器件多SITE测试与抽测/环测应用方案作者：余泽勇来源：《硅谷》2012年第03期 摘 要： 为控制测试成本，提升测试效率，系统阐述多SITE测试必备的硬件和软件资源，相关设置及多SITE打点错位故障问题的解决方案，在此基础上结合抽测/环测测试方法，进一步提升测试效率。 关键词： 测试机；探针台；多SITE测试；抽测；环测；GPIB卡 中图分类号：TM912 文献标识码：A 文章编号：1671－7597（2012）0210042－02
0 引言
现在器件测试受利润影响，对测试效率和测试成本提出了更高的要求，在这个前题下，4SITE和8SITE等多SITE测试得到了全面应用；器件多SITE测试需要测试机与探针台配套使 用；测试机使用GPIB接口控制探针台走位，探针台先将测试结果保存在RAM内，测完后从RAM调用测试结果进行打点。如果采用多SITE测试的同时结合抽测+环测的方法测试效率提升就更明显了。
1 测试机设置
测试机使用我们公司自行研发生产的D200/D340/D280系列测试机，需要在电脑加装GPIB卡及相应软件，D200测试机主要用于4SITE测试，D340/D280测试机主要用于8SITE测试。以D340测试机为例来说明如何实现多SITE测试，测试机必须已经安装GPIB卡并且装好配套软件，启动D340测试机软件后单击软件[系统]菜单栏，在出现的下拉菜单中单击[多测位设置]，见下图，选4Site或8Site测试方案。
2 探针台设置
配套使用的EG2001X或者EG2010X针台为例说明如何实现多SITE测试，探针台需要进行相应的设置，具体如下：
2.1 设置通讯模式
2.1.1 通讯模式设为ENHANCE（[MODE B]→[7]→[1]）
>测试探针
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