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制备X荧光分析用玻璃熔片的玻璃化试剂及其使用方法[发明专利]

专利名称：制备X荧光分析用玻璃熔片的玻璃化试剂及其使用方法

专利类型：发明专利

发明人：王必山，郭峰

申请号：CN200810233919.X

申请日：20081217

公开号：CN101509847A

公开日：

20090819

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明提供了制备X荧光分析用玻璃熔片的玻璃化试剂，由无水四硼酸锂或无水四硼酸锂和偏硼酸锂的混合物与硼酸组成。其使用方法为，X荧光分析时，在冶金熔剂中加入无水四硼酸锂或无水四硼酸锂和偏硼酸锂的混合物后，再加入分析纯的硼酸；或可以按一定的配比，预先让硼酸与无水四硼酸锂或无水四硼酸锂和偏硼酸锂的混合物充分混合，制成快速熔融的玻璃化试剂再与冶金熔剂混合。本发明分析结果准确稳定且大大缩短了冶金熔剂的分析周期，分析周期由一个多小时缩短至最快十五分钟左右，使冶金熔剂X荧光快速分析成为现实；本发明能大大降低熔片成本，根据目前市场价格，节约成本至少40％。

申请人：马鞍山钢铁股份有限公司

地址：243003 安徽省马鞍山市湖南西路8号技术中心

国籍：CN

代理机构：芜湖安汇知识产权代理有限公司

代理人：徐晖

本文发布于:2024-09-20 17:26:44，感谢您对本站的认可！

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