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一种瑞利圆拱衰落信道的验证系统[发明专利]

专利名称：一种瑞利圆拱衰落信道的验证系统

专利类型：发明专利

发明人：何怡刚，方坤，程彤彤，吴裕庭，黄源，隋永波，袁莉芬申请号：CN201810069525.9

申请日：20180124

公开号：CN108242963A

公开日：

20180703

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：一种瑞利圆拱衰落信道的验证系统，包括RRU、射频输入单元、瑞利圆拱衰落信道仿真单元和终端机。使用终端机对瑞利圆拱衰落信道进行验证：计算瑞利圆拱衰落信道仿真模型的序列；验证仿真模型的一阶统计特性；验证仿真模型的功率谱。瑞利圆拱衰落信道仿真模型是通过仿真单元产生的，终端机根据基带输入信号和基带输出信号计算出衰落信道序列；通过最大似然估计法对衰落信道序列的幅值和相角进行分析，验证仿真模型的一阶统计特性；通过观察功率谱密度函数的形状和带宽验证仿真模型的功率谱。使用本发明，采用最大似然估计法，对瑞利圆拱衰落信道的一阶特性即幅值和相角做出了精准的定量、定性分析。

申请人：合肥工业大学

地址：230009 安徽省合肥市屯溪路193号合肥工业大学电气与自动化工程学院

国籍：CN

代理机构：长沙星耀专利事务所(普通合伙)

本文发布于:2024-09-21 18:43:29，感谢您对本站的认可！

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