一种USB通路断开保护方法、电子设备、自毁电路及介质与流程


一种usb通路断开保护方法、电子设备、自毁电路及介质
技术领域
1.本技术涉及数据传输的领域,尤其是涉及一种usb通路断开保护方法、电子设备、自毁电路及介质。


背景技术:



2.usb通路指用于传输数据的通路。在生产出电子设备,例如手机后,需要对电子设备进行测试,在机器测试环节,会将被试设备放置在工站上,进行测试、记录、导出机器log、刷机等操作,在这些操作过程中均需要利用被试机设备内的usb通路,由测试机器向被试设备内上传数据,或从被试设备内下载数据,实现被试设备与测试机器之间的数据传输,而当不需要进行数据传输时,则需将usb通路断开。
3.目前多利用受控电路控制usb通路的断开与导通,受控电路通常由软件控制的方式实现,由被试设备输出开启指令至受控电路,受控电路控制usb通路导通,被试设备输出断开指令至受控电路,受控电路控制usb通路断开,以此实现对usb通路的控制。
4.但是,在上述方式下,在不需要进行数据交换时,此时受控电路为断开状态,而受控电路仍可以被其他不法设备控制而使得usb通路导通,使得不法设备可以利用usb通路向电子设备内导入未认证信息或利用usb通路将电子设备内的信息导出,而使得电子设备的信息安全性较低。


技术实现要素:



5.为了提高电子设备的信息安全性,本技术提供一种usb通路断开保护方法、电子设备、自毁电路及介质。
6.第一方面,本技术提供一种usb通路断开保护方法,采用如下的技术方案:一种usb通路断开保护方法,由电子设备执行,所述电子设备包括:处理器、自毁电路、自毁电阻以及裸露通信接口,所述处理器的一端连接于所述自毁电阻的一端,所述自毁电阻的另一端连接于所述裸露通信接口,所述处理器的另一端还连接于所述自毁电路,所述自毁电路与所述自毁电阻连接;其中,所述裸露通信接口用于与外界设备进行信息交互;其中,所述方法包括:当所述处理器检测到满足第一预设条件时,所述处理器向所述自毁电路发送开启命令,以使得所述自毁电路控制所述自毁电阻自毁。
7.通过采用上述技术方案,在处理器检测到满足第一预设条件时,将发送开启命令至自毁电路,以使得自毁电路控制自毁电阻进行自毁,而自毁电阻设置在电子设备的用于与外界设备进行信息交互的裸露通信接口与处理器之间,自毁电阻自毁后,也即完全断开了外界设备与处理器之间的信息交互通路,以使得外界设备难以向电子设备内导入不安全的信息以及难以从电子设备内导出信息,从而可以提高电子设备的信息安全性。
8.在一种可能的实现方式中,所述电子设备还包括:切换开关,所述切换开关包括第一连接端口与第二连接端口,所述处理器的一端连接于所述第一连接端口,所述第二连接
端口连接于所述自毁电阻的一端;其中,所述处理器向所述自毁电路发送开启命令,之前还包括:获取所述切换开关的状态;其中,所述处理器向所述自毁电路发送开启命令,包括:若所述切换开关的状态为断开状态,则所述处理器向所述自毁电路发送开启命令,所述断开状态表征所述处理器与所述自毁电阻之间处于断开状态。
9.在另一种可能的实现方式中,所述获取所述切换开关的状态,之后还包括:若所述切换开关的状态为第一导通状态,则控制所述切换开关切换为所述断开状态,所述第一导通状态表征所述处理器与所述自毁电阻之间处于导通状态。
10.在另一种可能的实现方式中,所述自毁电路包括升压单元以及负载开关;所述升压单元包括输入端、输出端以及回流地,所述输入端连接于所述处理器,所述处理器用于控制所述升压单元按照预设规则升压;所述负载开关包括第一端口、第二端口、第三端口以及第四端口,其中,所述第一端口连接于所述输出端,所述第二端口连接于所述回流地,所述第三端口连接于所述自毁电阻与所述切换开关相连接的一端,所述第四端口连接于所述自毁电阻的另一端,所述负载开关用于将所述升压单元升压后的电压作用于所述自毁电阻。
11.在另一种可能的实现方式中,所述自毁电路还包括保护单元,所述保护单元一端连接于所述第三端口,另一端连接于所述自毁电阻与所述切换开关相连接的一端,所述保护单元用于在流经高于预设电流阈值的电流时,将所在通路断开。
12.在另一种可能的实现方式中,控制升压单元按照预设规则升压的方式,包括以下任意一项:控制所述升压单元升压,所述升压后的电压与自毁时长成正比例关系,所述自毁时长的起始时刻为所述自毁电阻开始自毁的时刻;基于自毁时长与电压的对应关系,控制所述升压单元升压。
13.在另一种可能的实现方式中,所述方法还包括:当所述处理器向所述自毁电路发送开启命令时,启动计时器;确定所述自毁电阻是否自毁成功;若未自毁成功,且所述计时器的计时时长达到预设自毁时长,则所述处理器向所述自毁电路发送终止自毁指令,以使得所述自毁电路控制所述自毁电阻终止自毁;若未自毁成功,且所述计时器的计时时长未达到所述预设自毁时长,则循环执行确定所述是否电阻是否自毁成功,直至满足第二预设条件;所述第二预设条件包括以下任一项:所述自毁电阻自毁成功,且所述计时器的计时时长未达到所述预设自毁时长;所述自毁电阻未自毁成功,且所述计时器的计时时长达到所述预设自毁时长;所述自毁电阻自毁成功,且所述计时器的计时时长达到所述预设自毁时长。
14.在另一种可能的实现方式中,所述确定所述自毁电阻是否自毁成功,包括:若接收到所述自毁电路发送的通知消息,则确定所述自毁电阻自毁成功,所述通知消息用于通知所述处理器,所述自毁电阻在第一预设时间段内的电流值出现异常;其中,所述自毁电路还包括:电流检测单元以及检测电阻;
所述检测电阻一端连接于所述第四端口,另一端连接于所述自毁电阻与所述裸露通信接口连接的一端;所述电流检测单元包含第一输入端口、第二输入端口以及输出端口,所述第一输入端口连接于所述检测电阻的一端,所述第二输入端口连接于所述检测电阻的另一端,所述输出端口连接于所述处理器,用于检测所述检测电阻的电流值,以确定所述自毁电阻在第一预设时间段内的电流值是否出现异常,并在出现异常时,向所述处理器发送所述通知消息。
15.在另一种可能的实现方式中,所述方法还包括:若自毁成功,则控制所述切换开关切换为所述第一导通状态;获取预设测试工具发送的检测结果,所述检测结果是由所述预设测试工具对所述裸露通信接口与处理器之间的通路进行检测后得到的;若所述检测结果表征所述通路断开,则将所述检测结果反馈至服务器。
16.在另一种可能的实现方式中,所述第一预设条件包括以下任一项:接收到用户输入的自毁指令,所述自毁指令用于指示对所述自毁电阻进行自毁;检测到第二预设时间段内未有任何数据写入和/或数据读取;检测到距离上次终止自毁的时间达到预设时间间隔。
17.在另一种可能的实现方式中,所述电子设备还包括专用模块,所述切换开关还包括第三连接端口,所述第三连接端口连接于所述专用模块;所述专用模块用于在所述切换开关处于第二导通状态时,与所述处理器进行信息传输,所述第二导通状态表征所述专用模块与所述处理器之间处于导通状态。
18.第二方面,本技术提供一种电子设备,采用如下的技术方案:一种电子设备,该电子设备包括:处理器、自毁电路、自毁电阻以及裸露通信接口;所述处理器的一端连接于所述自毁电阻的一端;所述自毁电阻的另一端连接于所述裸露通信接口,所述处理器的另一端还连接于所述自毁电路,所述自毁电路与所述自毁电阻连接;其中,所述裸露通信接口用于与外界设备进行信息交互;所述处理器用于执行第一方面所示的usb通路断开保护方法。
19.通过采用上述技术方案,为了将裸露通信接口与处理器之间的usb通路断开,在usb通路上设置一个自毁电阻,处理器通过控制自毁电路进而驱动自毁电阻进行自毁,以实现usb通路的断开,进而外界设备将难以通过usb通路进行数据盗取或不安全数据的导入,提高了电子设备的信息安全性。
20.在一种可能的实现方式中,所述电子设备还包括:切换开关,所述切换开关包括第一连接端口与第二连接端口,所述处理器的一端连接于所述第一连接端口,所述第二连接端口连接于所述自毁电阻的一端。
21.在另一种可能的实现方式中,所述自毁电路包括升压单元以及负载开关;所述升压单元包括输入端、输出端以及回流地,所述输入端连接于所述处理器,所述处理器用于控制所述升压单元按照预设规则升压;所述负载开关包括第一端口、第二端口、第三端口以及第四端口,其中,所述第一端口连接于所述输出端,所述第二端口连接与所述回流地,所述第三端口连接于所述自毁
电阻与所述切换开关相连接的一端,所述第四端口连接于所述自毁电阻的另一端,所述负载开关用于将所述升压单元升压后的电压作用于所述自毁电阻。
22.在另一种可能的实现方式中,所述自毁电路还包括保护单元,所述保护单元一端连接于所述第三端口,另一端连接于所述自毁电阻与所述切换开关相连接的一端,所述保护单元用于在流经高于预设电流阈值的电流时,将所在通路断开。
23.在另一种可能的实现方式中,所述自毁电路还包括:电流检测单元以及检测电阻;所述检测电阻一端连接于所述第四端口,另一端连接于所述自毁电阻与所述裸露通信接口连接的一端;所述电流检测单元包含第一输入端口、第二输入端口以及输出端口,所述第一输入端口连接于所述检测电阻的一端,所述第二输入端口连接于所述检测电阻的另一端,所述输出端口连接于所述处理器,用于检测所述检测电阻的电流值,以确定所述自毁电阻在第一预设时间段内的电流值是否出现异常,并在出现异常时,向所述处理器发送所述通知消息。
24.在另一种可能的实现方式中,所述电子设备还包括专用模块,所述切换开关还包括第三连接端口,所述第三连接端口连接于所述专用模块;所述专用模块用于在所述切换开关处于第二导通状态时,与所述处理器进行信息传输,所述第二导通状态表征所述专用模块与所述处理器之间处于导通状态。
25.第三方面,本技术提供一种自毁电路,采用如下的技术方案:一种自毁电路,所述自毁电路包括升压单元,所述升压单元包括输入端、输出端以及回流地,所述输入端连接于处理器,用于在所述处理器的控制下按照预设规则升压;所述输出端连接于自毁电阻的一端,所述回流地连接于所述自毁电阻的另一端,用于将升高后的电压作用在所述自毁电阻上,以令所述自毁电阻自毁,所述自毁电阻自毁后用于将所述处理器与裸露通信接口之间的连接断开,所述裸露通信接口用于处理器与外界设备进行信息交互。
26.通过采用上述技术方案,自毁电路在控制自毁电阻进行自毁时,处理器控制升压单元按照预设规则升压,之后升压后的电压将作用在自毁电阻两端,自毁电阻在电压的作用下不断积蓄热量,直至熔断,完成自毁,自毁电阻设置在处理器与裸露通信接口之间,自毁完成后,处理器与裸露通信接口之间的usb通路断开,外界设备难以通过裸露通信接口与处理器实现信息交互,以此提高了电子设备的安全性,其次,在自毁电阻自毁的过程中,利用升压单元不断升压,有助于加快自毁电阻热量积累的速率,进而有利于加快自毁电阻的自毁过程。
27.在一种可能的实现方式中,所述自毁电路还包括电流检测单元以及检测电阻,所述检测电阻的一端连接于所述输出端,另一端连接于所述自毁电阻的一端;所述电流检测单元包括第一输入端口、第二输入端口以及输出端口,所述第一输入端口连接于所述检测电阻的一端,所述第二输入端口连接于所述检测电阻的另一端,用于检测所述检测电阻的电流值,以确定所述自毁电阻在第一预设时间段内的电流值是否出现异常,并在出现异常时,发送通知消息;所述输出端口与所述处理器相连,用于将所述通知消息发送至所述处理器。
28.在另一种可能的实现方式中,所述自毁电路还包括负载开关;
所述负载开关包括第一端口、第二端口、第三端口以及第四端口,所述第一端口连接于所述输出端,所述第二端口连接于所述回流地,所述第三端口连接于所述自毁电阻的一端,所述第四端口连接于所述自毁电阻的另一端;所述负载开关还包括第五端口,所述第五端口连接于所述处理器,用于在接收到所述处理器发送的开启命令后,将所述升压单元升压后的电压作用于所述自毁电阻。
29.在另一种可能的实现方式中,所述自毁电路还包括保护单元;所述保护单元一端连接所述输出端,所述保护单元的另一端连接于所述自毁电阻用于与所述输出端连接的一端,用于在流经高于预设电流阈值的电流时,将所在通路断开。
30.第四方面,本技术提供一种计算机可读存储介质,采用如下的技术方案:一种计算机可读存储介质,包括:存储有能够被处理器加载并执行上述usb通路断开保护方法的计算机程序。
31.综上所述,本技术包括以下有益技术效果:1.在处理器检测到满足第一预设条件时,将发送开启命令至自毁电路,以使得自毁电路控制自毁电阻进行自毁,而自毁电阻设置在电子设备的用于与外界设备进行信息交互的裸露通信接口与处理器之间,自毁电阻自毁后,也即完全断开了外界设备与处理器之间的信息交互通路,以使得外界设备难以向电子设备内导入不安全的信息以及难以从电子设备内导出信息,从而可以提高电子设备的信息安全性。
32.2.在自毁电阻长时间仍未自毁成功时,表征自毁电阻出现异常,未在正常时间范围内自毁成功,同时此时升压单元升高后的电压可能处于较高水平,容易使得其他元器件遭受冲击,为此在自毁电阻开始自毁时启动计时器,计时器计时,在计时器的计时时长达到预设自毁时长还未自毁成功,表征自毁电阻长时间仍未自毁成功,故而此时处理器将向自毁电路发送终止自毁指令,终止自毁电路对自毁电阻的自毁,进而提高了电子设备内其他元器件的安全性。
附图说明
33.图1是本技术实施例电子设备的模块连接图;图2是本技术实施例usb通路断开方法的流程示意图;图3是本技术实施例含有切换开关的电子设备的模块连接图;图4是本技术实施例自毁电路的电路图;图5是本技术实施例负载开关与处理器的连接示意图;图6是本技术实施例第一种示例的程序流程图;图7是本技术实施例第二种示例的程序流程图;图8是本技术实施例一种自毁电路的连接示意图。
34.附图标记说明:1、处理器;2、切换开关;3、自毁电路;31、升压单元;32、负载开关;33、电流检测单元;34、检测电阻;35、保护单元;4、自毁电阻;5、裸露通信接口;6、滤波器;7、专用模块。
具体实施方式
35.以下结合附图1-8对本技术作进一步详细说明。
36.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
37.在电脑、手机、平板等电子设备被生产出来后,均需要进行过站测试,例如在站点进行cpu性能测试、网卡测试、导出机器log、刷机等测试,在完成每项测试后需要将测试后的数据上传至服务器内,以便出现问题时,能够及时溯源。电子设备在测试过程中,也需要接收服务器下发的数据,例如在刷机测试中,服务器需要将机器的操作系统传输至电子设备中,以使得电子设备能够进行操作系统的下载与安装。
38.如图1所示,电子设备包括处理器1与裸露通信接口5,裸露通信接口5用于外接外界设备,裸露通信接口5在电子设备内部与处理器1连接,在处理器1与裸露通信接口5之间的通路即为usb通路。其中,裸露通信接口5包括usb接口、type-c接口、debug口以及密钥口。
39.在测试时,服务器通过裸露通信接口5与usb通路实现数据交互。在测试完成后,将不再需要与外界设备进行数据交互。但是不法分子可能会通过裸露通信接口5盗取处理器1内的数据或向处理器1内导入不安全的数据,故而在测试完成后需要将usb通路断开,以阻断外界设备盗取信息或导入不安全信息的路径,提高电子设备的数据安全性。
40.为了实现对usb通路的通断控制,可以采用受控开关的方式实现,受控开关可以是开关管(例如mos管、bjt等开关元件),还可以是继电器开关等,将受控开关串联接在usb通路上,由电子设备内的处理器1控制,处理器1控制受控开关的开关断开,继而使得usb通路断开。
41.但是,受控开关的开关一直处于可控状态,也即当控制受控开关的开关再次闭合时,继而将已经断开的usb通路再次接通,从而可能通过接通的usb通路向电子设备内上传不安全数据或从电子设备内导出数据,以威胁电子设备的安全。
42.故而,为了在电子设备完成测试后,能够完全断开usb通路,以提高电子设备的安全性。本技术实施例提供了一种usb通路断开保护方法,可以由电子设备执行,如图1所示,该电子设备可以包括:处理器1、自毁电路3、自毁电阻4以及裸露通信接口5,处理器1的一端连接于自毁电阻4的一端,自毁电阻4的另一端连接于裸露通信接口5,处理器1的另一端还连接于自毁电路3,自毁电路3与自毁电阻4连接;其中,裸露通信接口5用于与外界设备进行信息交互。
43.具体地,为了能够控制usb通路(处理器1与裸露通信接口5之间的通路)的通断,设置的自毁电阻4串接在usb通路上,当需要将usb通路断开时,自毁电阻4将进行自毁,在自毁成功时自毁电阻4所在位置将变为断路,且无法再恢复,则外界设备无法再通过裸露通信接口5,向电子设备的处理器1发送不安全信息或从处理器1内导出数据,进而可以提高电子设备的安全性。其中,自毁电路3则用于控制自毁电阻4进行自毁,用于接收处理器1的指令,在处理器1需要将usb通路自毁时,自毁电路3将控制自毁电阻4自毁,以实现usb通路的断开控制。
44.进一步地,在如图1所示的电子设备内部结构的基础上,本技术实施例还提供了一种控制usb通路断开的方法,如图2所示,该方法可以包括:步骤s201、当处理器1检测到满足第一预设条件时,处理器1向自毁电路3发送开启
命令,以使得自毁电路3控制自毁电阻4自毁。
45.其中,第一预设条件用于表征需要usb通路断开时的条件。
46.具体地,处理器1检测到满足第一预设条件时,即表征处理器1此时需要将usb通路断开,此时处理器1将输出开启命令至自毁电路3,自毁电路3在接收到开启命令之后,将控制自毁电阻4进行自毁。自毁后的自毁电阻4将变为断路,信息无法通过自毁电阻4所在通路流通,继而实现usb通路的断开控制,并且若此时有外界设备企图经过裸露通信接口5进行信息盗取,但由于电子设备内自毁电阻4已经自毁,故而数据交互的usb通路处于断开,外界设备的不良企图难以实现。
47.进一步地,由于自毁电阻4自毁后无法再恢复,故而外界设备也无法再通过恢复自毁电阻4的方式进行信息数据的盗取与非法信息的导入,进而在实现提高电子设备信息安全性的同时,能够提高安全的可靠性。
48.但是在自毁电阻4自毁的过程中可能会对处理器1产生高压冲击,造成处理器1不必要的eos问题,因此,为了减小在自毁电阻4进行自毁时,对处理器1的影响,参照图3,在处理器1与自毁电阻4之间连接有切换开关2,切换开关2包括第一连接端口与第二连接端口,第一连接端口连接于处理器1用于与自毁电阻4连接的一端,第二连接端口连接于自毁电阻4的一端。
49.其中,在步骤s201中,处理器1向自毁电路3发送开启命令,之前还包括:获取切换开关2的状态。
50.其中,切换开关2的状态包括第一导通状态与断开状态,第一导通状态表征自毁电阻4与处理器1之间处于导通状态,断开状态表征自毁电阻4与处理器1之间处于断开状态。
51.具体地,切换开关2设置在自毁电阻4与处理器1之间,当开关断开时(即自毁电阻4与处理器1之间的通路为断开状态),此时切换开关2的状态为断开状态;当开关闭合时(即自毁电阻4与处理器1之间的通路处于导通状态),此时切换开关2的状态为第一导通状态。
52.具体地,处理器1获取切换开关2的状态的方式,可以包括:自毁电路3正常状态下,在自毁电阻4两端作用一个微小的电压,当处理器1可以检测到微小的电流时,表征切换开关2的当前状态为第一导通状态,若处理器1未检测电流,则表征切换开关2的状态为断开状态。
53.进一步地,处理器1获取切换开关2的状态的方式还可以包括:处理器1可以通过访问内部存储器以确定上次控制切换开关2切换后的状态,并将该状态确定为切换开关2的当前状态,例如:上一次处理器1控制切换开关2切换为断开状态,则此时处理器1访问存储器以确定切换开关2的当前状态为断开状态。
54.进一步地,在处理器1获取到切换开关2的状态后,处理器1向自毁电路3发送开启命令,具体可以包括:若切换开关2的状态为断开状态,则处理器1向自毁电路3发送开启命令。在处理器1获取到的切换开关2的状态为断开状态时,处理器1才发送开启命令至自毁电路3,以令自毁电路3控制自毁电阻4进行自毁,由于切换开关2设置在处理器1与自毁电阻4之间,故而在自毁电阻4进行自毁时,产生的高压冲击将难以通过断开的切换开关2传入至处理器1内,以减小处理器1接收到高压信号而导致产生不必要的eos问题的几率,进而有利于提高处理器1的安全性。
55.另外,若处理器1获取到的切换开关2的状态为第一导通状态,则表征此时虽然需
要进行自毁电阻4的自毁,但是若直接自毁,处理器1将存在损坏的风险。因此,进一步地,为了尽量避免处理器1受到自毁电路3的高压冲击,获取切换开关2的状态,之后还可以包括:若切换开关2的状态为第一导通状态,则控制切换开关2切换为断开状态。
56.也就是说,当处理器1对自毁电阻4进行自毁时,若切换开关2处于处理器1与自毁电阻4的导通状态,此时处理器1还可以控制切换开关2切换为断开状态,也即当处理器1与自毁电阻4之间断开,然后处理器1在向自毁电路3发送自毁电路3开启命令,以控制自毁电阻4自毁。
57.具体地,在本技术实施例中,控制切换开关2切换为断开状态的方式可以包括:处理器1向切换开关2发送对应类型的触发信号,以触发切换开关2进行状态的切换,例如:处理器1获取到的切换开关2的状态为第一导通状态,此时将发送低电平的触发信号至切换开关2,切换开关2接收到低电平的触发信号后将断开开关以使得处理器1与自毁电阻4之间的连接为断路状态。
58.在另一种可能的实现方式中,若处理器1获取到的切换开关2的状态为第一导通状态,即自毁电阻4与处理器1之间导通时,将停止向自毁电路3发送开启命令,以令自毁电路3不进行自毁电阻4的自毁工作,进而提高处理器1的安全性,直至处理器1或人为将切换开关2的状态切换为断开状态,之后在满足第一预设条件时,处理器1再发送开启命令,以令自毁电路3控制自毁电阻4进行自毁。
59.上述实施例中,描述了在切换开关2为断开状态,或者为第一导通状态时,利用自毁电路3控制自毁电阻4进行自毁的方案;在上述任意一种方案中,自毁电路3为了将自毁电阻4自毁,参照图4,设置的自毁电路3包括升压单元31以及负载开关32;升压单元31包括输入端、输出端以及回流地,其中,输入端连接于处理器1,用于接收处理器1发出的开启命令,在接收到开启命令后按照预设规则升压;负载开关32包括第一端口、第二端口、第三端口以及第四端口,其中,第一端口连接于输出端,第二端口连接于回流地,第三端口连接于自毁电阻4与切换开关2相连接的一端,第四端口连接于自毁电阻4的另一端,负载开关32用于将升压单元31升压后的电压作用于自毁电阻4。
60.具体地,参照图5,负载开关32也与处理器1连接,用于接收处理器1发出的开启命令,并在接收到开启命令后闭合,以使得升压单元31与自毁电阻4之间的通路接通,进而可以在自毁电阻4未进行自毁的过程中,减小升压单元31升压后的电压传入电路中,影响处理器1的数据传输。
61.处理器1控制升压单元31按照预设规则升压,并将升压后的电压作用在自毁电阻4两端。根据电阻的热效应,自毁电阻4在电压的作用下,将不断积累热量,当积累的热量达到预设热量值后,自毁电阻4将被熔断,以此在自毁电阻4两端形成断路,实现对自毁电阻4的自毁。熔断属于一种无法逆转的情况,在自毁电阻4被熔断后将无法复原,因此在有外界设备企图盗取数据时,难以令已经断开的usb通路再导通,因此外界设备将难以实现盗取数据或上传非法数据的非法企图,进一步地,自毁电阻4两端的电压逐渐变大,单位时间内积累的热量逐渐增多,有利于加快热量积累的速率,进而加快自毁电阻4的自毁,减小了等待自毁电阻4自毁的时长,提高了便利性。
62.进一步地,自毁电阻4在熔断时,可能会产生细微的火花,故而,为了减小自毁电阻4自毁时对其他元器件的影响,在设计自毁电路3与自毁电阻4的pcb板时,自毁电阻4的设置
位置需要避开易燃材料,减小在产生火花时,易燃材料接触到火花开始燃烧的情况发生;同时自毁电阻4的设置位置也应当避开温度敏感区域,温度敏感区域例如处理器1附近的预设区域内,当温度过高时可能会使得处理器1的引脚损坏,产生不必要的eos问题;进一步为了减小燃烧的可能,在pcb板上的自毁电阻4两端可以增加屏蔽罩,在自毁电阻4熔断时,若引起自毁电阻4附近的其他材料燃烧,则屏蔽罩可以形成阻断,使得燃烧区域限制在屏蔽罩包围的区域,不再扩大,进一步减小了自毁电阻4自毁时对其他元器件的影响。
63.进一步地,为了减小利用usb通路进行数据传输时的干扰信号,以提高数据传输的质量,参照图3,在切换开关2与裸露通信接口5之间还可以设置有滤波器6,在传输数据时,可以利用滤波器6将杂波信号进行滤除,进一步地,滤波器6可以是共模滤波器,用于抑制电子设备的emi噪音。其中,滤波器6可以设置在切换开关2与自毁电阻4之间,也可以设置在自毁电阻4与裸露通信接口5之间,在此不做限定,图3为将滤波器6设置在切换开关2与自毁电阻4之间的示意。
64.再进一步地,为了便于将自毁电阻4进行熔断,可以采用封装尺寸小的电阻作为自毁电阻4,例如选择实际封装尺寸为01005、0201等的电阻,封装尺寸小的电阻能承受的功率较小,对应的预设热量值小,即熔断时需要积累的热量小,采用封装尺寸小的电阻更容易被熔断。
65.为了加快自毁电阻4热量积累的速率,以尽快令自毁电阻4自毁成功,在自毁电阻4自毁的过程中,需要控制自毁电阻4两端的电压不断升高,其中,处理器1控制升压单元31按照预设规则升压的方式包括方式一与方式二的任意一种,其中:方式一:控制升压单元31升压。
66.其中,升压后的电压与自毁时长成正比例关系,自毁时长的起始时刻为自毁电阻4开始自毁的时刻。也即,在自毁电阻4开始自毁时,随着自毁时间,升压单元31逐步升压,以逐步加大自毁电阻4两端的电压。
67.例如,处理器1发出开启命令的时刻(也即自毁电阻4开启自毁的时刻)为08:00:00,随着自毁时间的增加,升压单元31逐步升压,以使得逐步增加自毁电阻4两端的电压,以控制自毁电阻4进行自毁。在本技术实施例中,升压单元31逐步升压,直至自毁电阻4自毁,又或者,升压单元31逐步升压,直至自毁电阻4自毁成功或者加压至预设电压阈值。
68.进一步地,在一种可能的实现方式中,升高后的电压与自毁时长成正比例关系,其中,自毁时长表征从初始时刻开始由零开始计时的时长,例如初始时刻为08:00:00,若当前时刻为08:00:03,此时自毁时长对应为3秒钟,即升高后的电压对应的电压值可以为k倍的自毁时长的时长值,接上例(开始升压的时刻为08:00:00)进行说明:若k等于20(如下表1),自毁时长为2秒时,对应的升高后的电压值为40v;之后又经过1秒,此时当前时刻为08:00:03,则自毁时长为3秒,此时的电压值升高为60v。
69.表1
若以自毁时长为横轴,以升高后的电压为纵轴,建立坐标系,则通过方式一进行升压,所对应的升高后的电压-自毁时长的图像,为一条以原点为起点,不断增高的线段。
70.需要说明的是,上述实施例所示的升压后的电压和自毁时长为k倍关系仅是一种示例,并不作为对本技术实施例的限定。
71.方式二:基于自毁时长与电压的对应关系,控制升压单元31进行升压。
72.具体地,基于自毁时长确定升压周期,每个升压周期对应有一个电压值,在任意一个升压周期内,控制升压单元31升压后的电压为该任意一个升压周期对应的电压值。
73.在处理器1基于升压周期与电压值的对应关系,控制升压单元31进行升压之前,处理器1创建升压周期与电压的对应关系。在本技术实施例中,一个升压周期可以对应一个电压值,例如,自毁时长由0秒计时到1秒作为一个升压周期,对应的电压值为20伏特(v),也可以对应一段电压值,其中,这段电压值可以与对应的时间段成预设关系,也可以对应一个预设电压值段,例如,自毁时长由0秒至1秒对应的升压周期可以对应10v-20v。
74.进一步地,在上述实施例中,每个升压周期可以对应有一个电压值,不同升压周期对应的电压值可能相同,也可能不同。为了提高自毁电阻4熔断的速度,优选为以时间先后为顺序,在后的升压周期对应的电压值高于在先的升压周期对应的电压值。例如:如表2所示,起始时刻为08:00:00,预设升压时长为2秒,则第一节点与第二节点之间的升压周期为自毁时长由0秒至2秒的时间段,对应的时刻为08:00:00-08:00:02,第一升压周期对应的电压值为20v,第二节点与第三节点之间的第二升压周期为自毁时长由2秒至4秒的时间段,对应的时刻为08:00:02-08:00:04,第二升压周期对应的电压值为40v,第三节点与第四节点之间的第四升压周期为自毁时长由4秒至6秒的时间段,对应的时刻为08:00:04-08:00:06,第三升压周期对应的电压值为60v。
75.表2
处理器1在发送开启命令之后的预设升压时长内(对应第一升压周期),输出电压将保持为第一升压周期对应的电压值;在预设升压时长之后进入第二升压周期,输出电压将升高为第二升压周期对应的电压值,并在第二升压周期内均保持为该电压值,以此类推,在第n升压周期内,升压单元31升高后的电压将保持为第n升压周期对应的电压值。
76.进一步地,升压单元31在升压时若产生高电压,而自毁电阻4还未自毁成功,则容易对其他器件造成损伤,故而为了减小其他器件受到过电压或过电流而产生损坏的几率,参照图4,自毁电路3还包括保护单元35,保护单元35一端连接于负载开关32的第三端口,另一端连接于自毁电阻4与切换开关2相连接的一端,保护单元35用于在当流经高于预设电流阈值的电流,和/或,保护单元35两端的电压超出预设电压阈值时,将所在通路断开。
77.由于升压单元31会逐渐进行升压,若升压单元31在产生极高电压时,自毁电阻4的热量还未积累到预设热量值,即还未自毁成功,则此时升压单元31产生的过电压和过电流极易流入其他元器件,对其他元器件造成损伤,此时保护单元35检测到电流超出预设电流值,将断开电路进行保护,另外,若保护电源两端的电压超出预设电压阈值,也将断开电路进行保护,有效防止过电压和/或过电流流入回路,对其他器件造成损伤。
78.在处理器1发出开启命令至自毁电路3后,一方面将驱动自毁电路3控制自毁电阻4进行自毁,另一方面处理器1还用于执行步骤sa1(图中未示出)、步骤sa2(图中未示出)以及步骤sa3(图中未示出),其中:步骤sa1、当处理器1向自毁电路3发送开启命令时,启动计时器。
79.对于本技术实施例,当升压单元31持续升高电压,经过预设自毁时长后,升压单元31输出的电压极大,可能会对其他元器件造成影响,而若自毁电阻4积累的热量仍不足以支撑自毁电阻4熔断自毁,此时需要停止自毁,以减小高电压对其他元器件的威胁。在处理器1向自毁电路3发送开启命令时,自毁电路3开始控制自毁电阻4自毁,同时将启动计时器计时,计时器所计量的时长即为自毁电阻4开始自毁至当前时刻的时长。
80.例如,在08:00:00,处理器1发送开启命令,自毁电阻4开始自毁,同时计时器从零开始计时,当自毁电阻4自毁4秒时,当前时刻为08:00:04,计时器计量的计时时长为4秒,等于自毁电阻4的自毁时长。
81.步骤sa2、确定自毁电阻4是否自毁成功。
82.若自毁电阻4在预设自毁时长内能够自毁成功,则表征当前自毁过程为正常过程;若自毁电阻4在预设自毁时长内未能自毁成功,则表征当前自毁过程异常,需要终止自毁。故而处理器1需要确定自毁电阻4是否自毁成功,并结合计时器的计时时长进而判断是否需要终止自毁。
83.进一步地,为了检测自毁电阻4是否自毁成功,参照图4,自毁电路3还包括电流检测单元33以及检测电阻34,检测电阻34一端连接于第四端口,另一端连接于自毁电阻4与裸露通信接口5连接的一端;电流检测单元33包含第一输入端口、第二输入端口以及输出端口,第一输入端口连接于检测电阻34的一端,第二输入端口连接于检测电阻34的另一端,输出端口连接于处理器1,用于检测检测电阻34的电流值,以确定自毁电阻4在第一预设时间段内的电流值是否出现异常,并在出现异常时,向处理器1发送通知消息。
84.其中,通知消息用于通知处理器1,自毁电阻4在第一预设时间段内的电流值出现异常。第一预设时间段可以包括一个检测周期(其中,检测周期的定义详见下述实施例,在此不做赘述),还可以包括至少两个检测周期,电流检测单元33检测在第一预设时间段内的电流值是否出现异常,具体可以通过至少一个检测周期内的电流值是否异常,或者至少两个检测周期内的电流值是否异常进行检测,具体详见下述实施例,在此不做赘述。
85.具体地,当自毁电阻4自毁成功时,电流将无法流通,自毁电阻4的电流将发生突变,与正常升高的电流存在区别。因此,可以根据流过自毁电阻4的电流,确定自毁电阻4是否自毁成功。但是自毁电阻4在自毁过程中,自毁电阻4会不断积累热量而逐渐自毁,自毁电阻4的阻值在过程中会发生变化,故而难以直接检测自毁电阻4两端的电压,确定自毁电阻4的电流。
86.为了确定自毁电阻4是否自毁成功,参照图4,在自毁电路3中设置一个检测电阻34,检测电阻34串联接在自毁电阻4与负载开关32的第四端口之间,流过检测电阻34两端的电流与流过自毁电阻4的电流相等,即可依据检测电阻34测得流经自毁电阻4的电流。
87.为此,电流检测单元33即可通过采集检测电阻34两端的电压,确定出流经自毁电阻4的电流,进而判断流经自毁电阻4的电流值是否出现异常,若出现异常则表征自毁电阻4自毁成功,并向处理器1发送通知消息,以指示处理器1当前自毁电阻4自毁成功。
88.由上述实施例可知,第一预设时间段可以包括至少两个检测周期,当电流检测单元33在对至少两个检测周期的电流值进行检测时,具体包括:电流检测单元33通过分段的方式依次设置有检测周期,第一个检测周期以自毁电阻4开始自毁的时刻为起点,经过预设时长间隔后结束,并进入下一个检测周期,下一个检测周期的起点为第一个检测周期结束的时刻,以此类推。电流检测单元33检测第一个检测周期内的电流值是否出现异常,若未出现异常,即自毁电阻4未自毁成功,则检测第二个检测周期内的电流值是否出现异常,依次类推,直至检测到第n个检测周期内的电流值出现异常,则表征自毁电阻4自毁成功。例如:自毁电阻4开始自毁的时刻为08:00:00,若每个检测周期的预设时长间隔均为1秒,则自毁时长由0秒至1秒之间(或者说08:00:00至08:00:01之间的时间段)对应为第一个检测周期,将第一个检测周期作为第一预设时间段,第一预设时间段内未自毁成功,则下一个检测周期为自毁时长由1秒至2秒之间(即时刻为08:00:01-08:00:02时间段),若此时第一预设时间段对应为自毁时长由1秒至2秒对应的时间段,则判断在自毁时长由1秒至2秒的计时期间
内,自毁电阻4的电流值是否出现异常,若此时出现异常,则表征自毁电阻4自毁成功,向处理器1发送通知消息。
89.其中,第一预设时间段包括至少两个检测周期时,例如:在自毁电阻4开始自毁后,将第一个检测周期和第二个检测周期作为第一预设时间段,并分别判断第一个检测周期与第二个检测周期内的电流值是否出现异常,若在两个检测周期内均未出现异常,则表征自毁电阻4未自毁成功。
90.进一步地,在第一预设时间段包括至少两个检测周期时,在其中任意一个检测周期内,判断自毁电阻4的电流值是否出现异常的方式,包括方式一与方式二的任意一项,其中:方式一:判断该任意一个检测周期内的自毁电阻4的电流值是否处于预设电流范围内。
91.当该任意一个检测周期内的自毁电阻4的电流值处于预设电流范围内时,表征自毁电阻4未自毁成功;当自毁电阻4的电流值未处于预设电流范围内时,表征自毁电阻4自毁成功。
92.其中,自毁电阻4自毁成功时,自毁电阻4将处于断路状态,故而在自毁成功时,流过自毁电阻4的电流值理论上应当为零,或者说,当自毁电阻4的电流值为零时,即可判断自毁电阻4自毁成功。考虑到电流检测单元33的检测精度以及误差等问题,在实际应用中,当自毁电阻4自毁成功时,测得的自毁电阻4的电流值可能不为零,故而设定一个预设电流范围,当电流检测单元33检测到自毁电阻4的电流值未处于预设电流范围内时,即表征自毁电阻4自毁成功。例如:设定预设电流范围为(5ma,无穷大),则当自毁电阻4的电流值处于5ma以下时,即可认为自毁电阻4自毁成功。
93.由于随着时间的变化,自毁电阻4的电流值不断增加,故而每个检测周期对应的正常的电流值标准不同,例如在第一个检测周期内电流值普遍为5a,在第二个检测周期内电流值普遍为10a。故而在本技术实施例中,每个检测周期设定有一个对应的预设电流范围。其中,每个预设电流范围可能相同可能不同。优选为每个检测周期对应的预设电流范围不同。
94.一方面,在判断自毁电阻4是否自毁成功之前,确定该任意一个检测周期对应的预设电流范围,例如:由自毁电阻4开始自毁的时刻为起始,按照时间顺序,各个检测周期依次为第一个检测周期,第二个检测周期,第三个检测周期
……
第n个检测周期,其中,第一个检测周期对应预设电流范围1,第二个检测周期对应预设电流范围2,第三个检测周期对应预设电流范围3,第n个检测周期对应预设电流范围n,若该任意一个检测周期为第五个检测周期,则对应预设电流范围5,在确定该任意一个检测周期内的电流值是否处于预设电流范围时,判断电流值是否处于预设电流范围5内。
95.具体地,电流检测单元33确定该任意一个检测周期对应的预设电流范围的方式可以包括:基于自毁电路3设置一个模拟电路进行自毁模拟实验,在模拟电路中包括与自毁电路3相同参数的升压单元31、负载开关32、检测电阻34、自毁电阻4以及各个器件之间的连接关系;进行自毁模拟实验即按照与自毁电路3相同的自毁方式对自毁电阻4进行自毁,确定出自毁电阻4在自毁过程中的电流变化,生成标准电流变化曲线。值得说明的是,标准电流变化曲线还可以是预先设定的,在本技术实施例中不做限定。
96.若升压单元31的升压方式为按照与自毁时长成正比例关系升压的方式(也即上述方式一),则根据标准电流变化曲线,将该任意一个检测周期的起始时刻的电流值作为预设电流范围的下限,将该任意一个检测周期的终止时刻的电流值作为预设电流范围的上限,进而确定出该任意一个检测周期对应的预设电流范围。
97.若升压单元31的升压方式为基于时间段与电压的对应关系进行升压的方式(也即上述方式二),则该任意一个检测周期对应的预设时长间隔可以与升压单元31的预设升压时长相等,还可以为预设升压时长的倍数,优选为第一预设时间段对应的预设的时长间隔与预设升压时长相等,则在标准电流变化曲线中,该任意一个检测周期的电流为一定值,故而此时预设电流范围可以为以该电流为基准,在误差允许范围内的范围。例如:若检测电阻34的阻值为2欧姆,则在如表2所示的示例中,在自毁时长由2秒至4秒的时间段对应为一个第一预设时间段,在第一预设时间段内对应的升高后的电压为40v,允许的误差范围为2v,则预设电流范围为{42/检测电阻34阻值,38/检测电阻34阻值},即预设电流范围为{24,19}。
98.另一方面,电流检测单元33在确定出该任意一个检测周期对应的预设电流范围后,判断该任意一个检测周期内的电流值是否处于对应的预设电流范围。可以实时检测该任意一个检测周期内的电流值是否出现异常,或者在该任意一个检测周期内按照预设频率抽取目标电流值,判断该目标电流值是否处于对应的预设电流范围内,例如:在检测周期开始后,每隔1秒选择一个目标电流值,判断该目标电流值是否在预设电流范围内,若在预设电流范围内,则在开始两秒后,再次抽取一个目标电流值,进行检测判断,直至该检测周期结束,或该检测周期内判断出目标电流值未处于预设电流范围内。
99.方式二:根据该任意一个检测周期内的电流值,对该任意一个检测周期内的电流值进行积分,判断积分后的电量值是否低于预设电量阈值,若低于预设电量阈值,则表征自毁电阻4自毁成功,若不低于预设电量阈值,则表征自毁电阻4未自毁成功。
100.具体地,检测自毁电阻4自毁成功的方式还可以是分段积分的方式,其中,每个检测周期对应有一个预设电量阈值,每个检测周期对应的预设电量阈值可能相同,可能不同。基于上述方式一中的模拟实验得到的标准电流变化曲线,以及各个检测周期的预设时长间隔,对每个检测周期内的电流进行积分,积分后得到标准电量值,该标准电量值即可作为预设电量阈值。
101.对该任意一个检测周期内的实际电流值按照时间进行积分后,得到该任意一个检测周期内的实际电量值,之后确定该任意一个检测周期对应的预设电量阈值,若自毁电阻4在该任意一个检测周期内自毁成功,则在该任意一个检测周期内电阻消耗的电量少,即实际电量值小于预设电量阈值,即可判断出自毁电阻4是否自毁成功。
102.上述实施例中描述了处理器1在接收到电流检测单元33发送的通知消息时,表征自毁电阻4自毁成功的方式,当处理器1未接收到通知消息时,则表征自毁电阻4未自毁成功。
103.步骤sa3、若未自毁成功,且计时器的计时时长达到预设自毁时长,则处理器1向自毁电路3发送终止自毁指令,以使得自毁电路3控制自毁电阻4终止自毁。
104.具体地,当计时器的计时时长达到预设自毁时长时,表征当前自毁时长较长,为了提高电子设备内其他元器件的安全性,若此时还未自毁成功,将不再自毁,此时处理器1将
向自毁电路3发送终止自毁指令,以令自毁电路3控制自毁电阻4终止自毁,进而减小高电压对电子设备内其他元器件的威胁。
105.具体地,判断计时器的计时时长是否达到预设自毁时长的步骤,可以在确定自毁电阻4是否自毁成功的步骤(步骤sa2)之前执行,也可以在步骤sa2之后执行,还可以与步骤sa2同时执行。
106.在一种可能的实现方式中,判断计时器的计时时长是否达到预设自毁时长的步骤在步骤sa2之前执行,具体地,在处理器1发出开启命令后,计时器开始计时,当计时器的计时时长达到预设自毁时长时,处理器1确定自毁电阻4是否自毁成功,若此时确定自毁电阻4自毁成功,则表征自毁正常,结束自毁;若此时确定自毁电阻4未自毁成功,则表征自毁出现异常,需要终止自毁,发出终止自毁指令至自毁电路3,自毁电路3终止对自毁电阻4的自毁。
107.在另一种可能的实现方式中,判断计时器的计时时长是否达到预设自毁时长的步骤在步骤sa2之后执行,在处理器1发出开启命令时,计时器开始计时,同时实时确定自毁电阻4是否自毁成功,若未自毁成功,则检测计时器的计时时长是否达到预设自毁时长,若达到预设自毁时长,则表征自毁出现异常,需要终止自毁。
108.在另一种可能的实现方式中,判断计时器的计时时长是否达到预设自毁时长的步骤与步骤sa2同时发生,具体地,在处理器1发出开启命令后,每隔预设时长确定自毁电阻4是否自毁成功,并判断计时器的计时时长是否达到预设自毁时长,若达到预设自毁时长,且自毁电阻4未自毁成功,则表征自毁出现异常,需要终止自毁,处理器1将发出自毁终止指令至自毁电路3,以控制自毁电路3终止对自毁电阻4的自毁。
109.进一步地,在自毁未成功,计时器的计时时长未达到预设自毁时长时,表征此时自毁电阻4可能处于正常自毁的过程中,应当继续自毁。为此在确定自毁电阻4是否自毁成功,之后还包括步骤sa4(图中未示出):步骤sa4、若未自毁成功,且计时器的计时时长未达到预设自毁时长,则循环执行确定是否电阻是否自毁成功,直至满足第二预设条件。也即,若未自毁成功,则循环执行步骤sa2,直至满足第二预设条件。
110.其中,第二预设条件包括以下任一项:自毁电阻4自毁成功,且计时器的计时时长未达到预设自毁时长;自毁电阻4未自毁成功,且计时器的计时时长达到预设自毁时长;自毁电阻4自毁成功,且计时器的计时时长达到预设自毁时长。
111.具体地,若自毁电阻4未自毁成功,且计时器的计时时长未达到预设自毁时长,即此时自毁电阻4处于正常自毁的过程中,则继续确定电阻是否自毁成功,以及判断计时器的计时时长是否达到预设自毁时长。
112.当自毁电阻4在预设自毁时长内完成自毁时,即处理器1检测到自毁电阻4自毁成功,计时器的计时时长未达到预设自毁时长,或者,在计时器的计时时长刚达到预设自毁时长时,自毁电阻4自毁成功,表征自毁电阻4已经成功自毁,不再确定自毁电阻4是否自毁成功,结束循环的同时处理器1输出结束命令至自毁电路3以及计时器,以令自毁电路3结束对自毁电阻4的自毁,以令计时器结束计时,并清零。
113.当自毁电阻4在预设自毁时长内未完成自毁,即处理器1检测到自毁电阻4未自毁成功,且计时器的计时时长达到预设自毁时长,表征自毁电阻4自毁失败,此时需要终止自
毁电阻4的自毁,结束循环同时处理器1将输出终止自毁命令至自毁电阻4以及计时器,以令自毁电路3终止对自毁电阻4的自毁,以令计时器结束计时并清零。
114.例如:预设自毁时长为5秒,在计时器的计时时长为1秒时,处理器1未接收到通知消息,表征此时自毁电阻4未自毁成功,此时计时器的计时时长未达到预设自毁时长,将继续判断自毁是否成功。若在计时器的计时时长为3秒时,处理器1接收到通知消息,表征此时自毁电阻4自毁成功,且此时计时器的计时时长未达到预设自毁时长,处理器1将输出结束命令,计时器的计时时长清零,自毁电路3结束自毁;若在计时器的计时时长为3秒时未接收到通知消息,则继续判断自毁是否成功,之后若在计时器的计时时长为5秒时接收到通知消息,则表征自毁成功,且在预设自毁时长内,此时处理器1将结束循环,并输出结束命令,至自毁电路3与计时器,以令自毁电路3停止控制自毁电阻4自毁,同时令计时器的计时时长清零;若在计时器的计时时长为5秒时仍未接收到通知消息,则表征此时自毁电阻4出现异常,在预设自毁时长内未自毁成功,此时将终止对自毁电阻4的自毁,结束确定自毁电阻4是否自毁成功的循环,输出终止自毁命令至自毁电路3与计时器,以令自毁电路3终止对自毁电阻4的自毁操作,并将计时器的计时清零结束计时。
115.进一步地,当自毁电阻4自毁成功后,需要对自毁电阻4是否成功自毁进行验证,以进一步核实自毁电阻4的自毁结果,因此,在步骤sa2中,确定自毁电阻4是否自毁成功,之后还可以包括步骤sb1(图中未示出)、步骤sb2(图中未示出)以及步骤sb3(图中未示出),其中:步骤sb1、若自毁成功,则控制切换开关2切换为第一导通状态。
116.具体地,为了验证自毁电阻4的自毁结果,需要利用外部测试工具对usb通路的通断进行验证,当切换开关2处于断开状态时,对usb通路进行测试的测试结果均为表征usb通路断开的结果,但不能确定usb通路断开为自毁电阻4自毁造成的断开,还是切换开关2导致的断开。故而需要在发出开启命令之前将切换开关2切换为第一导通状态,再对自毁电阻4的自毁结果进行验证。即,将切换开关2切换为处理器1与自毁电阻4连通的导通状态。之后再对usb通路的通断进行测试,若测试后的结果表征usb通路断开,则此时表征自毁电阻4自毁成功,若测试后的结果表征usb通路导通,则表征自毁电阻4未自毁成功。
117.步骤sb2、获取预设测试工具发送的检测结果。
118.其中,检测结果是由预设测试工具对裸露通信接口5与处理器1之间的通路进行检测后得到的。
119.具体地,预设测试工具为检测usb通路的通断状态的工具,即检测裸露通信接口5与处理器1之间通路的通断状态的工具,电子设备的裸露通信接口5包括usb接口,当usb通路为断开状态时,usb接口将不能进行数据传输,此时将利用预设测试工具,检测电子设备的usb口上的d+与地,以及d-与地之间的导通情况,以表征usb通路的通断状态,d+与d-为usb接口中用于数据传输的两端;若usb通路为导通状态,则d+与地之间导通,d-与地之间也导通,输出的检测结果表征通路导通,若usb通路为断开状态,则d+与地之间断开,d-与地之间也断开,输出的检测结果表征通路断开。
120.其中,预设测试工具上具备有type-c公头接口,在电子设备上具备type-c母头接口,在预设测试工具测试usb通路是否断开时,将利用蓝牙、wlan或5g等无线通信方式,令电子设备的处理器1与预设测试工具无线连接,之后将预设测试工具的type-c公头接口插入
电子设备的type-c母头接口,开始检测usb通路是否连接,检测结果将通过无线通信方式发送至电子设备,以使得电子设备获取到预设测试工具的检测结果。
121.步骤sb3、若检测结果表征通路断开,则将检测结果反馈至服务器。
122.具体地,若利用预设测试工具进行反验证的检测结果也表征usb通路断开,则表征自毁电阻4已经自毁成功,此时将检测结果反馈至服务器,服务器可以将检测结果进行存储。
123.其中,对自毁电阻4自毁成功的结果进行验证的方式还可以包括:在将切换开关2切换到第一导通状态后,人工手动将外界设备与该电子设备的裸露通信接口5相连,查看电子设备中是否显示“usb已连接”的提示消息,若显示已连接,则表征自毁电阻4自毁失败,若显示未连接,则表征自毁电阻4自毁成功。
124.为了进一步提高电子设备内部数据的安全性,参照图3,电子设备内还设置有专用模块7,专用模块7用于对从处理器1中接收的数据进行特定处理,例如,专用模块7可以是加解密模块,用于将数据进行加密后传输,或用于在接收到加密数据后进行解密处理。
125.其中,参照图3,切换开关2还包括第三连接端口,第三连接端口连接于专用模块7;专用模块7用于在切换开关2处于第二导通状态时,向处理器1发送数据以进行特定处理,并在特定处理后传输至处理器1,又或者,专用模块7还可以在切换开关2处于第二导通状态时,直接将专用模块7内部处理后的数据传输至处理器1,第二导通状态表征专用模块7与处理器1之间处于导通状态。
126.具体地,切换开关2为三端口元件,可以采用单刀双掷开关,还可以采用双刀四掷开关或其他类型的开关,以单刀双掷开关为例进行说明,其中,单刀双掷开关包括一个固定端,以及两个活动端,分别为活动端a以及活动端b,单刀双掷开关可以令固定端与活动端a连通,或者令固定端与活动端b连通,其中固定端连接于处理器1,活动端a连接于自毁电阻4,活动端b连接与专用模块7,在处理器1检测到满足第一预设条件时,将控制单刀双掷开关位于固定端与活动端a断开,固定端与活动端b之间连通的位置。
127.切换开关2处于第二导通状态,表征切换开关2的固定端与活动端b导通,即表征处理器1与专用模块7间为连通状态,处理器1与自毁电阻4之间为断开状态。
128.在自毁电阻4完成自毁后,通过切换开关2切换为第二导通状态,电子设备内存储的数据即可利用专用模块7进行特定处理,外界设备难以通过裸露通信接口5对应的usb通路,获取专用模块7内特定处理后的数据,进而增加了数据的安全性。
129.上述实施例描述了处理器1在检测到满足第一预设条件时,控制自毁电阻4进行自毁的流程以及步骤,其中,处理器1在检测到满足第一预设条件中的第一预设条件包括:接收到用户输入的自毁指令,自毁指令用于指示对自毁电阻4进行自毁;或,检测到第二预设时间段内未有任何数据写入和/或数据读取;或,检测到距离上次终止自毁的时间达到预设时间间隔。
130.其中,预设时间间隔为预先设定的,用于处理器1是否再次发送开启命令以控制自毁电阻4自毁的判断基准,即,处理器1在上次终止自毁时开始从零计时,当计时的时长达到预设时间间隔时,将开始重新控制自毁电阻4自毁,例如预设时间间隔为5min,则在自毁电阻4终止自毁开始,经过5min后达到预设时间间隔,处理器1此时将发送开启命令至自毁电路3,以令自毁电路3重新开始控制自毁电阻4自毁。
131.在一种可能的实现方式中,电子设备在工站上完成所有测试工作后,将不再需要处理器1与外界设备进行数据交互,因此在完成所有测试工作后需要将usb通路断开,故而在检测到第二预设时间段内未有任何数据写入和/或数据读取时,表征长时间没有进行数据传输,即表征当前电子设备已完成所有测试工作,此时处理器1自动检测到满足第一预设条件,开始进行usb通断的断开工作。
132.在另一种可能的实现方式中,当用户确定电子设备已经完成自毁时,还可以通过键鼠等操作设备向电子设备内输入自毁指令,被处理器1接收,处理器1接收到自毁指令时,即检测到满足第一预设条件。
133.在另一种可能的实现方式中,当处理器1确定自毁电阻4未自毁成功,并且判断出计时器的计时时长达到预设自毁时长时,即自毁电阻4在预设自毁时长内仍未完成自毁时,处理器1将向自毁电路3发送终止自毁指令,自毁电路3控制自毁电阻4终止自毁。在处理器1自毁失败一次之后,为了能够再次自动控制自毁电阻4进行自毁,在自毁失败后还可以重新启动自毁,但是若在自毁失败后立即重启,则自毁失败的几率较大,为此在经过预设时间间隔后,处理器1检测到距离上次终止自毁的时间达到预设时间间隔,即再等待预设时间间隔之后,处理器1将再次检测到满足第一预设条件,此时将重新开始获取切换开关2的状态,之后发送开启命令,以令自毁电路3开始控制自毁电阻4进行自毁。例如:处理器1发出终止自毁命令的时刻为08:00:01,预设时间间隔为5秒,在5秒之后处理器1检测到距离上次终止自毁的时间达到预设时间间隔,即处理器1检测到满足第一预设条件,则继续获取切换开关2的状态,进而控制自毁电路3对自毁电阻4进行自毁。
134.基于上述实施例,本技术实施例提供一个示例,以说明usb通路断开保护的过程,参照图6,电子设备设置在工站进行各项测试,测试结果上传至服务器内,在完成各项测试后的第二预设时间段内,电子设备的处理器1检测到在第二预设时间段内没有任何数据写入和/或数据读取,处理器1检测到满足第一预设条件,获取切换开关2的状态,以判断切换开关2是否为断开状态,若此时切换开关2的状态为断开状态,则此时启动自毁电路3的进程(也即自毁电路3控制自毁电阻4进行自毁);若此时切换开关2的状态为未断开状态(也即第一导通状态),即处理器1与裸露通信接口5之间为导通状态,此时处理器1控制切换开关2切换为断开状态,即使得处理器1与裸露通信接口5之间为断开,此时启动自毁电路3的进程;然后当启动自毁电路3一段时间后,判断自毁电阻4是否自毁成功,若自毁电阻4自毁成功,则处理器1将反馈至服务器,以提示“自毁已完成”;若未自毁成功,则判断是否自毁超时(也即判断计时器的计时时长是否达到预设自毁时长),若超时,则自毁进程终止,终止自毁后,处理器1检测到距离终止自毁后的时长达到预设时间间隔,此时将重新开始自毁,即在自毁失败被终止后经过一段等待时间将重新开启自毁进程;若未超时,则返回至判断自毁电阻4是否自毁成功的步骤。
135.进一步地,在另一种示例中,参照图7,在处理器1检测到满足第一预设条件后,获取切换开关2的状态,若切换开关2的状态不属于自毁电阻4与处理器1之间的断开状态,而为自毁电阻4与处理器1之间的导通状态时,此时将不再进行自毁,将自毁进程禁用,即不发出开启命令至自毁电路3,自毁电路3在此状态下不进行任何自毁操作,有利于防止处理器1在自毁电阻4自毁时,被自毁电阻4产生的干扰信号干扰,而使得处理器1产生eos等问题,进而提高了处理器1的安全性;若切换开关2的状态属于自毁电阻4与处理器1之间的断开状
态,则启动自毁电路3进程,并按照上述方式判断自毁电阻4是否自毁成功,若是,则反馈至服务器,以提示“自毁已完成”;若否,则判断是否自毁超时,若超时,则自毁进程终止,并执行等待时间;若不超时,则继续返回自毁电路3进程。
136.本技术实施例还从实体装置的角度介绍了一种电子设备,如图1所示,该电子设备包括:处理器1、自毁电路3、自毁电阻4以及裸露通信接口5;处理器1的一端连接于自毁电阻4的一端;自毁电阻4的另一端连接于裸露通信接口5,处理器1的另一端还连接于自毁电路3,自毁电路3与自毁电阻4连接;其中,裸露通信接口5用于与外界设备进行信息交互;处理器1用于执行上述的usb通路断开保护方法。
137.具体地,为了将裸露通信接口5与处理器1之间的usb通路断开,在usb通路上设置一个自毁电阻4,处理器1通过控制自毁电路3进而驱动自毁电阻4进行自毁,以实现usb通路的断开,进而外界设备将难以通过usb通路进行数据盗取或不安全数据的导入,提高了电子设备的安全性。
138.本技术实施例一种可能的实现方式,参照图3,电子设备还包括:切换开关2,切换开关2包括第一连接端口与第二连接端口,处理器1的一端连接于第一连接端口,第二连接端口连接于自毁电阻4的一端。
139.具体地,在将自毁电阻4自毁时,可以通过切换开关2将处理器1与自毁电阻4之间的通路断开,继而有效减小在自毁电阻4进行自毁时产生的干扰信号进入处理器1内的情况发生,进而在提高电子设备的安全性的基础上,能够进一步提高处理器1的安全性。
140.本技术实施例一种可能的实现方式,参照图4,自毁电路3包括升压单元31以及负载开关32;升压单元31包括输入端、输出端以及回流地,其中,输入端连接于处理器1,处理器1用于控制升压单元31按照预设规则升压;负载开关32包括第一端口、第二端口、第三端口以及第四端口,其中,第一端口连接于输出端,第二端口连接于回流地,第三端口连接于自毁电阻4与切换开关2相连接的一端,第四端口连接于自毁电阻4的另一端,负载开关32用于将升压单元31升压后的电压作用于自毁电阻4。
141.本技术实施例一种可能的实现方式,参照图4,自毁电路3还包括保护单元35,保护单元35一端连接于第三端口,另一端连接于自毁电阻4与切换开关2相连接的一端,保护单元35用于在流经高于预设电流阈值的电流时,将所在通路断开。
142.本技术实施例一种可能的实现方式,参照图4,自毁电路3还包括:电流检测单元33以及检测电阻34;检测电阻34一端连接于第四端口,另一端连接于自毁电阻4与裸露通信接口5连接的一端;电流检测单元33包含第一输入端口、第二输入端口以及输出端口,第一输入端口连接于检测电阻34的一端,第二输入端口连接于检测电阻34的另一端,输出端口连接于处理器1,用于检测检测电阻34的电流值,以确定自毁电阻4在第一预设时间段内的电流值是否出现异常,并在出现异常时,向处理器1发送通知消息。
143.本技术实施例一种可能的实现方式,参照图3,电子设备还包括专用模块7,切换开关2还包括第三连接端口,第三连接端口连接于专用模块7;专用模块7用于在切换开关2处于第二导通状态时,与处理器1进行信息传输,所述第二导通状态表征专用模块7与处理器1之间处于导通状态。
144.其中,电子设备包括但不限于:移动电话、笔记本电脑、数字广播接收器、pda(个人数字助理)、pad(平板电脑)、pmp(便携式多媒体播放器)、车载终端(例如车载导航终端)等
等的移动终端以及诸如数字tv、台式计算机等等的固定终端。
145.本技术实施例还提供了一种自毁电路,如图8所示,该自毁电路3包括升压单元31,升压单元31包括输入端、输出端以及回流地,输入端连接于处理器1,用于在处理器1的控制下按照预设规则升压;升压单元31的输出端连接于自毁电阻4的一端,回流地连接于自毁电阻4的另一端,用于将升高后的电压作用在自毁电阻4上,以令自毁电阻4自毁,自毁电阻4自毁后用于将处理器1与裸露通信接口5之间的连接断开,该裸露通信接口5用于处理器1与外界设备进行信息交互。
146.具体地,自毁电路3在控制自毁电阻4进行自毁时,处理器1控制升压单元31按照预设规则升压,之后升压后的电压将作用在自毁电阻4两端,自毁电阻4在电压的作用下不断积蓄热量,直至熔断,完成自毁,自毁电阻4设置在处理器1与裸露通信接口5之间,自毁完成后,处理器1与裸露通信接口5之间的usb通路断开,外界设备难以通过裸露通信接口5与处理器1实现信息交互,以此提高了电子设备的安全性,其次,在自毁电阻4自毁的过程中,利用升压单元31不断升压,有助于加快自毁电阻4热量积累的速率,进而有利于加快自毁电阻4的自毁过程。
147.本技术实施例一种可能的实现方式,参照图4,自毁电路3还包括电流检测单元33以及检测电阻34,检测电阻34的一端连接于升压单元31的输出端,另一端连接于自毁电阻4的一端;电流检测单元33包括第一输入端口、第二输入端口以及输出端口,第一输入端口连接于检测电阻34的一端,第二输入端口连接于检测电阻34的另一端,用于检测检测电阻34的电流值,以确定自毁电阻4在第一预设时间段内的电流值是否出现异常,并在出现异常时,发送通知消息,输出端口与处理器1相连,用于将通知消息发送至处理器1。
148.本技术实施例一种可能的实现方式,参照图4,自毁电路3还包括负载开关32;负载开关32包括第一端口、第二端口、第三端口以及第四端口,第一端口连接于升压单元31的输出端,第二端口连接于回流地,第三端口连接于自毁电阻4的一端,第四端口连接于自毁电阻4的另一端;参照图5,负载开关32还包括第五端口,第五端口连接于处理器1,用于在接收到处理器1发送的开启命令后,将升压单元31升压后的电压作用于自毁电阻4。
149.本技术实施例一种可能的实现方式,参照图4,自毁电路3还包括保护单元35;保护单元35一端连接升压单元31的输出端,保护单元35的另一端连接于自毁电阻4用于与升压单元31的输出端连接的一端,用于在流经高于预设电流阈值的电流时,将所在通路断开。
150.本技术实施例提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质上存储有计算机程序,当其在计算机上运行时,使得计算机可以执行前述方法实施例中相应内容。在本技术实施例中,在处理器1检测到满足第一预设条件时,并且,处理器1与自毁电阻4之间处于断开状态时,将发送开启命令至自毁电路3,以使得自毁电路3控制自毁电阻4进行自毁,而自毁电阻4设置在电子设备的用于与外界设备进行信息交互的裸露通信接口5与处理器1之间,自毁电阻4自毁后,也即完全断开了外界设备与处理器1之间的信息交互通路,以使得外界设备难以向电子设备内导入不安全的信息以及难以从电子设备内导出信息,从而以提高电子设备的安全性。
151.应该理解的是,虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,其可以以其他的顺序执行。而且,附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,其执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
152.以上仅是本技术的部分实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本技术原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。

技术特征:


1.一种usb通路断开保护方法,其特征在于,由电子设备执行,所述电子设备包括:处理器、自毁电路、自毁电阻以及裸露通信接口,所述处理器的一端连接于所述自毁电阻的一端,所述自毁电阻的另一端连接于所述裸露通信接口,所述处理器的另一端还连接于所述自毁电路,所述自毁电路与所述自毁电阻连接;其中,所述裸露通信接口用于与外界设备进行信息交互;其中,所述方法包括:当所述处理器检测到满足第一预设条件时,所述处理器向所述自毁电路发送开启命令,以使得所述自毁电路控制所述自毁电阻自毁。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电子设备还包括:切换开关,所述切换开关包括第一连接端口与第二连接端口,所述处理器的一端连接于所述第一连接端口,所述第二连接端口连接于所述自毁电阻的一端;其中,所述处理器向所述自毁电路发送开启命令,之前还包括:获取所述切换开关的状态;其中,所述处理器向所述自毁电路发送开启命令,包括:若所述切换开关的状态为断开状态,则所述处理器向所述自毁电路发送开启命令,所述断开状态表征所述处理器与所述自毁电阻之间处于断开状态。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取所述切换开关的状态,之后还包括:若所述切换开关的状态为第一导通状态,则控制所述切换开关切换为所述断开状态,所述第一导通状态表征所述处理器与所述自毁电阻之间处于导通状态。4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述自毁电路包括升压单元以及负载开关;所述升压单元包括输入端、输出端以及回流地,其中,所述输入端连接于所述处理器,所述处理器用于控制所述升压单元按照预设规则升压;所述负载开关包括第一端口、第二端口、第三端口以及第四端口,其中,所述第一端口连接于所述输出端,所述第二端口连接于所述回流地,所述第三端口连接于所述自毁电阻与所述切换开关相连接的一端,所述第四端口连接于所述自毁电阻的另一端,所述负载开关用于将所述升压单元升压后的电压作用于所述自毁电阻。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,控制升压单元按照预设规则升压的方式,包括以下任意一项:控制所述升压单元升压,所述升压后的电压与自毁时长成正比例关系,所述自毁时长的起始时刻为所述自毁电阻开始自毁的时刻;基于自毁时长与电压的对应关系,控制所述升压单元升压。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:当所述处理器向所述自毁电路发送开启命令时,启动计时器;确定所述自毁电阻是否自毁成功;若未自毁成功,且所述计时器的计时时长达到预设自毁时长,则所述处理器向所述自毁电路发送终止自毁指令,以使得所述自毁电路控制所述自毁电阻终止自毁;若未自毁成功,且所述计时器的计时时长未达到所述预设自毁时长,则循环执行确定
所述自毁电阻是否自毁成功,直至满足第二预设条件;所述第二预设条件包括以下任一项:所述自毁电阻自毁成功,且所述计时器的计时时长未达到所述预设自毁时长;所述自毁电阻未自毁成功,且所述计时器的计时时长达到所述预设自毁时长;所述自毁电阻自毁成功,且所述计时器的计时时长达到所述预设自毁时长。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述确定所述自毁电阻是否自毁成功,包括:若接收到所述自毁电路发送的通知消息,则确定所述自毁电阻自毁成功,所述通知消息用于通知所述处理器,所述自毁电阻在第一预设时间段内的电流值出现异常;其中,所述自毁电路还包括:电流检测单元以及检测电阻;所述检测电阻一端连接于所述第四端口,另一端连接于所述自毁电阻与所述裸露通信接口连接的一端;所述电流检测单元包含第一输入端口、第二输入端口以及输出端口,所述第一输入端口连接于所述检测电阻的一端,所述第二输入端口连接于所述检测电阻的另一端,所述输出端口连接于所述处理器,用于检测所述检测电阻的电流值,以确定所述自毁电阻在第一预设时间段内的电流值是否出现异常,并在出现异常时,向所述处理器发送所述通知消息。8.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述电子设备还包括专用模块,所述切换开关还包括第三连接端口,连接于所述专用模块;所述专用模块用于在所述切换开关处于第二导通状态时,与所述处理器进行信息传输,所述第二导通状态表征所述专用模块与所述处理器之间处于导通状态。9.一种电子设备,其特征在于,该电子设备包括:处理器、自毁电路、自毁电阻以及裸露通信接口;所述处理器的一端连接于所述自毁电阻的一端;所述自毁电阻的另一端连接于所述裸露通信接口,所述处理器的另一端还连接于所述自毁电路,所述自毁电路与所述自毁电阻连接;其中,所述裸露通信接口用于与外界设备进行信息交互;所述处理器用于执行权利要求1~8任一项所述的usb通路断开保护方法。10.一种自毁电路,其特征在于,所述自毁电路包括升压单元,所述升压单元包括输入端、输出端以及回流地,所述输入端连接于处理器,并在所述处理器的控制下按照预设规则升压;所述输出端连接于自毁电阻的一端,所述回流地连接于所述自毁电阻的另一端,用于将升高后的电压作用在所述自毁电阻上,以令所述自毁电阻自毁,所述自毁电阻自毁后用于将所述处理器与裸露通信接口之间的连接断开,所述裸露通信接口用于处理器与外界设备进行信息交互。11.根据权利要求10所述的自毁电路,其特征在于,所述自毁电路还包括电流检测单元以及检测电阻,所述检测电阻的一端连接于所述输出端,另一端连接于所述自毁电阻的一端;所述电流检测单元包括第一输入端口、第二输入端口以及输出端口,所述第一输入端口连接于所述检测电阻的一端,所述第二输入端口连接于所述检测电阻的另一端,用于检
测所述检测电阻的电流值,以确定所述自毁电阻在第一预设时间段内的电流值是否出现异常,并在出现异常时,发送通知消息;所述输出端口与所述处理器相连,用于将所述通知消息发送至所述处理器。12.根据权利要求10所述的自毁电路,其特征在于,所述自毁电路还包括负载开关;所述负载开关包括第一端口、第二端口、第三端口以及第四端口,所述第一端口连接于所述输出端,所述第二端口连接于所述回流地,所述第三端口连接于所述自毁电阻的一端,所述第四端口连接于所述自毁电阻的另一端;所述负载开关还包括第五端口,所述第五端口连接于所述处理器,用于在接收到所述处理器发送的开启命令后,将所述升压单元升压后的电压作用于所述自毁电阻。13.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,当所述计算机程序在计算机中执行时,令所述计算机执行权利要求1~8任一项所述的usb通路断开保护方法。

技术总结


本申请涉及数据传输的领域,尤其是涉及一种USB通路断开保护方法、电子设备、自毁电路及介质。方法由电子设备执行,电子设备包括:处理器、自毁电路、自毁电阻以及裸露通信接口,处理器的一端连接于自毁电阻的一端,自毁电阻的另一端连接于裸露通信接口,处理器的另一端还连接于自毁电路,自毁电路与自毁电阻连接;其中,裸露通信接口用于与外界设备进行信息交互;其中,方法包括:当处理器检测到满足第一预设条件时,向自毁电路发送开启命令,以使得自毁电路控制自毁电阻自毁。本申请具有提高电子设备安全性的效果。安全性的效果。安全性的效果。


技术研发人员:

李智勇 张小亮 郭轶尊

受保护的技术使用者:

北京万里红科技有限公司

技术研发日:

2022.11.18

技术公布日:

2022/12/19

本文发布于:2024-09-24 03:23:56,感谢您对本站的认可!

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