一种磁瓦表面缺陷检测系统和方法[发明专利]

专利名称：一种磁瓦表面缺陷检测系统和方法专利类型：发明专利

发明人：文喆皓，张秦玮，姚星辰，雷成名，孟江南申请号：CN201910817272.3

申请日：20190830

公开号：CN110599470A

公开日：

20191220

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明涉及一种磁瓦表面缺陷检测系统和方法，涉及磁瓦表面缺陷检测领。该系统包括：图像采集装置和计算机系统；图像采集装置用于采集磁瓦表面图像，所述计算机系统对所述磁瓦表面图像进行可疑区判断和并将所述可疑区分割出来，得到可疑区图像，提取所述可疑区图像的几何特征、灰度特征和纹理特征，所述计算机系统将所述几何特征、所述灰度特征和所述纹理特征输入到预先训练完成的分类器中，获得磁瓦表面缺陷的检测结果，通过分类识别算法实现高精度分类识别磁瓦缺陷，并实现了自动化检测磁瓦缺陷，减少了人力成本、提高了效率和识别准确率。

申请人：武汉科技大学

地址：430081 湖北省武汉市青山区和平大道947号武汉科技大学

国籍：CN

代理机构：北京轻创知识产权代理有限公司

代理人：厉洋洋

本文发布于:2024-09-23 03:12:50，感谢您对本站的认可！

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