首页 > 专利查询

一种岩土地质勘察深度的测量装置[实用新型专利]

专利名称：一种岩土地质勘察深度的测量装置

专利类型：实用新型专利

发明人：黄裕，於开炳，王云安，汤罗圣，李剑，陈学，张峰申请号：CN202022310010.9

申请日：20201016

公开号：CN212963149U

公开日：

20210413

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本实用新型公开了一种岩土地质勘察深度的测量装置，包括底板，所述底板的中间位置设有大圆孔，所述大圆孔的上方均匀固定设有四个位于底板上表面的导向柱，所述导向柱的外表面滑动连接有导向套，四个所述导向套之间固定安装有一移动台，所述移动台的中间位置设有小圆孔，所述移动台的上端面均匀设有四个短支撑柱，四个所述短支撑柱的顶端固定安装有一方板，所述方板的上端面固定安装有减速机，所述减速机的一侧固定安装有步进电机。

申请人：湖北省交通规划设计院股份有限公司

地址：430051 湖北省武汉市汉阳区龙阳大道7号

国籍：CN

代理机构：武汉宇晨专利事务所

代理人：王敏锋

本文发布于:2024-09-22 17:32:15，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.17tex.com/tex/4/414080.html

上一篇：一种遥感影像隐伏地质构造信息提取方法[发明专利]

下一篇：录井参数三维地质模型建立方法[发明专利]