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测试天线阵列产生的涡旋波的纯度的方法和装置[发明专利]

专利名称：测试天线阵列产生的涡旋波的纯度的方法和装置专利类型：发明专利

发明人：黄善国，高欣璐，马景灿，宋锡耀，郑桢楠

申请号：CN201911370023.0

申请日：20191226

公开号：CN111141952A

公开日：

20200512

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明公开了一种测试天线阵列产生的涡旋波的纯度的方法和装置，所述方法包括：根据垂直接收的天线阵列产生的涡旋波，生成涡旋波幅度图像；对所述涡旋波幅度图像利用涡旋波的OAM谱分析方法，得到每种模态分量涡旋波的幅值；根据每种模态分量涡旋波的幅值，计算出所述天线阵列产生的目标涡旋波的纯度。应用本发明可以实现对天线阵列产生的涡旋波的纯度的测试，便于对生产的天线阵列是否达到标准做出准确分析。

申请人：北京邮电大学

地址：100876 北京市海淀区西土城路10号

国籍：CN

代理机构：北京风雅颂专利代理有限公司

代理人：李翔

本文发布于:2024-09-23 17:22:25，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.17tex.com/tex/4/408124.html

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