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一种实现版图验证中密度检查的方法[发明专利]

专利名称：一种实现版图验证中密度检查的方法专利类型：发明专利

发明人：李宁，侯劲松，白岩

申请号：CN200810113123.0

申请日：20080528

公开号：CN101593222A

公开日：

20091202

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明涉及一种快速实现版图验证中密度检查的方法，属于IC CAD工具中版图验证领域。密度检查是IC CAD工具版图验证中设计规则检查(DRC)中的一种图形操作。密度检查的基本含义是检查某一层图形的面积在总的区域面积中所占的百分比。有些密度检查要求计算层的图形位于另外一个对照图形层内部时面积计算才有效。它的描述方式是：Density被计算图形层Inside of对照图形层。在这种条件下，密度计算实现难度大。本发明提出了针对上述条件的密度检查实现方法，可以大大提高密度检查有对照层的计算效率。

申请人：北京华大九天软件有限公司

地址：100015 北京市朝阳区高家园1号

国籍：CN

本文发布于:2024-09-22 07:31:22，感谢您对本站的认可！

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标签：检查密度验证

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