所述页错失命令相冲突;以及依据所述冲突命令间距来评估存储器控制器的性能。
申请人:上海兆芯集成电路有限公司
地址:上海市张江高科技园区金科路2537号301室
国籍:CN
代理机构:北京市柳沈律师事务所
代理人:王珊珊

本文发布于:2024-09-23 22:28:13,感谢您对本站的认可!

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