x射线荧光光谱测试参数

X射线荧光光谱测试参数
X射线荧光光谱测试的参数主要包括:
1. 激发源:通常采用X射线管来产生高能量的X射线。
2. 荧光探测器:用于检测样品发出的荧光,常见的有闪烁计数器和半导体探测器等。
3. 分析器:用于改变X射线的传播方向,以便于检测样品不同深度的元素。
4. 扫描速度:指单位时间内样品扫描的范围,扫描速度越快,扫描的范围越大。
5. 定量分析参数:元素的荧光X射线强度与试样中该元素的含量成正比,可以根据这个关系采用标准曲线法、增量法、内标法等进行定量分析。
>x射线探测器

本文发布于:2024-09-24 01:14:14,感谢您对本站的认可!

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